【技术实现步骤摘要】
一种LED荧光粉表面二维温度分布的测试方法
[0001]本专利技术涉及光电照明与显示领域,尤其涉及一种LED荧光粉表面二维温度分布的测试方法。
技术介绍
[0002]荧光材料被广泛地应用于半导体照明与显示领域。目前,荧光材料主要包括稀土荧光粉、量子点荧光粉等。荧光粉性能的好坏关系到发光器件(LED)的稳定性和可靠性。在荧光粉诸多性能中,热性能是一个非常关键的性能,而温度是反映热性能的重要指标。温度升高不仅会造成荧光粉发光效率降低(即热猝灭),也会降低发光LED的寿命和可靠性。因此,准确表征荧光粉的温度及其二维甚至多维空间分布是反映器件性能好坏并指导器件性能改善的关键。
[0003]当前可用于表征荧光粉的表面温度的方法主要是微型热电偶法和红外热成像法。微型热电偶通过表面接触荧光粉或半导体芯片来取得温度,是一种接触式的方法,但它容易破坏器件本身。红外热成像法通过校准材料的发射率,来获取荧光粉表面的热场分布。但是红外热成像法分辨率不够高,而且只能测试表面相对平整的样品的表面二维温度分布。对于荧光粉涂敷的LED,其形状往往不 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED荧光粉表面二维温度分布的测试方法,其特征在于包括以下步骤:1)将荧光粉涂敷型LED放置在控温台上,控制控温台的温度至少取3个温度点,同时给样品通以小电流点亮,避免自热效应的发生;2)通过高倍数显微镜对测试样品进行聚焦,然后通过光纤光谱仪结合高倍显微镜收集荧光粉或荧光粉硅胶混合物表面每个像素点的光谱,并计算每个像素点可见光波长[λ1,λ2]范围内的归一化荧光粉光谱,获取每个像素点归一化光功率;3)通过对多组温度下的多个...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭自泉,李智慧,朱方圆,陈慧敏,杨宸,吕毅军,陈忠,
申请(专利权)人:厦门大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。