高频中心孔径跟踪制造技术

本发明专利技术涉及一种在相关光学记录载体上进行径向跟踪的光学系统。该光学系统包含至少一个射线发射装置，所述射线发射装置能够发射至少三条光束：用于读取和／或记录信息的第一光束，和用于跟踪的至少第二光束和第三光束。所述光学系统适合于由基于第二和第三光束的中心孔径信号的高频分量生成的跟踪误差信号进行第一光斑的径向跟踪。跟踪误差信号可以是基于中心孔径信号的高频分量的功率的ＤＣ电平的差信号生成的。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于再现相关光学记录载体上的光学可读效应(effect )和/或在相关光学记录载体上记录光学可读效应并且在光学记 录载体上进行径向跟踪的光学系统。本专利技术此外还涉及一种跟踪光学系 统的光束的方法，而且本专利技术还涉及一种实现该方法的软件，并且涉及 一种用于生成跟踪信号的单元。为了满足信息存储容量和速度不断增高的要求，可以得到的光学介 质，例如光盘(CD)、数字通用盘(DVD)和蓝光盘(BD),在存储容量 以及读取和记录速度方面表现出连续不断的提升。在满足推动存储手段 得到改进的要求的过程中，还需要改进跟踪方法。传统上，径向跟踪是通过监测径向跟踪误差信号的DC值(低频部分) 来完成的。在公开日本专利申请JP2002-216378中，公开了一种跟踪误差 检测装置，其中跟踪误差信号是通过从包括排列成沟槽曲折(meander) 结构的轨道的介质上反射回来的子光束的高频推挽信号来检测的。基于推挽信号的径向跟踪可能会遇到光束着陆问题，即，与因检测 器相对于碰撞光束偏离中心而造成的推挽信号偏差有关的问题；而沟槽 曲折结构可能会妨碍轨道间距的缩短。本专利技术的专利技术人已经意识到，用来改善径向跟踪的手段是4艮有益的， 因而作出了本专利技术。本专利技术寻求改善光学存储系统的跟踪性能。最好，本专利技术单独地或 以任何组合形式减轻、緩解或消除上述或其它缺点之一或其中多个。由此，在一个方面，给出了一种用于再现和/或记录沿着相关光学记 录载体上的轨道排列的光学可读效应的光学系统，该系统包括-至少一个射线发射装置，该射线发射装置能够发射-第一光束和相应的第一光斑，用于读取和/或记录载体内作为可 读j丈应的4言息，和-至少第二光束和第三光束以及相应的第二和第三光斑，第二光斑 相对于第一光斑沿着第一方向位移，并且第三光斑相对于第一光斑沿着第二方向位移，-光电检测器，该光电检测器能够检测从光学记录载体反射回来的 射线，其中，所述光学系统适合于由基于从第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔径信号(CA)的高频(HF)分量生成的跟踪误差信号进行第 一光斑的径向跟踪。该光学系统可以是用在诸如CD播放器、DVD播放器、BD播放器、光学 计算机设备之类的设备中的光学系统。该光学系统包括至少 一个射线源。 该射线源可以是至少一个射线发射装置，所述射线发射装置能够发射至 少三条光束 一条用于从/向数据载体中读取和/或记录数据的光束，和 两条用于生成径向跟踪信号的光束(第二和第三光束)。第二和第三光 束不必专门用于跟踪的用途，而且也可以例如用于再现数据。本专利技术主 要致力于从/向上面已经包含数据的数据载体中读取和/或记录信息，因 为第 一 光斑的跟踪是通过CA信号的HF分量获得的。数据的记录可以例如 是在直接重写(D0W)的情形下进行的，在直接重写中，在单独一次行经 数据轨道的过程中，由新的数据替换旧的数据。不过，本专利技术也适合应 用于在记录的情形下对空白载体的跟踪，只要可以从载体上读取出HF 信号，例如从预先形成在盘上的数据或跟踪标记中读取。按照第 一个方面，本专利技术尤其但非专门地由于几个原因而具有优势。 第一个优势在于，通过基于从第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔 径信号(CA信号)的高频分量来生成跟踪误差信号，可以给出处于与聚 焦误差信号不同的频率域中的跟踪误差信号，因为聚焦误差信号是低频 信号。这样就能够消除或者至少减少与聚焦和跟踪误差信号的串扰相关 的问题，从而给出了更加稳定的系统。另一个优势在于，通过使跟踪误 差信号基于CA信号，可以避免或至少减少与光束着陆相关的问题。这个 方面中的另一个优势在于，可以避免分裂光电检测器。在使用推挽跟踪 时，需要用到分裂光电检测器。不过，应当注意，可以为了其它的目的 将光电检测器分裂开，比如聚焦跟踪，因此这一优势可以是避免了将不 同的区段分成两半地接在一起以及随之而来的电路。再另 一个优势在于， 该光学系统可以适用于单轨道读取以及多轨道读取，从而提供了通用的 系统。权利要求2和3中定义的可选特征对于在使用第一光束来进行数据读取、而第二和第三光束是跟踪光束的实施方式中生成跟踪误差信号来说 是很有益处的。权利要求4中定义的可选特征对于在使用至少第一、第二和第三光束 来进行数据读取、同时使用第二和第三光束来进行第一光束的径向跟踪 的实施方式中生成跟踪误差信号来说是;f艮有益处的。权利要求5和6中定义的可选特征是很有益处的，因为通过使跟踪误 差信号基于中心孔径信号的高频分量的功率的差信号或功率的DC电平的 差信号，生成在跟踪循环电路中使用的跟踪误差信号不需要或者仅仅需 要很少的信号处理，从而提供了稳定和节约成本的系统。按照本专利技术的第二个方面，给出了一种用于生成跟踪误差信号的单 元，该单元包才舌-用于与能够检测从相关光学记录载体反射回来的射线的一个或多 个光电检测器连接的输入部分，该输入部分接收代表入射在光电检测器 上的射线的输入信号，所述输入信号包括-代表第一入射光束的第一信号，该第一入射光束是用于读取和/ 或记录载体中作为可读效应的信息的光束，-代表至少第二入射光束和第三入射光束的至少第二和第三信号， 所述至少第二和第三入射光束相对于第一光束在相关载体上沿着第一和 第二方向位移，-用于输出跟踪信号的输出部分，和-处理单元，用于基于所检测到的反射射线生成跟踪误差信号，其中，所迷跟踪误差信号适合于第一光束的径向跟踪，该跟踪误差 信号是基于在所述输入部分输入的、第二和第三入射光束的射线的中心 孔径信号的高频分量生成的。本专利技术的这个方面的优势尤其但非专门地在于，本专利技术可以在某些 公知的光学系统中实现，从而改变了公知系统的操作，于是仅由公知系 统的微小变化就可以使该系统的操作与本专利技术的各个不同方面一致。在第三个方面，本专利技术涉及 一 种操作按照本专利技术的第 一 个方面的光 学系统的方法，其中在一种使用情形下，跟踪是通过使用基于从相关载 体反射回来的射线的中心孔径信号的高频分量的跟踪误差信号来进行 的。在第四个方面，本专利技术涉及可在计算硬件上执行用以实现按照第三方面的方法的软件。本专利技术的这个方面的优势尤其但非专门地在于，通过在控制光学系 统的操作的计算硬件中实现第三个方面的方法，本专利技术可以在某些公知 的光学系统中实现。在公知系统中实现可以是与按照本专利技术的第二个方 面的单元的实现同时完成的。总地来说，在本专利技术的范围之内，可以以任何可行的方式将本专利技术 的各个不同方面组合和结合起来。参照下文中介绍的实施方式，将会了 本专利技术的这些和其它方面、特征和/或优点，并且将会参照下文介绍的实 施方式阐述本专利技术的这些和其它方面、特征和/或优点。现在将参照附图仅以举例的方式介绍本专利技术的实施方式，其中 附附图说明图1示意性地图解说明光学系统和相关载体的实施方式， 附图2表示HF信号作为单个光斑在载体上的径向位移的函数的示意 性图解说明。附图3示意性地图解说明在使用两个側光斑(side spot)的情形下 作为径向位移的函数的HF信号。附图4示意性地图解说明将CA信号转换成代表CA信号的HF含量的DC信号的方法，附图5图解说明示意性的跟踪误差信号，和附图6示意性地图解说明对具有元轨道结构的载体进行跟踪的情形。在附图l中示意性地图解说明了光学系统1和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学系统（１），用于再现和／或记录沿着相关光学记录载体（１０）上的轨道（１９，６０）排列的光学可读效应（１８），该系统包括：－至少一个射线发射装置（５），该射线发射装置能够发射－第一光束（１２）和相应的第一光斑（１２０），用于读取和／或记录载体内的作为可读效应的信息，和－至少第二光束（１１）和第三光束（１３）以及相应的第二和第三光斑（１１０，１３０），第二光斑相对于第一光斑沿着第一方向（３５）位移，并且第三光斑相对于第一光斑沿着第二方向（３６）位移，－光电检测器（４），该光电检测器能够检测从光学记录载体反射回来的射线，其中，所述光学系统适合于由基于从第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔径信号（４００）的高频分量生成的跟踪误差信号（５００）进行第一光斑的径向跟踪。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2005-8-22 05107687.51.一种光学系统(1)，用于再现和/或记录沿着相关光学记录载体(10)上的轨道(19，60)排列的光学可读效应(18)，该系统包括-至少一个射线发射装置(5)，该射线发射装置能够发射-第一光束(12)和相应的第一光斑(120)，用于读取和/或记录载体内的作为可读效应的信息，和-至少第二光束(11)和第三光束(13)以及相应的第二和第三光斑(110，130)，第二光斑相对于第一光斑沿着第一方向(35)位移，并且第三光斑相对于第一光斑沿着第二方向(36)位移，-光电检测器(4)，该光电检测器能够检测从光学记录载体反射回来的射线，其中，所述光学系统适合于由基于从第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔径信号(400)的高频分量生成的跟踪误差信号(500)进行第一光斑的径向跟踪。2. 按照权利要求l所述的光学系统，其中，第二和第三光斑沿着与 轨道的延伸方向垂直的方向发生的位移的大小是相邻轨道之间的间距的 分数。3. 按照权利要求2所述的光学系统，其中，所述分数是相邻轨道之 间间距的1/4。4. 按照权利要求l所述光学系统，适合于在一包括以一个或多个螺 旋排列在轨道(60)中的可读效应的相关光学记录载体上进行跟踪，所 述一个或多个螺旋由保护带分隔开，其中第二光斑(64)位于与第一保 护带(61 )相邻的轨道上，并且其中第三光斑()位于与第二保护带(62)相邻的轨道上。5. 按照权利要求l所述的光学系统，其中，跟踪误差信号是基于从 第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔径信号的高频分量的功率的差 信号生成的。6. 按照权利要求l所述的光学系统，其中，跟踪误差信号是基于从 第二和第三光斑反射回来的射线的中心孔径信号的高频分量的功率的DC 电平(403)的差信号生成的。7....

【专利技术属性】
技术研发人员：AM范德李，DM布鲁尔斯，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[]