用于测算近红外光线数值孔径的检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置，包括光线发射器、光线接收器、设置在光线发射器和光线接收器之间的光线定位器、控制器及固定架，光线发射器内设置有不可见光源，光线接收器包括感测部和显示区，固定架包括导轨、及设置在导轨上且可沿导轨滑动的滑动座，导轨为磁铁线圈，光线定位器向下延伸形成有与导轨接触的磁条，光线定位器接收光线发射器所发出的光线并将该光线投射至光线接收器的感测部，控制器根据感测部所检测到的光线判断所检测到的光线的直径W，控制器根据磁铁线圈与磁条的接触判断光线定位器与光线接收器距离L，控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源所发出的光线的数值孔径。

【技术实现步骤摘要】
用于测算近红外光线数值孔径的检测装置
本专利技术涉及一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置。
技术介绍
近年来，红外测温技术在被普遍用在产品质量控制和检测、设备线上故障诊断和安全保障等方便。目前非接触式红外线测温仪在技术上得到迅速发展，性能不断提高，适用范围不断扩大。比起接触式测温方法，红外测温具有响应时间快、非接触式、使用安全剂使用寿命长等优点。近年来，光线新材料的发展迅速，在低损耗特性、低色散及较宽波段(2μm以上)都有重大突破，光线的应用也从可见光波段扩展至红外线波段(即不可见光)。以红外光线光线做影像信号传输时，可以达到许多其他传输方式所无法到达的目的，例如可以作为：红外线二维影像传输、高功率镭射传输、辐射量度及红外线快速侦测有害化学物质等；光线传递影像有以下的几个优点：1、价格低廉；2、安全、体积小、重量轻；3、省电、绝缘、耐电磁杂音、耐高压、耐高温计腐蚀，可工作于特殊环境；4、灵敏度高；5、几何形状可依环境要求调整。但是，在现有技术中所应用的光电检测装置仅能检测可见光线，无法检测近红外光线。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的是提供一种可测算不可见光线的数值孔径的用于测算近红外光线数值孔径的检测装置。本专利技术的一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置，包括光线发射器、光线接收器、设置在光线发射器和光线接收器之间的光线定位器、与所述光线接收器连接的控制器及用以支撑光线发射器、光线接收器、光线定位器的固定架，所述光线发射器内设置有可发出不可见光线的不可见光源，所述光线接收器包括感测部和显示区，所述固定架包括导轨、及设置在导轨上且可沿导轨滑动的滑动座，所述导轨为磁铁线圈，所述光线定位器向下延伸形成有与所述导轨接触的磁条，所述磁条、磁铁线圈与控制器连接以形成闭合回路，所述光线发射器固定在滑动座上，所述光线定位器固定在光线发射器上，所述光线定位器接收光线发射器所发出的光线并将该光线投射至光线接收器的感测部，所述控制器根据感测部所检测到的光线判断所检测到的光线的直径W，所述控制器根据磁铁线圈与磁条的接触判断光线定位器与光线接收器距离L，所述控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源所发出的光线的数值孔径。进一步的，所述检测装置还包括设置在光线发射器与光线定位器之间的光线调整器，所述光线调整器具有与光线发射器耦合的耦合部和将经过光线耦合器的光线导入至光线定位器的对接部。进一步的，所述光线接收器还包括位移控制部，所述位移控制部用以控制感测部移动。进一步的，所述感测部为呈竖直延伸的杆体，所述位移控制部为设置在杆体上的把手。进一步的，所述位移控制部上设置有圆心定位块。进一步的，所述光线发射器内还设置有发出可见光线的可见光源。进一步的，所述导轨上设置有刻度标记。进一步的，所述导轨上设置有限位块，所述限位块和光线接收器相对设置在导轨的两端。借由上述方案，本专利技术至少具有以下优点：通过控制器根据感测部所检测到的光线判断所检测到的光线的直径W，通过控制器根据磁铁线圈与磁条的接触判断光线定位器与光线接收器距离L，然后由控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源所发出的光线的数值孔径，从而实现测算不可见光线的数值孔径。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。附图说明图1是本专利技术用于测算近红外光线数值孔径的检测装置的结构示意图；图2是图1中的部分结构图。具体实施方式下面结合附图和实施例，对本专利技术的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本专利技术，但不用来限制本专利技术的范围。参见图1和图2，本专利技术一较佳实施例所述的一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置包括光线发射器1、光线接收器2、设置在光线发射器1和光线接收器2之间的光线定位器3、与所述光线接收器2连接的控制器4及用以支撑光线发射器1、光线接收器2、光线定位器3的固定架5。所述光线发射器1内设置有可发出不可见光线10的不可见光源11。所述光线接收器2包括感测部21和显示区(未图示)。所述固定架5包括导轨51、及设置在导轨51上且可沿导轨51滑动的滑动座52，所述导轨51为磁铁线圈，该导轨51上设置有刻度标记(未标号)。所述光线定位器3向下延伸形成有与所述导轨51接触的磁条31，该磁条31、磁铁线圈51与控制器4连接以形成闭合回路，从而通过控制器4算出磁条31在磁铁线圈51上的位置，进而确定光线定位器3与光线接收器2之间的距离。所述光线发射器1固定在滑动座52上，所述光线定位器3固定在光线发射器1上，所述光线定位器3接收光线发射器1所发出的光线10并将该光线10投射至光线接收器2的感测部21。所述控制器4根据感测部21所检测到的光线10判断所检测到的光线10的直径W，所述控制器4根据磁铁线圈与磁条31的接触判断光线定位器3与光线接收器2距离L，所述控制器4根据公式W/2L计算出该不可见光源11所发出的光线10的数值孔径。作为本专利技术的进一步改进，所述检测装置还包括设置在光线发射器1与光线定位器3之间的光线调整器6，所述光线调整器6具有与光线发射器1耦合的耦合部61和将经过光线耦合器的光线10导入至光线定位器3的对接部62。作为本专利技术的进一步改进，所述光线接收器2还包括位移控制部22，所述位移控制部22用以控制感测部21移动。所述感测部21为呈竖直延伸的杆体，所述位移控制部22为设置在杆体21上的把手。所述位移控制部22上设置有圆心定位块23。通过该位移控制部22调节感测部21移动，以调节感测部21的校正位置，减小测算偏差，而圆心定位块23的目的在于便于校正定位。作为本专利技术的进一步改进，所述光线发射器1内还设置有发出可见光线的可见光源(未图示)，该结合该可见光线从而便于感测部21的校正定位。作为本专利技术的进一步改进，所述导轨51上设置有限位块，所述限位块53和光线接收器2相对设置在导轨51的两端。综上所述，通过控制器4根据感测部21所检测到的光线10判断所检测到的光线10的直径W，通过控制器4根据磁铁线圈51与磁条31的接触判断光线定位器3与光线接收器2距离L，然后由控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源11所发出的光线的数值孔径，从而实现测算不可见光线10的数值孔径。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，并不用于限制本专利技术，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置，其特征在于：包括光线发射器、光线接收器、设置在光线发射器和光线接收器之间的光线定位器、与所述光线接收器连接的控制器及用以支撑光线发射器、光线接收器、光线定位器的固定架，所述光线发射器内设置有可发出不可见光线的不可见光源，所述光线接收器包括感测部和显示区，所述固定架包括导轨、及设置在导轨上且可沿导轨滑动的滑动座，所述导轨为磁铁线圈，所述光线定位器向下延伸形成有与所述导轨接触的磁条，所述磁条、磁铁线圈与控制器连接以形成闭合回路，所述光线发射器固定在滑动座上，所述光线定位器固定在光线发射器上，所述光线定位器接收光线发射器所发出的光线并将该光线投射至光线接收器的感测部，所述控制器根据感测部所检测到的光线判断所检测到的光线的直径W，所述控制器根据磁铁线圈与磁条的接触判断光线定位器与光线接收器距离L，所述控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源所发出的光线的数值孔径。

【技术特征摘要】
1.一种用于测算近红外光线数值孔径的检测装置，其特征在于：包括光线发射器、光线接收器、设置在光线发射器和光线接收器之间的光线定位器、与所述光线接收器连接的控制器及用以支撑光线发射器、光线接收器和光线定位器的固定架，所述光线发射器内设置有可发出不可见光线的不可见光源，所述光线接收器包括感测部和显示区，所述固定架包括导轨、及设置在导轨上且可沿导轨滑动的滑动座，所述导轨为磁铁线圈，所述光线定位器向下延伸形成有与所述导轨接触的磁条，所述磁条和磁铁线圈与控制器连接以形成闭合回路，所述光线发射器固定在滑动座上，所述光线定位器固定在光线发射器上，所述光线定位器接收光线发射器所发出的光线并将该光线投射至光线接收器的感测部，所述控制器根据感测部所检测到的光线判断所检测到的光线的直径W，所述控制器根据磁铁线圈与磁条的接触判断光线定位器与光线接收器的距离L，所述控制器根据公式W/2L计算出该不可见光源所发出的光线的数值孔径。2.根据权利要求1所述的用于测算近红外光线数值孔径的检测装置，其特征在于：所述检测装置还包括设置在光线发射器与光线定位器之间的光线调整器，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑钢，刘耀光，于涛，
申请(专利权)人：苏州优谱德精密仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32