影像感测系统以及缺陷感光元件侦测以及修正方法技术方案

一种影像感测系统以及缺陷感光元件侦测以及修正方法。高效进行缺陷感光元件侦测以及修正的影像感测系统。运算单元自影像感测器感测的一第一帧得出一缺陷像素候选，并根据该第一帧对该缺陷像素候选进行下半部比对，再根据影像感测器感测的一第二帧，对该缺陷像素候选进行上半部比对，以结合该第一帧与该第二帧判断该缺陷像素候选是否确实有缺陷。该运算单元将该第一帧中，该缺陷像素候选所在行的多个像素数据缓存于一缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的下半部比对使用。该运算单元将该第二帧中，该缺陷像素候选一上方行的多个像素数据缓存于该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的上半部比对使用。对使用。对使用。

【技术实现步骤摘要】
影像感测系统以及缺陷感光元件侦测以及修正方法


[0001]本案是有关于影像感测器的缺陷感光元件的侦测以及修正。

技术介绍

[0002]影像感测器(例如，CMOS影像感测器)可能有感光元件在出厂时就带有缺陷(defect)，对光的反应程度与周围感光元件有明显差异。甚至，某些感光元件可能只固定输出亮阶、或暗阶。以上缺陷也有可能是在出厂后，外在环境所致。例如，某些感光元件可能是因为老化而产生缺陷。感光元件缺陷会对影像整体画质造成影响。
[0003]通过多个像素之间的比对，感光元件的缺陷可被侦测出，再基于周边像素的感光结果进行修正。传统技术通常是特别规划行缓存器(line buffer)逐行暂存像素数据，以提供缺陷像素侦测与修正所需的大量周边像素数据。甚至，某些技术会用到多条行缓存器，成本相当可观。

技术实现思路

[0004]本案提出一种低成本的缺陷感光元件侦测与修正技术，其中不使用大尺寸的行缓存器(line buffer)。缓存器需求以及耗电量都明显下降。
[0005]根据本案一种实施方式所实现的一影像系统包括一运算单元以及耦接该运算单元的一缺陷缓存器。该运算单元自一影像感测器感测的一第一帧得出一缺陷像素候选，并根据该第一帧对该缺陷像素候选进行下半部比对，再根据该影像感测器感测的一第二帧，对该缺陷像素候选进行上半部比对，以结合该第一帧与该第二帧判断该缺陷像素候选是否确实有缺陷。该运算单元将该第一帧中，该缺陷像素候选所在行的多个像素数据缓存于该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的下半部比对使用。该运算单元将该第二帧中，该缺陷像素候选一上方行的多个像素数据缓存于该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的上半部比对使用。
[0006]一种实施方式中，该运算单元更为该缺陷像素候选在该缺陷缓存器缓存：一缺陷标志，标示该缺陷像素候选为亮点或暗点；一缺陷位置，记录该缺陷像素候选的位置；以及多个像素数据，记录该第一帧中，该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，或由该第二帧中，该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据覆盖。
[0007]一种实施方式中，处理该第一帧时，该运算单元根据一目标像素所在行的多个相邻像素，判断该目标像素是否为上述缺陷像素候选，若是，该运算单元将该目标像素以及所述多个相邻像素的像素数据存入该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的下半部比对使用。
[0008]一种实施方式中，处理该第一帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像素是否位于该缺陷像素候选的下方，若是，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第一帧中、该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，结合该目标像素所在行的多个像素数据，进行该缺陷像素候选的下半部比对。
[0009]一种实施方式中，处理该第二帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像
素是否位于该缺陷像素候选的上方，若是，该运算单元将该目标像素所在行的多个像素存入该缺陷缓存器，覆盖该第一帧中、该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，供该缺陷像素候选的上半部比对使用。
[0010]一种实施方式中，处理该第二帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像素是否为该缺陷像素候选，若是，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第二帧中、该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据，结合该目标像素所在行的多个像素数据，进行该缺陷像素候选的上半部比对。
[0011]一种实施方式中，经该缺陷像素候选的上半部比对判定该缺陷像素候选有缺陷时，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第二帧中、该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据，结合该目标像素所在行的多个相邻像素的像素数据，根据该缺陷像素候选的一缺陷标志进行缺陷像素修正。
[0012]一种实施方式中，该第一帧之前，该缺陷缓存器已针对一缺陷像素进行缓存。处理该第一帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，在处理到该缺陷像素的一上方像素时，将该上方像素所在行的多个像素数据存入该缺陷缓存器。该运算单元处理到该第一帧的该缺陷像素时，自该缺陷缓存器取得该上方像素所在行的所述多个像素数据，结合该缺陷像素所在行的多个像素数据，根据该缺陷像素的一缺陷标志进行缺陷像素修正。
[0013]一种实施方式中，影像感测系统还包括：一缺陷像素侦测与修正电路，包括该运算单元以及该缺陷缓存器；以及耦接该缺陷像素侦测与修正电路的一影像处理器，设定该影像感测器的曝光时间后，再设定该影像感测器的曝光增益。该缺陷像素侦测与修正电路以该运算单元处理的该第一帧以及第二帧，是在该影像感测器设定下，是以相同曝光时间以及相同曝光增益自该影像感测器取得。
[0014]一种实施方式中，影像感测系统还包括该影像感测器，耦接该缺陷像素侦测与修正电路后再耦接该影像处理器。
[0015]前述影像感测系统更可用于实现缺陷感光元件侦测以及修正方法。
[0016]下文特举实施例，并配合所附图示，详细说明本
技术实现思路
。
附图说明
[0017]图1为根据本案一种实施方式实现的一影像感测系统100；
[0018]图2对应功能方块112，当下处理行是第一帧像素G6所在；
[0019]图3对应功能方块114，当下处理行是第一帧像素G11(此时的目标像素)所在；
[0020]图4对应功能方块116的前置工作，当下处理行是第二帧像素G1(此时的目标像素)所在；
[0021]图5对应功能方块116，当下处理行是第二帧像素G6(此时的目标像素)所在；
[0022]图6A以及图6B对早前侦测中已确认为缺陷的感光像素举例说明修正方法；
[0023]图7为流程图，对应功能方块112，根据第一帧判断出缺陷像素候选；
[0024]图8为流程图，对应功能方块114，在第一帧对缺陷像素候选进行下半部比对；
[0025]图9为流程图，对应功能方块116的前置工作，以第二帧像素数据更新缺陷缓存器110内容；
[0026]图10为流程图，对应功能方块116的比对功能，在第二帧对缺陷像素候选进行下半
部比对；且
[0027]图11为时序图。
[0028]【符号说明】
[0029]100～影像感测系统；
[0030]102～影像感测器；
[0031]104～缺陷像素侦测与修正电路；
[0032]106～影像处理器；
[0033]108～运算单元；
[0034]110～缺陷缓存器；
[0035]112、114、116、118～功能方块；
[0036]202～缺陷标志(如，亮/暗点标志)；
[0037]204～缺陷位置(如，G6位置)；
[0038]206～像素数据(如，第一帧的像素数据G5、G6以及G7、或第二帧的像素数据G0、G1以及G2)；
[0039]S702
…
S708、S802
…
S810、S902
…
S908、S1002
…
S1010～步骤。
具体实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种影像感测系统，其特征在于，包括：一运算单元，自一影像感测器感测的一第一帧得出一缺陷像素候选，并根据该第一帧对该缺陷像素候选进行下半部比对，再根据该影像感测器感测的一第二帧，对该缺陷像素候选进行上半部比对，以结合该第一帧与该第二帧判断该缺陷像素候选是否确实有缺陷；以及一缺陷缓存器，耦接该运算单元，其中：该运算单元将该第一帧中，该缺陷像素候选所在行的多个像素数据缓存于该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的下半部比对使用；且该运算单元将该第二帧中，该缺陷像素候选一上方行的多个像素数据缓存于该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的上半部比对使用。2.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于，该运算单元更为该缺陷像素候选在该缺陷缓存器缓存：一缺陷标志，标示该缺陷像素候选为亮点或暗点；一缺陷位置，记录该缺陷像素候选的位置；以及多个像素数据，记录该第一帧中，该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，或由该第二帧中，该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据覆盖。3.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于：处理该第一帧时，该运算单元根据一目标像素所在行的多个相邻像素，判断该目标像素是否为上述缺陷像素候选，若是，该运算单元将该目标像素以及所述多个相邻像素的像素数据存入该缺陷缓存器，供该缺陷像素候选的下半部比对使用。4.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于：处理该第一帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像素是否位于该缺陷像素候选的下方，若是，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第一帧中、该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，结合该目标像素所在行的多个像素数据，进行该缺陷像素候选的下半部比对。5.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于：处理该第二帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像素是否位于该缺陷像素候选的上方，若是，该运算单元将该目标像素所在行的多个像素存入该缺陷缓存器，覆盖该第一帧中、该缺陷像素候选所在行的所述多个像素数据，供该缺陷像素候选的上半部比对使用。6.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于：处理该第二帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，判断一目标像素是否为该缺陷像素候选，若是，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第二帧中、该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据，结合该目标像素所在行的多个像素数据，进行该缺陷像素候选的上半部比对。7.根据权利要求6所述的影像感测系统，其特征在于：经该缺陷像素候选的上半部比对判定该缺陷像素候选有缺陷时，该运算单元自该缺陷缓存器，取得该第二帧中、该缺陷像素候选该上方行的所述多个像素数据，结合该目标像素
所在行的多个相邻像素的像素数据，根据该缺陷像素候选的一缺陷标志进行缺陷像素修正。8.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于：该第一帧之前，该缺陷缓存器已针对一缺陷像素进行缓存；处理该第一帧时，该运算单元检查该缺陷缓存器，在处理到该缺陷像素的一上方像素时，将该上方像素所在行的多个像素数据存入该缺陷缓存器；且该运算单元处理到该第一帧的该缺陷像素时，自该缺陷缓存器取得该上方像素所在行的所述多个像素数据，结合该缺陷像素所在行的多个像素数据，根据该缺陷像素的一缺陷标志进行缺陷像素修正。9.根据权利要求1所述的影像感测系统，其特征在于，还包括：一缺陷像素侦测与修正电路，包括该运算单元以及该缺陷缓存器；以及耦接该缺陷像素侦测与修正电路的一影像处理器，设定该影像感测器的曝光时间后，再设定该影像感测器的曝光增益，其中，该缺陷像素侦测与...

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊宏，
申请(专利权)人：晶相光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：