一次性写入光学记录介质及其缺陷管理信息的管理方法技术

本发明专利技术提供了一次性写入光学记录介质，用于分配所述一次性写入光学记录介质的缺陷管理区的方法，以及用于分配所述一次性写入光学记录介质的备用区的方法。这里提供的具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上的缺陷的管理方法包括下列步骤：分别分配至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学记录介质，将缺陷管理信息记录在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上；以及使用所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和所述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一次性写入光学记录介质，及用于管理所述一次性写 入光学记录介质的缺陷管理信息的方法及装置，并且具体的说涉及一 种用于分配临时缺陷管理区域的方法和装置、用于分配用于缺陷管理 的备用区域的方法以及一次性写入光学记录介质，在所述一次性写入 光学记录介质上，临时缺陷管理区域及备用区被分配在一种光学记录 介质如一次性写入蓝光光盘上。
技术介绍
光盘，作为一种光学记录介质，可以记录大量的数据，并且现得 以广泛使用。当前，正在幵发一种新颖的高密度数字多用途光盘(HD 一DVD)如蓝光光盘(Blu-ray Disc)。这种介质可以长时间记录和存 储高品质视频数据及高保真度的音频数据。蓝光光盘是下一代光学记录解决方案，可以比现有DVD存储更大 量的数据。蓝光光盘一般采用具有405nm波长的蓝一紫激光。该波长比在现 有DVD上使用的红色激光波长短。该红色激光的波长为650nm。蓝光 光盘具有1.2mm的厚度及12cm的直径，并包含具有大约O.lmm厚度 的光传输层。因此，蓝光光盘可以比现有DVD存储更大量的数据。入及读取数据的光盘装置如图1所 示。其包括光学拾取器11，其用于在光盘10上写入信号及从光盘 IO读取信号；视频光盘记录器(VDR)系统12，其用于将从光学拾取 器ll读出的信号处理成重播信号，或用于调制并处理外部输入的数据 流使其成为适合记录的记录信号；以及编码器13，其用于将外部输入 的模拟信号编码并输出编码的模拟信号至VDR系统12。蓝光光盘可以为可重写类型，此处称为蓝光可重写光盘(BD — RE) 。 BD — RE具有可重写能力，使得在其上可以反复写入、擦除及 重写视频及音频数据。BD — RE (如图2所示)分为导入区(LIA)、 数据区及导出区(LOA)，而所述数据区的前部及后部分配有内部备 用区(ISA)及外部备用区(OSA)。对如上述方式设置的BD — RE，如图1中所示的光盘装置的VDR 系统12编码并调制外部输入的信号成为适于记录的信号，并以对应错 误校正块单元的簇为单位来记录。如果当在BD — RE上记录数据时， 在数据区中出现缺陷区，那么根据线性替换操作，在所述缺陷区上记 录的一簇单元的数据也记录在所述备用区(例如，在BD —RE上的所 述内部备用区)上。可以执行一系列的线性替换操作。因此，所述光盘装置的VDR系统12将记录在缺陷区的簇单元的 数据记录在备用区上，即使缺陷区出现在可重写蓝光光盘的数据区中。 当对可重写蓝光光盘执行回放操作时，读出记录在备用区的数据并重 放，所以可以防止数据记录错误。与蓝光光盘相关的各种标准在开发之中。在这方面，其上数据不是重复重写的(非可重写)而只是一次性 写入的第二种蓝光光盘，在这里称为一次性写入蓝光光盘(BD — WO)。当不需要重复重写数据时，所述一次性写入蓝光光盘是有用的。在BD — WO中，需要管理缺陷区。因为在BD —RE上可以反复记录数据(BD — RE的特性使然)， 所以用于可重写蓝光光盘的缺陷管理区(DMA)的大小相对小(见图 2中DMA1 — DMA4)。反之，因为在一次性写入蓝光光盘上数据只记 录一次，所以对于BD — WO管理缺陷区所需的区域应当大于对于BD 一RE所需的区域。因此，对于BD — WO应当分配充分大的缺陷管理 区。用于BD — WO的有效的缺陷管理方法要求对于可应用到BD —RE 的标准的一致性和兼容性，包括涉及为在信息和数据的记录和重放中 获得更有效、更稳定及更高性能而记录和重放管理信息的一致性和兼 容性。因此，需要一种用于记录和管理BD — WO缺陷区及相关信息的 创新的方法、装置及结构。
技术实现思路
因此，本专利技术涉及一种一次性写入光学记录介质(BD — WO)及 其缺陷管理信息的管理方法，以及一种用于实现所述方法的装置，本 专利技术基本上避免一个或多个因所述现有技术的限制及缺点而引起的问题。本专利技术另外的优点、目标及特征将在下面的说明中部分地阐明， 本领域普通技术人员将根据对下述内容的验证或实践本专利技术，来部分 地明了或领会到本专利技术另外的优点、目标及特征。通过在书面说明和 权利要求以及附图中特别指出的结构，可以实现和得到本专利技术的目标 及其他优点。为实现这些目标和其他优点并根据本专利技术的目的，如在此处具体 和广泛地说明的，管理具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质上缺陷的方法包括如下步骤分别分配至少一个具有固定大小的临 时缺陷管理区和至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区至所述光学 记录介质，并在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或所 述至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上记录缺陷管理信息。在本专利技术另一方面，用于管理一次性写入光学记录介质上缺陷的 装置包括用于给所述光学记录介质分别分配至少一个具有固定大小 的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区的装 置，及用于在所述至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或所述 至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上记录缺陷管理信息的装 置。 .'在本专利技术另一方面，具有至少一个记录层的一次性写入光学记录介质包括至少一个具有固定大小的临时缺陷管理区及至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区，其中缺陷管理信息被记录在所述至少一 个具有固定大小的临时缺陷管理区和/或至少一个具有可变大小的临时缺陷管理区上。需理解，本专利技术的前述的一般说明及后面的详细说明都是示例性 和解释性的，并用来提供对如权利要求的本专利技术的进一步解释。附图说明从下面同附图一起给出的详细说明可以更全面理解本专利技术进一步 的目标及优势。附图中图1说明所述现有技术的光盘装置的示意结构； 图2说明BD — RE的记录区的结构；图3说明用于本专利技术的BD — WO的光盘装置的示意结构； 图4说明根据本专利技术实施例的光学记录介质的记录区的结构； 图5说明根据本专利技术另一实施例的光学记录介质的记录区的结构；图6说明本专利技术的临时或暂时缺陷管理区使用方法的实例；图7说明本专利技术的临时或暂时缺陷管理区使用方法的另一实例；图8说明本专利技术的临时或暂时缺陷管理信息构成方法的实例；图9说明本专利技术的临时或暂时缺陷管理信息构成方法的另一实例；图10说明根据本专利技术实施例的信息内容和TDDS的结构； 图11为本专利技术的DMA、 TDMA及IDMA的对比表。具体实施方式现将详细描述本专利技术优选实施例，其实例在附图中说明。在任何 可能情况，在全部附图中将使用同样的附图标记来表示同样或近似的 部分。参考图3，根据本专利技术的用于蓝光一次性写入光学记录介质的光 盘记录/再现装置20包括光学拾取器22，其用于将数据写入到光学 记录介质21 (如BD — WO)及从所述光学记录介质21中读取数据； 拾取器伺服单元23，其用于控制所述光学拾取器22来保持光学拾取器 22的物镜同所述光学记录介质21间的距离，并用于跟踪有关轨道；数 据处理器24，其用于处理并提供输入数据至所述光学拾取器22;接口 25，其用于同外部主机30交换数据；存储器27，其用于存储关于缺陷 管理的信息；及微型计算机26，其用于控制上述单元。所述装置20的 所有部分工作地连接。所述主机30被连接至用于将数据写入到光学记 录介质21及从光学记录介质21中读取数据的装置20的接口 2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在记录介质上记录管理信息的方法，所述记录介质具有至少一个临时缺陷管理区，所述方法包括：　　　　将缺陷管理信息记录在所述至少一个临时缺陷管理区中的一个上；和　　　　记录指示所述至少一个临时缺陷管理区中的哪个区域已满的指示信息。

【技术特征摘要】
KR 2003-2-21 10-2003-0010925;KR 2003-3-3 10-2003-01.一种在记录介质上记录管理信息的方法，所述记录介质具有至少一个临时缺陷管理区，所述方法包括将缺陷管理信息记录在所述至少一个临时缺陷管理区中的一个上；和记录指示所述至少一个临时缺陷管理区中的哪个区域已满的指示信息。2. 如权利要求l所述的方法，其中，所述指示消息包括分别对应 于所述至少一个临时缺陷管理区的至少一个指示标记，每个指示标记 指示是否临时缺陷管理区已满。3. 如权利要求l所述的方法，其中，以预定顺序使用所述至少一 个临时缺陷管理区以将所述缺陷管理信息记录在其中，并且将所述缺 陷管理信息记录在紧跟着被指示已满的临时缺陷管理区之后的临时缺 陷管理区中。4. 如权利要求l所述的方法，进一步包括-当所述至少一个缺陷管理区已满时，最终完成所述记录介质。5. 如权利要求4所述的方法，进一步包括当最终完成所述记录介质时，在记录介质的最终缺陷管理区上记 录最后更新的缺陷管理信息。6. 如权利要求l所述的方法，进一步包括-将所述至少一个临时缺陷管理区分配到所述记录介质的导入区和 数据区中的至少一个中。7. 如权利要求6所述的方法，进一步包括将至少一个备用区分配到所述记录介质的所述数据区中；和将所述至少一个临时缺陷管理区分配到所述记录介质的导入区和 所述至少一个备用区的至少一个中。8. —种用于管理记录介质上的缺陷的装置，所述记录介质具有至 少一个临时缺陷管理区，所述装置包括光学拾波器，该光学拾波器在所述记录介质上记录数据；和 控制器，该控制器被配置用于控制所述光学拾波器在所述至少一 个临时缺陷管理区中的一个上记录缺陷管理信息；并且控制所述光学 拾波器以记录指示所述至少一个临时缺陷管理区中的哪个区已满的指 不信息。9. 如权利要求8所述的装置，其中，所述控制器被配置用于控制 所述指示信息被记录为分别对应于所述至少一个临时缺陷管理区的至 少一个指示标记，每个指示标记指示是否临时缺陷管理区已满。10. 如权利要求8所述的装置，其中，所述控制器被配置用于控 制将以预定顺序使用的所述至少一个临时缺陷管理区，以将所述缺陷 管理信息记录在其中，并且控制所述光学拾波器以将所述缺陷管理信 息记录在被指示已满的临时缺陷管理区之后的临时缺陷管理区中。11. 如权利要求8所述的装置，其中，所述控制器被配置用于当 所有所述至少一个临时缺陷管理区已满时，控制所述记录介质被最终 完成。12. 如权利要求8所述的装置，其中，所述控制器被配置用于当 最终完成所述记录介质时，控制所述光学拾波器在所述记录介质的最 终缺陷管理区上记录最后更新的缺陷管理信息。13. 如权利要求8所述的装置，其中，所述控制器被配置用于将所述至少一个临时缺陷管理区分配到所述记录介质的导入区和数据区 中的至少一个中。14. 如权利要求13所述的装置，其中，所述控制器被配置用于将 所述至少一个备用区分配到所述记录介质的所述数据区中，其中，所 述控制器被配置用于将所述至少一个临时缺陷管理区分配到所述记录 介质的导入区和所述至少一个备用区的至少一个中。15. 如权利要求13所述的装置，进一步包括-数据存储器，该数据存储器被配置用于存储从所述至少一个临时 缺陷管理区中读取的所述缺陷管理信息。16. —种管理记录介质上的缺陷的方法，所述记录介质具有至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴容彻，金成大，
申请(专利权)人：LG电子株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]