光盘装置和光盘判别方法制造方法及图纸

一面对盘片照射激光、一面使物镜移动，测量聚焦误差信号的最大值ＦＥｍａｘ和最小值ＦＥｍｉｎ以及聚焦和信号的振幅最大值ＦＳｍａｘ，并将“（ＦＥｍａｘ－ＦＥｍｉｎ）／ＦＳｍａｘ”与判别值进行比较，判别盘片的类型。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及可对衬底厚度不同的光盘进行记录或再现的光盘装置。
技术介绍
在光盘装置中，可放置称为CD (Compact Disc:音频光盘)、DVD (Digital Versatile Disc:数字多用途光盘)、蓝光光盘(Blue-ray Disc)的各种盘片，进 行记录或再现。近年，出售使根据DVD标准记录视频信息等的DVD面，以反 射层为反方向的方式贴合在作为记录数字音频信息的音乐专用面的非DVD面 的相反面的双面盘片。此双面盘片的CD物理规格的衬底厚度公差最大值界限为1.5毫米(mm)，所 以为了抑制盘片厚度，构成DVD面的衬底厚度同样为0.6毫米，但非DVD面 的衬底厚度为0.9毫米，比通常的CD的衬底厚度1.2毫米薄。然而，与通常的 CD的不同的仅为所述衬底厚度差，所以光盘判别中，将双面盘片的非DVD面 当作CD进行判别。为了利用单一拾光器以光学方式对衬底厚度不同的这些盘片进行访问并作记录或再现，需要自动判别所放置的盘片是什么类型的盘片。以往，求出用聚 焦误差信号FE的振幅将因球面像差而发生的聚焦误差信号FE的S形信号对称 性失衡归一化的聚焦均衡值(对称性)，根据该值判别盘片类型；国际公开号 WO2003 / 063149、日本专利公开2002 —245639公报等中，利用下面的式1的 计算求出聚焦均衡值，将该值与基准值进行比较，以确定盘片类型。但是，上 述式1的FEmax和FEmin是聚焦误差信号FE的基准电平的相对值，所以用绝 对值的公式改写，则为下面的式2。(FEmax + FEmin) / (FEmax _ FEmin) ......式1(FEmax - FEmin) / (FEmax + FEmin) ......式2本专利技术以绝对值处理FEmax和FEmin，所以进行与本专利技术的比较时使用式 2。但是，相对值中FEmin必然为负，所以公式的结果为实质上相同的值。 具体而言，如图8所示那样构成这种光盘装置。拾光器1能对例如CD和DVD等不同类型的盘片2取得记录或再现信号， 具有半导体激光器3、汇聚透镜4、物镜5、偏振全息图6、跟踪检测用感光 单元7、聚焦检测用感光单元8。半导体激光器3受激光器控制单元9控制， 发出适当功率的激光。物镜5能响应来自促动器驱动单元10的驱动信号，分 别往聚焦方向和盘片径向移动，以便消除聚焦误差和跟踪误差。汇聚透镜4将 半导体激光器3照射的激光变换成平行光。通过汇聚透镜4的光由物镜5在光 盘上形成光斑。来自盘片2的反射光通过物镜5、汇聚透镜4，由偏振全息图6衍射成聚焦 检测用的反射光和跟踪检测用的反射光，并且由聚焦检测用感光单元8检测出 聚焦检测用的反射光。FE信号测量单元11将聚焦检测用感光单元8输出的聚焦误差信号的最大 值FEmaxl2和最小值FEminl3取为电压值和电流值等，进行测量。片判别单元14能将激光的焦点对合的位置的聚焦误差信号作为基准，根 据S形信号波形差异判别盘片类型。这里，根据FE信号测量单元ll测量的聚 焦误差信号的振幅的最大值FEmax和最小值FEmin并利用上述式1判别盘片 类型。控制单元15控制促动器驱动单元10、盘片判别单元14和激光器控制单元9。图9是图8所示光盘装置的光盘判别所涉及的流程图。在步骤S1对盘片2照射激光。与此同时，在步骤S2往聚焦方向驱动位于 拾光器1内的物镜5。在驱动物镜5的期间，步骤S3测量FE信号，步骤S4 将FE信号最大值存储为FEmax，步骤S5将FE信号最小值存储为FEmin。然后，步骤S6将FEmax与FEmin的绝对值之差与预定的判别值进行比较。步骤S6中，该差大于预定的判别值时，在步骤S7判别为所放置的盘片8 是CD，并且该差小于判别值时，在步骤S8判别为DVD。在这种已有的光盘装置中，由于盘片表面的伤痕或盘片表面上附着的尘埃 的影响造成的反射率偏差，盘片类型判断可靠性降低。 一面使盘片旋转、 一面 进行检测时，物镜与盘片的距离因盘片面晃动而变化，所以盘片类型判断可靠 性进一步降低。再有，在已有的光盘装置中，还将双面盘片的非DVD面判别为CD。因此，由于球面像差的影响，反射光模糊，信号质量变差，所以根据球面像差影响程 度的不同，存在能启动的情况和不能启动的情况，动作发生偏差。本专利技术的目的在于提供一种能作可靠性比以往高的盘片类型判断的光盘装 置和光盘判别方法。其目的还在于判别双面盘片的非DVD面，为此盘片专用进行伺服控制用的 校正，从而使启动动作和读取性能的可靠性提高。
技术实现思路
为了解决上述课题，本专利技术第1方面中所述的光盘装置，可对不同类型的盘片进行记录或再现，其中设置根据聚焦误差信号，检测出衬底厚度的衬底 厚度检测单元；以及对预先保持的值和所述衬底厚度检测单元得到的衬底厚度进行比较，并判别所述盘片的类型的盘片判别单元。本专利技术第2方面中所述的光盘装置是在第1方面中，构成盘片判别单元判 别为双面盘片的非DVD面时，排出盘片。本专利技术第3方面中所述的光盘装置是在第1方面中，具有对外部通知盘片 类型的盘片类型通知单元，并且构成盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD 面时，通过盘片类型通知单元对外部装置通知检测出双面盘片的非DVD面。本专利技术第4方面中所述的光盘装置是在第1方面中，具有通过物镜对盘片 照射激光的拾光器；利用来自所述盘片的反射光，检测出聚焦状态的聚焦检测 用感光单元；以及测量所述聚焦检测用感光单元产生的聚焦误差信号的振幅的 FES信号测量单元，并且构成盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD面时， 对所述聚焦检测用感光单元产生的聚焦误差信号加补偿。本专利技术第5方面中所述的光盘装置是在第l方面中，具有通过物镜对盘片照射激光的拾光器；往聚焦方向移动所述物镜的促动器；以及对所述促动器设 定增益的增益设定单元，并且构成所述盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD 面时，对所述增益设定单元加补偿。本专利技术第6方面中所述的光盘装置，可对不同类型的盘片进行记录或再现， 其中具有通过物镜对盘片照射激光的拾光器；往聚焦方向移动所述物镜的促 动器；利用来自所述盘片的反射光，检测出聚焦状态的聚焦检测用感光单元；测量所述聚焦检测用感光单元产生的聚焦误差信号的聚焦误差信号的振幅的FES信号测量单元；以及根据所述FES信号测量单元测量的振幅，判别所述盘片的盘片判别单元，并且构成利用所述促动器驱动单元将所述物镜靠近所述盘 片，使聚焦误差信号发生在所述盘片的信号面上激光焦点对合位置的前后，并使所述盘片判别单元在将所述聚焦误差信号的振幅的最大值取为FEmax，最小 值取为FEmin，聚焦和信号的振幅的最大值取为FSmax时，根据(FEmax -FEmin) / FSmax进行所述盘片的衬底厚度的判别。本专利技术第7方面中所述的光盘装置是在第6方面中，构成设置将输入信号 电平放大成目标电平的自动增益控制放大器，将通过设定成使从拾光器得到的 聚焦和信号的最大振幅值FSmax为目标电平的增益的所述自动增益控制放大 器放大后的聚焦误差信号的最大振幅值代入FEmax，并将最小振幅值代入 FEmin，进行盘片的衬底厚度判别。本专利技术第8方面中所述的光盘装置是在第6或第7方面中，构成根据 (FEmax - FEmin) / FSmax判本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光盘装置，可对不同类型的盘片进行记录或再现，其特征在于，设置：　　　　根据聚焦误差信号，检测出衬底厚度的衬底厚度检测单元；以及　　　　对预先保持的值和所述衬底厚度检测单元得到的衬底厚度进行比较，并判别所述盘片的类型的盘片判别单元。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】JP 2006-2-28 051407/2006;JP 2006-4-7 105757/20061、一种光盘装置，可对不同类型的盘片进行记录或再现，其特征在于，设置根据聚焦误差信号，检测出衬底厚度的衬底厚度检测单元；以及对预先保持的值和所述衬底厚度检测单元得到的衬底厚度进行比较，并判别所述盘片的类型的盘片判别单元。2、 如权利要求1中所述的光盘装置，其特征在于， 构成盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD面时，排出盘片。3、 如权利要求1中所述的光盘装置，其特征在于，具有对外部装置通知盘片类型的盘片类型通知单元，并且构成盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD面时，通过盘片类型通知单元 对外部装置通知检测出双面盘片的非DVD面。4、 如权利要求1中所述的光盘装置，其特征在于，具有 通过物镜对盘片照射激光的拾光器；利用来自所述盘片的反射光，检测出聚焦状态的聚焦检测用感光单元；以及测量所述聚焦检测用感光单元产生的聚焦误差信号的振幅的FES信号测量 单元，构成盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD面时，对所述聚焦检测用感光 单元产生的聚焦误差信号加补偿。5、 如权利要求1中所述的光盘装置，其特征在于，具有 通过物镜对盘片照射激光的拾光器； 往聚焦方向移动所述物镜的促动器；以及_ 对所述促动器设定增益的增益设定单元，构成所述盘片判别单元判别为双面盘片的非DVD面时，对所述增益设定单 元加补偿。6、 一种光盘装置，可对不同类型的盘片进行记录或再现，其特征在于，具有通过物镜对盘片照射激光的拾光器； 往聚焦方向移动所述物镜的促动器；利用来自所述盘片的反射光，检测出聚焦状态的聚焦检测用感光单元； 测量所述聚焦检测用感光单元产生的聚焦误差信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：细川浩司，池田圭，足穗孝平，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]