基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统，其中，所述方法基于一包含双摄像装置的缺陷检测系统，该系统包括用于放置待检测产品的检测平台以及设置于检测平台上方的第一摄像装置、下方的第二摄像装置；检测平台上方和下方分别设置至少一个光源，用于在采集待检测产品的待检测图像时提供光源；所述方法包括：分别控制至少一个光源按照预设的控制时序进行点亮；并通过第一摄像装置和第二摄像装置分别同时采集待检测产品的正面图像和反面图像作为待检测图像；按照预设的缺陷识别算法，根据至少一个光源下待检测图像识别所述待检测产品的缺陷检测结果。采用本发明专利技术，可提高待检测产品的缺陷检测的准确率。可提高待检测产品的缺陷检测的准确率。可提高待检测产品的缺陷检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统。

技术介绍

[0002]在一般的工业场景的基于视觉的缺陷检测场景下，通过在检测平台上方设置摄像头来采集需要进行检测的产品的图片来检测是否存在缺陷。但是，通过单个摄像头无法采集待检测产品上存在的全部的缺陷图片，导致待检测产品上的缺陷无法完全检测出来，导致漏检率过高，无法满足产品品质的高要求，无法取代人工对产品进行目检。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对上述问题，提出了一种基于双摄像和多光源的缺陷检测方法及系统。
[0004]在本专利技术的第一部分，提供了一种基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，所述方法基于一包含双摄像装置的缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括用于放置待检测产品的检测平台以及设置于检测平台上方的第一摄像装置、设置于检测平台下方的第二摄像装置；所述检测平台上方和下方分别设置至少一个光源，用于在所述第一摄像装置和第二摄像装置采集待检测产品的待检测图像时提供光源；所述方法包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法基于一包含双摄像装置的缺陷检测系统，所述缺陷检测系统包括用于放置待检测产品的检测平台以及设置于检测平台上方的第一摄像装置、设置于检测平台下方的第二摄像装置；所述检测平台上方和下方分别设置至少一个光源，用于在所述第一摄像装置和第二摄像装置采集待检测产品的待检测图像时提供光源；所述方法包括：分别控制所述至少一个光源按照预设的控制时序进行点亮；在至少一个光源点亮的情况下，通过所述第一摄像装置和第二摄像装置分别同时采集所述待检测产品的正面图像和反面图像作为待检测图像；按照预设的缺陷识别算法，根据所述至少一个光源下待检测图像识别所述待检测产品的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，其特征在于，所述待检测产品为玻璃产品。3.根据权利要求1所述的基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，其特征在于，所述分别控制所述至少一个光源按照预设的控制时序进行点亮的步骤，还包括：在一个时序周期内，控制至少一个光源按照预设的顺序分别进行点亮。4.根据权利要求3所述的基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，其特征在于，所述在至少一个光源点亮的情况下，通过所述第一摄像装置和第二摄像装置分别同时采集所述待检测产品的正面图像和反面图像作为待检测图像的步骤，还包括：对至少一个光源点亮下采集的正面图像和反面图像进行融合处理，将融合处理之后的图像作为所述待检测产品对应的待检测图像。5.根据权利要求4所述的基于双摄像和多光源的缺陷检测方法，其特征在于，所述对至少一个光源点亮下采集的正面图像和反面图像进行融合处理，将融合处理之后的图像作为所述待检测产品对应的待检测图像的步骤，还包括：对每一个光源点亮下采集的正面图像和反面图像进行融合处理，获取每一个光源点亮下的待检测图像；或，对每...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘晓阳，
申请(专利权)人：深圳新视智科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：