芯片验证系统及方法技术方案

本申请提供一种芯片验证系统及方法，芯片验证系统包括：测试事件模块，用于发出测试指令，测试指令是基于脚本生成的指令，测试指令用于验证待测芯片的功能；信号生成模块，用于根据测试指令生成与待测芯片相适应的硬件信号；待测模块，用于放置待测芯片，使得待测芯片接收硬件信号，并响应硬件信号生成输出数据；对比模块，用于获取输出数据，并根据输出数据和预设数据的对比结果确定待测芯片是否通过验证，预设数据为待测芯片在功能正常的情况下响应硬件信号输出的数据。无论待测芯片的硬件信息如何变化，信号生成模块都能够基于测试指令生成与待测芯片相适应的硬件信号，从而实现对待测芯片的相应功能进行验证，提高芯片验证效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证系统及方法


[0001]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种芯片验证系统及方法。

技术介绍

[0002]所谓芯片验证，是指采用相应的验证语言、验证工具、验证方法，在芯片生产之前验证芯片的设计是否符合芯片的预期功能，并发现相应的缺陷。
[0003]目前，针对芯片验证，主要是基于通用验证方法学(Universal Verification Methodology，UVM)进行前端验证。具体来说，通过代码确认与验证技术(Verification IP，VIP)产生激励驱动，使得待验证模块中的芯片的内部信号翻转，进而触发相关功能点，产生输出。接着，将该输出与对比模块的输出进行对比，进而根据对比结果确定芯片是否通过验证。
[0004]然而，不同的芯片之间存在一定的差异。例如：各芯片的位宽、寄存器地址等存在差异。采用同一个芯片验证系统，在对不同的芯片进行验证时，由于所要实现的细节会所有不同，因此在对不同芯片实际进行验证前，需要根据当前待验证的芯片的硬件情况对芯片验证系统中某些功能点进行取舍，才能满足对不同芯片的同一个功能的验证。这样，就会增加芯片验证工作操作的复杂程度，降低芯片验证的效率。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的是提供一种芯片验证系统及方法，以降低芯片验证工作的复杂程度，提高芯片验证的效率。
[0006]为解决上述技术问题，本申请实施例提供如下技术方案：
[0007]本申请第一方面提供一种芯片验证系统，所述系统包括：测试事件模块，用于发出测试指令，所述测试指令是基于脚本生成的指令，所述测试指令用于验证待测芯片的功能；信号生成模块，用于根据所述测试指令生成与所述待测芯片相适应的硬件信号；待测模块，用于放置所述待测芯片，使得所述待测芯片接收所述硬件信号，并响应所述硬件信号生成输出数据；对比模块，用于获取所述输出数据，并根据所述输出数据和预设数据的对比结果确定所述待测芯片是否通过验证，所述预设数据为所述待测芯片在功能正常的情况下响应所述硬件信号输出的数据。
[0008]本申请第二方面提供一种芯片验证方法，所述方法应用于第一方面中的芯片验证系统，所述方法包括：发出测试指令，所述测试指令是基于脚本生成的指令，所述测试指令用于验证待测芯片的功能；根据所述测试指令生成与所述待测芯片相适应的硬件信号；控制所述待测芯片接收所述硬件信号，并响应所述硬件信号生成输出数据，所述待测模块用于放置所述待测芯片；获取所述输出数据，并根据所述输出数据和预设数据的对比结果确定所述待测芯片是否通过验证，所述预设数据为所述待测芯片在功能正常的情况下响应所述硬件信号输出的数据。
[0009]相较于现有技术，本申请第一方面提供的芯片验证系统，通过设置测试事件模块
和信号生成模块，在验证内容确定后，测试事件模块就能够将软件化的测试指令发送至信号生成模块，而信号生成模块就能够基于软件化的测试指令生成与待测芯片相应的硬件信号，进而使待测芯片处理该硬件信号，从而对待测芯片的相应功能进行验证。这样，无论待测芯片的硬件信息如何变化，信号生成模块都能够基于测试指令生成与待待测芯片相适应的硬件信号，从而实现对待测芯片的相应功能进行验证。从而，无需测试人员逐个修改系统中与待测芯片相关的接口，降低验证工作的复杂程度，提高芯片验证效率。
[0010]本申请第二方面提供的芯片验证方法，与第一方面提供的芯片验证系统具有相同或相似的有益效果。
附图说明
[0011]通过参考附图阅读下文的详细描述，本申请示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本申请的若干实施方式，相同或对应的标号表示相同或对应的部分，其中：
[0012]图1为本申请实施例中芯片验证系统的结构示意图一；
[0013]图2为本申请实施例中芯片验证系统的结构示意图二；
[0014]图3为本申请实施例中芯片验证系统的结构示意图三；
[0015]图4为本申请实施例中扫描单元的结构示意图；
[0016]图5为本申请实施例中芯片验证系统的结构示意图四；
[0017]图6为本申请实施例中测试环境模块的结构示意图；
[0018]图7为本申请实施例提供的芯片验证方法的流程示意图一；
[0019]图8为本申请实施例提供的芯片验证方法的流程示意图二。
具体实施方式
[0020]下面将参照附图更详细地描述本申请的示例性实施方式。虽然附图中显示了本申请的示例性实施方式，然而应当理解，可以以各种形式实现本申请而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了能够更透彻地理解本申请，并且能够将本申请的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0021]需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域技术人员所理解的通常意义。
[0022]在现有的芯片验证系统中，基于同一功能模块以及同一功能规范，对不同芯片进行测试时，实现的细节会所有不同，可能会有功能点的取舍，并不一定实现全部功能。这样，会增加芯片验证工作的复杂程度，降低芯片验证的效率。
[0023]有鉴于此，本申请实施例提供了一种芯片验证系统，通过使用高级语言生成测试指令，进而通过硬件信号生成工具将测试指令转换为硬件信号，提高验证效率。特别是使用脚本语言，即写即用，无需编译，其效率可以比拟汇编语言、c/python等语言的开发效率。这样，当基于同一功能模块，对不同芯片进行测试时，上述硬件信号生成工具就能够基于上述脚本化测试用例生成适用于当前芯片的硬件信号，以对当前芯片进行测试。无需逐个修改芯片验证系统中与待测芯片相关的各接口的信息，提高芯片验证的效率。
[0024]这里需要说明的是，在实际应用中，芯片中待测的功能模块可以是调试模块。当
然，还可以是其它的功能模块。对于芯片中待测的功能模块的具体类型，此处不做限定。
[0025]接下来，详细说明本申请实施例提供的芯片验证系统。
[0026]图1为本申请实施例中芯片验证系统的结构示意图一，参见图1所示，该系统可以包括：测试事件模块101、信号生成模块102、待测模块103、对比模块104。
[0027]其中，测试事件模块101连接信号生成模块102，信号生成模块102连接待测模块103，待测模块103连接对比模块104。
[0028]测试事件模块101，用于接收并保存用户输入的测试指令，并将测试指令发送至信号生成模块102。
[0029]这里的测试指令是基于脚本生成的指令。也就是说，该测试指令为脚本化的指令。在该测试指令中，包含有对芯片的某一个或某几个功能进行测试的指令。也就是说，通过该测试指令，能够对芯片的一个或多个功能进行验证。
[0030]举例来说，当需要对芯片的功能A进行验证时，用户将编辑好的测试功能A的脚本指令输入至测试事件模块101中。测试事件模块101将该脚本指令发送至信号生成模块102，信号生成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证系统，其特征在于，所述系统包括：测试事件模块，用于发出测试指令，所述测试指令是基于脚本生成的指令，所述测试指令用于验证待测芯片的功能；信号生成模块，用于根据所述测试指令生成与所述待测芯片相适应的硬件信号；待测模块，用于放置所述待测芯片，使得所述待测芯片接收所述硬件信号，并响应所述硬件信号生成输出数据；对比模块，用于获取所述输出数据，并根据所述输出数据和预设数据的对比结果确定所述待测芯片是否通过验证，所述预设数据为所述待测芯片在功能正常的情况下响应所述硬件信号输出的数据。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试事件模块包括：第一接收单元，用于接收用户输入的目标测试项目标识；存储单元，用于存储各个测试项目标识以及所述各个测试项目标识对应的测试指令；调用单元，用于获取所述目标测试项目标识，并从所述存储单元中调取所述目标测试项目标识对应的目标测试指令；第一发送单元，用于将所述目标测试指令发送至所述信号生成模块。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号生成模块包括：扫描单元，用于扫描所述待测芯片的硬件信息，并将符合预设条件的所述硬件信息发送至信号生成单元；信号生成单元，用于根据所述测试指令生成所述硬件信息对应的硬件信号。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述扫描单元包括：扫描子单元，用于扫描所述待测芯片的硬件信息；判断子单元，用于判断预设硬件信息中是否存在扫描得到的所述硬件信息，所述预设硬件信息为各种类型芯片的硬件信息的集合；若是，则触发发送子单元；若否，则触发提示子单元；所述发送子单元，用于将所述硬件信息发送至所述信号生成单元；所述提示子单元，用于触发终止指令，并生成提示信息，所述终止指令用于终止所述芯片的验证，所述提示信息用于指示所述芯片的硬件存在问题。5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述信号生成模块为OpenOCD。6.根据权利要求1至5中任一项所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：测试环境模块，用于发出程序指令，所述程序指令是基于所述待测芯片的板上测试环境生成的；处理模块，与所述待测模块连接，用于运行所述程序指令，并将生成的板上指令发送至放置于所述待测模块中的所述待测芯片，使得所述待测芯片模拟在板上测试环境中运行。7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试环境模块包括：第二接收单元，用于接收用户输入的硬件版本和程序版本，所述硬件版本为所述待测芯片进行板上测试时所述板上各硬件的版本，所述程序版本为所述待测芯片进行板上测试时所述板上运行的程序的版本；指令生成单元，用于根据所述硬件版本...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭向飞，陈玉平，
申请(专利权)人：北京奕斯伟计算技术有限公司，
类型：发明
国别省市：