用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件，该多个发光元件与光学传感器邻近设置。用于检测光信号的电子装置的操作方法包括下列步骤。提供光信号至光学传感器的第一光学传感器。当邻近于第一光学传感器的些发光元件被调暗时，第一光学传感器输出驱动信号。如此，可以有效地增加检测光信号的准确性。可以有效地增加检测光信号的准确性。可以有效地增加检测光信号的准确性。

【技术实现步骤摘要】
用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置


[0001]本专利技术涉及一种操作方法，特别是涉及一种用于检测光信号的电子装置的操作方法与电子装置。

技术介绍

[0002]习知的电子装置可以通过光学传感器检测激光光笔所产生的光线或是检测手指触碰电子装置所产生的反射光，以确定激光光笔或手指于电子装置上的位置。然而，由于电子装置的发光元件可产生对应的亮度(Brightness)的光或环境光都会影响光学传感器的检测，如此可能会降低检测光信号的准确性。因此，需要一种新的设计改善前述的问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术实施例提供一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件，该多个发光元件与光学传感器邻近设置。用于检测光信号的电子装置的操作方法包括下列步骤。提供光信号至光学传感器的第一光学传感器。当邻近于第一光学传感器的发光元件被调暗时，第一光学传感器输出驱动信号。
[0004]本专利技术实施例另提供一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件与光学传感器邻近设置。用于检测光信号的电子装置的操作方法包括下列步骤。发光元件发出第一光信号，第一光信号具有第一灰度。发光元件发出第二光信号，第二光信号具有第二灰度，其中第二灰度与第一灰度不同。提供物体。物体反射第二光信号，形成第三光信号。光学传感器的第一光学传感器依据第三光信号，输出驱动信号。
[0005]本专利技术实施例另提供一种电子装置，包括基板、第一发光元件与第二发光元件及光学传感器。第一发光元件与第二发光元件配置于基板上，且第一发光元件相邻于第二发光元件。光学传感器配置于基板上。光学传感器与第一发光元件之间的距离小于第一发光元件与第二发光元件之间的距离的一半。
附图说明
[0006]为让本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本专利技术的具体实施方式作详细说明，其中：
[0007]图1为依据本专利技术的一实施例的电子装置的示意图。
[0008]图2为依据本专利技术的一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。
[0009]图3为依据本专利技术的一实施例的电子装置的光学传感器与发光元件的操作时序图。
[0010]图4为依据本专利技术的另一实施例的电子装置的示意图。
[0011]图5为图4的电子装置的A-A
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线的剖面图。
diode,OLED)、无机发光二极管(light emitting diode,LED)、量子点(quantum dot,QD)、荧光材料、磷光材料、其他适合的材料或上述材料的组合，但本专利技术不限于此。无机发光二极管可例如包括次毫米发光二极管(mini light emitting diode,mini LED)、微发光二极管(micro light emitting diode,micro LED)或量子点发光二极管(quantum dot light emitting diode,QLED/QDLED)。在一些实施例中，电子装置100可以是显示装置、天线装置、检测装置、触控电子装置(touch display)、曲面电子装置(curved display)或非矩形电子装置(free shape display)，也可以是可弯折或可挠式拼接电子装置，但不以此为限。天线装置可例如是液晶天线，但不以此为限。需注意的是，电子装置可为前述的任意排列组合，但不以此为限。此外，电子装置的外型可为矩形、圆形、多边形、具有弯曲边缘的形状或其他适合的形状。电子装置可以具有驱动系统、控制系统、光源系统、层架系统等周边系统以支援显示装置或天线装置。
[0038]请参考图1，电子装置100可以包括多个光学传感器110_11～110_MN与多个发光元件120_11～120_KL，其中M、N、K、L为大于1的正整数。在本实施例中，K、L大于M、N，亦即发光元件120_11～120_KL的数量大于光学传感器110_11～110_MN的数量。在一些实施例中，M与N可以相同或不同，且K与L可以相同或不同。本实施例中，光学传感器110_11～110_MN可以由薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)或其他传感器制成，但本专利技术不限于此。另外，光学传感器110_11～110_MN用于检测光源装置(图未示)所产生的光信号(Optical Signal)。上述光源装置例如为激光光笔或红外线光笔，但本专利技术不限于此。
[0039]发光元件120_11～120_KL可以与光学传感器110_11～110_MN邻近设置。举例而言，发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22可以与光学传感器110_11邻近设置，也就是例如，发光元件120_11与光学传感器110_11之间不会存在有其他的发光元件或光学传感器，发光元件120_12与光学传感器110_11之间不会存在有其他的发光元件或光学传感器。发光元件120_13、发光元件120_14、发光元件120_23、发光元件120_24可以与光学传感器110_12邻近设置。发光元件120_1L-1、发光元件120_1L、发光元件120_2L-1、发光元件120_2L可以与光学传感器110_1N邻近设置。其余发光元件与光学传感器邻近设置则可类推。
[0040]在本实施例中，发光元件120_11～120_KL可以是有机发光二极管(OLED)、无机发光二极管(LED)例如次毫米发光二极管(mini LED)、微发光二极管(micro LED)、量子点发光二极管(QLED/QD-LED)等，但本专利技术不限于此。另外，发光元件120_11～120_KL可以是发光管芯(die)或是包含有发光管芯的封装形式。此外，发光元件120_11～120_KL可以产生单一颜色的光，例如白光(white)，或是多种颜色的光，例如红光(red)、绿光(green)、蓝光(blue)，但本专利技术不限于此。
[0041]在本实施例中，使用者可以操作光源装置，以产生光信号至电子装置100，亦即提供光信号至电子装置100的光学传感器110_11～110_MN的第一光学传感器，例如光学传感器110_11。接着，当邻近于光学传感器110_1的发光元件(例如发光元件120_11、发光元件120_12、发光元件120_21、发光元件120_22)被调暗(Dimming)时，光学传感器110_1输出驱动信号，使得电子装置100可以确认光信号的所在位置。在本实施例中，将发光元件调暗即为降低发光元件的灰度，例如降低为原灰度的50％或以下。进一步来说，可以将发光元件的灰度降低至零灰度，例如将发光元件关闭而不产生光信号。
[0042]在一些实施例中，电子装置100还可以包括多个检测期间(Detecting Period)。检测期间指的是光学传感器110_11～110_MN被电子装置100中的处理装置(图未示)进行检测，以产生对应的驱动信号的期间。同时，邻近光学传感器110_11～本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测光信号的电子装置的操作方法，该电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件，该多个发光元件与该多个光学传感器邻近设置，其特征在于，该用于检测光信号的电子装置的操作方法包括：提供该光信号至该多个光学传感器的一第一光学传感器；以及当邻近于该第一光学传感器的该多个发光元件被调暗时，该第一光学传感器输出一驱动信号。2.如权利要求1所述的用于检测光信号的电子装置的操作方法，其特征在于，更包含多个检测期间，该多个光学传感器各自对应该多个检测期间并进行检测，且邻近该多个光学传感器的该多个发光元件在对应的该多个检测期间会被关小。3.如权利要求1所述的用于检测光信号的电子装置的操作方法，其特征在于，所有的该多个光学传感器在一检测期间进行检测，所有的该多个发光元件在该检测期间都被关小。4.一种用于检测光信号的操作方法，其特征在于，包括：提供一电子装置，该电子装置包含多个光学传感器以及多个发光元件；该多个发光元件发出一第一光信号，该第一光信号具有一第一灰度；该多个发光元件发出一第二光信号，该第二光信号具有一第二灰度，其中该第二灰度与该第一灰度不同；提...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛立维，丁景隆，高克毅，曾名骏，
申请(专利权)人：群创光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：