自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法技术

技术编号:30363662 阅读:34 留言:0更新日期:2021-10-16 17:25
本发明专利技术公开的一种自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法,能够降低测试成本,提高测试效率。本发明专利技术通过下述技术方案实现:以二维表的结构组织遍历参数表,对二维表单元格进行配置形成相应的遍历参数表;通过软件开发实现按照约定的遍历参数表数据组织方式及语法规则,对遍历参数表解析生成测试参数组合的参数表解析库;以面向对象的编程思想,通过将测试参数作为输入参数的方式,将测试参数的生成与获取工作从测试软件中抽离出来,形成具有通用性的测试方法;调用参数表解析库对配置好的遍历参数表进行解析,将生成的测试参数集合作为测试方法的输入参数,达到不同的遍历参数表+同一测试方法,形成被测产品的不同测试软件。形成被测产品的不同测试软件。形成被测产品的不同测试软件。

【技术实现步骤摘要】
自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法


[0001]本专利技术涉及一种用于激励被测产品处于不同工作参数、激励条件,实现对产品指标遍历性测试的自动化测试方法。
技术背景
[0002]近年来,由于受到各行各业,强有力的需求牵引,自动测试技术发展十分迅速。自动测试指的是通过软件控制被测产品、测试仪表,自动完成测试流程控制以及测试数据采集的测试过程。自动测试系统相比人工测试,既无需人工操作仪表、控制被测件,也无需人工读取测量数据、记录测试结果,因此自动测试在测试效率上有着无可争辩的优势。
[0003]在互联网高速发展的当今,被测产品或的功能复杂度也越来越高,体现出来就是产品具有更多功能,不同功能对应了不同的工作模式,即不同的工作状态。在不同的工作状态下,产品具备不同的功能与性能特性,而且这种状态还存在多级串联和并联的关系。串联指的是一个上级状态基下又对应了多个下级状态。并联指的是多种同级状态机存在各种状态组合的情况。因此产品在测试时的状态将变得非常复杂。而通过测试所获取的性能指标结果,总是基于某种特定的工作状态,因此想要获取全面的产品性能测试结果,必须不断改变被测产品所处的测试参数,直至遍历所有测试参数。被测产品的工作状态主要是由两部分参数决定:被测产品当前工作参数以及外部激励环境参数(后对上述两种参数统称为测试参数)。被测产品当前工作参数可以通过产品的控制接口进行设置,例如被测产品所处的工作模式、工作频率等。外部激励环境参数一般是通过测试仪表或者专用测试设备激励实现,例如外部输入信号强度、供电电压等。早期测试参数的生成与组织都是通过人工的方式实现,近年来,随着自动测试技术的成熟,借助自动测试在测试效率上的优势,可以通过自动测试软件不断循环改变测试参数实现遍历测试。现有的自动测试系统通过测试软件,按照业务需求,以编码的形式组织和构建需要遍历的测试参数,然后按照测试流程、步骤,对被测产品以及仪表进行程控操作,进而获取测试数据。测试软件不仅包含了对测试流程、步骤的实现,还包含了测试参数的获取/组合。此种方法存在的主要缺陷包括:首先,测试软件耦合了测试方法与测试参数的获取/组织,导致测试软件无法得到复用。测试方法指的是测试业务逻辑的实现,包括测试流程和步骤。测试方法是与测试参数是无关的,不会受参数的变化而发生改变。测试参数只是测试方法的输入,只会对测试结果产生影响。因此,如果测试软件只包含测试方法,是能得到复用的。当测试软件耦合了测试方法与测试参数的获取/组合功能,一旦测试参数需要调整,就不得不修改测试软件,使得本可被复用的测试软件无法得到复用。其次,通过编码实现的测试参数的获取/组织较为繁琐。一旦需要调整或者修改,将十分困难。测试参数改变导致的测试软件修改,不仅包括参数取值的修改,还包括参数维度(即测试参数的个数)、遍历方式(如步进方式、集合方式、随机方式等)的修改。目前测试软件均采用多层循环嵌套的方式实现对测试参数的遍历。每层循环对应某一特定参数,通过循环实现该参数取值的遍历。因此,在改变参数维度时,不得不增加或删除相应的循环嵌套代码。且当循环嵌套层数增加到一定程度时,不仅代码可维护性极度,而且多层嵌
套将占用大量计算机硬件内存,执行速度甚至都会受到影响。此外,由于编程语言语法的限制,只能通过语法实现步进遍历方式,而其他遍历方式无法通过语法直接通过语法实现,需要另行开发,更不用说支持多种遍历方式的组合。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是针对传统测试方法技术中调整遍历参数时,必须修改测试软件,且测试软件修改过程繁琐,开发效率低,代码可维护性低的不足之处,提供一种简便灵活的,能够降低测试成本,提高测试效率和自动化程度高的自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法。以解决测试参数发生变化后,测试软件修改繁琐,导致开发效率低、测试软件编写复杂,代码可维护性低的问题。
[0005]本专利技术实现上述目的一种自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1:遍历参数表设计与配置:以二维表的结构组织遍历参数表,并结合测试业务需求对以行为单位和约定的各种遍历模式的语法,对二维表的单元格进行配置,形成相应的遍历参数表;步骤2:开发参数表解析库:通过软件开发,实现具有按照约定的遍历参数表数据组织方式及语法规则,对遍历参数表解析,生成全部测试参数组合的集合功能的参数表解析库;步骤3:测试方法开发:以面向对象的编程思想,通过将测试参数作为输入参数的方式,将测试参数的生成与获取工作从测试软件中抽离出来,形成具有通用性的测试方法;步骤4:测试软件开发:调用参数表解析库对配置好的遍历参数表进行解析,并将其生成的测试参数集合作为测试方法的输入参数,最终达到不同的遍历参数表+同一测试方法,形成被测产品的不同测试软件的目的。
[0006]本专利技术相比于现有技术具有如下有益效果:本专利技术:以二维表的结构组织遍历参数表,并结合测试业务需求对以行为单位和约定的各种遍历模式的语法,对二维表的单元格进行配置,形成相应的遍历参数表;通过对遍历参数表以及参数表解析库实现了对测试参数的获取/组织功能,进而实现了测试软件中测试方法与测试参数的获取/组织功能的耦合。相比通过编码方式实现的对测试参数的获取/组织功能,使用遍历参数配置表具有更为丰富和强大的功能。遍历参数配置表不仅能支持步进遍历方式,还能支持集合遍历方式、随机遍历以及各种遍历模式的任意组合,此外支持通过增删参数表列实现对参数任意维度的快速调整,且不会影响测试软件的运行效率。
[0007]本专利技术以面向对象的编程思想,通过将测试参数作为输入参数的方式,将测试参数的生成与获取工作从测试软件中抽离出来,形成具有通用性的测试方法;通过软件开发,实现具有按照约定的遍历参数表数据组织方式及语法规则,对遍历参数表解析,生成全部测试参数组合的集合功能的参数表解析库;将测试方法从测试软件抽离出来,形成可复用的测试方法代码,最终达到不同的遍历参数表配置+同一测试方法,形成不同的测试软件的目的,真正实现了测试软件的复用。
[0008]本专利技术采用调用参数表解析库对配置好的遍历参数表进行解析,并将其生成的测
试参数集合作为测试方法的输入参数,最终达到不同的遍历参数表+同一测试方法,形成被测产品的不同测试软件的目的。由于测试软件去掉了对测试参数的获取/组织功能,因此也简化了测试软件的开发过程。相比现有技术,测试参数的获取/组织功能不再需要通过专业软件人员进行编码实现,普通使用人员只需遵循直观、简单的遍历参数表表结构以及相应语法规则便能通过配置参数表实现,不仅降低了测试软件的开发难度、提升了开发效率,同时也极大提高了软件的灵活性和通用性。
附图说明
[0009]图1是本专利技术实现上述目的一种测试参数自动遍历的自动测试方法的流程图。
[0010]下面结合附图对本专利技术专利进行详细描述,本部分的描述仅是示范性和解释性,不应对本专利技术专利的保护范围有任何的限制作用。此外,本领域技术人员根据本文件的描述,可以对本文件中实施例以及不同实施例中的特征进行相应组合。
具体实施方式
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法,其特征在于包括如下步骤:步骤1:遍历参数表设计与配置:以二维表的结构组织遍历参数表,并结合测试业务需求对以行为单位和约定的各种遍历模式的语法,对二维表的单元格进行配置,形成相应的遍历参数表;步骤2:开发参数表解析库:通过软件开发,实现具有按照约定的遍历参数表数据组织方式及语法规则,对遍历参数表解析,生成全部测试参数组合的集合功能的参数表解析库;步骤3:测试方法开发:以面向对象的编程思想,通过将测试参数作为输入参数的方式,将测试参数的生成与获取工作从测试软件中抽离出来,形成具有通用性的测试方法;步骤4:测试软件开发:调用参数表解析库对配置好的遍历参数表进行解析,并将其生成的测试参数集合作为测试方法的输入参数,最终达到不同的遍历参数表+同一测试方法,形成被测产品的不同测试软件。2.如权利要求1所述的自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法,其特征在于:在遍历参数表设计与配置中,遍历参数表约定了不同的语法用以表示各种遍历模式,各种遍历模式包括:用于表示步进方式进行遍历的range(范围)模式,使用分隔符进行分隔且需要输入分别代表起始值,结束值和步进的步进模式;参数与参数使用分隔符进行分隔且使用集合方式进行遍历的Collection(集合)模式,集合模式输入1到任意个参数,每个参数代表遍历时的一种取值情况;使用随机方式产生一个随机值进行遍历的Random(随机)模式,该随机模式需要输入三个参数,分别表示随机值的下限范围、上限范围和支持整数、小数的数据类型;用于表示固定取值,支持简单方式和说明方式的固定值模式,其中说明方式使用“:”连接固定值取值和该取值说明信息,简单方式只有固定值,无取值说明信息。3.如权利要求1或2所述的自动遍历被测产品不同测试参数的测试方法,其特征在于:遍历参数表以二维表的数据结构,以行为单位,使用...

【专利技术属性】
技术研发人员:董宇晖
申请(专利权)人:西南电子技术研究所中国电子科技集团公司第十研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1