本发明专利技术提供了一种O形圈内径测量装置及其测量方法，O形圈套置在圆锥座的外径上，弹性压套套置在圆锥座且该弹性压套的底部圆环压在O形圈的上表面，在弹性压套的上表面设有重量可调的配重机构，高度游标卡尺树立在圆锥座的一侧，在高度游标卡尺的滑块上靠近圆锥座的一侧设置有定位臂。测量方法如下：将O形圈套放在圆锥座，然后将弹性压套也套放在圆锥座上；将配重块放置在弹性压套顶端，逐渐增加配重块的重量使得弹性压套的底部圆环贴合着圆锥座向下移动，直至与被测O形圈相接触，并对被测O形圈圆周向产生轻柔的挤压；根据解算公式计算出O形圈的内径。基于本发明专利技术能够快速精确的测量出O形圈的内径，更好的与沟槽进行配合并提高密封效果。封效果。封效果。
【技术实现步骤摘要】
O形圈内径测量装置及其测量方法
[0001]本专利技术涉及测量
，特别涉及一种O形圈内径测量装置及其测量方法。
技术介绍
[0002]O形圈在液压气动领域有着较广的使用，主要依靠O形圈截面的压缩实现密封功能，同时内径和外径也会受到一定的拉伸或压缩。O形圈的尺寸和沟槽的配合对密封功能较为重要。O形圈截面直径可以使用专用测厚仪或投影法测量准确，但O形圈内径和外径却并不容易测量准确。
[0003]一般O形圈内径大于50mm后，自由状态下就难以呈现规则的圆环形状，给测量带来了极大不便。目前，测量O形圈内径和外径一般使用投影法和游标周径尺。投影法测量精度较高，但只适用于自由状态下呈规则圆环形状的内径较小的O形圈。用游标周径尺测量时，O形圈也并不能保持一个规则的圆环形状，加上夹紧力度不好掌握，测量误差较大。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种O形圈内径测量装置，其特征在于，所述装置包括圆锥座、弹性压套、配重机构、高度游标卡尺；
[0005]O形圈套置在圆锥座的外径上，弹性压套套置在圆锥座且该弹性压套的底部圆环压在O形圈的上表面，在弹性压套的上表面设有重量可调的配重机构，高度游标卡尺树立在圆锥座的一侧，在高度游标卡尺的滑块上靠近圆锥座的一侧设置有定位臂。
[0006]进一步的，弹性压套的底部圆环直径可调。
[0007]进一步的，弹性压套周向侧壁上开设有若干轴向分布的变形槽，各变形槽向下延伸至弹性压套的底部圆环。
[0008]进一步的，弹性压套的材质为橡胶或者硅胶。
[0009]进一步的，配重机构包含有设于弹性压套上端盖的容器，在容器内加入不同体积的细沙或液体来调整对弹性压套施加向下的压力。
[0010]一种基于上述装置的测量方法，包括如下步骤：
[0011]S1、将O形圈套放在圆锥座，然后将弹性压套也套放在圆锥座上，此时弹性压套底部圆环与O形圈不接触；
[0012]S2、将配重块放置在弹性压套顶端，逐渐增加配重块的重量使得弹性压套的底部圆环贴合着圆锥座向下移动，直至与被测O形圈相接触，并对被测O形圈圆周向产生轻柔的挤压；
[0013]S3根据如下解算公式计算出O形圈的内径：
[0014][0015][0016][0017][0018]其中，d1为O形圈内径；
[0019]d2为O形圈截面直径；
[0020]D为圆锥座最大直径；
[0021]A为圆锥座的圆锥体锥角；
[0022]H为圆锥座的高度；
[0023]h1为O形圈截面上象限点的高度；
[0024]d3为圆锥座与O形圈中心处于同一平面处的直径；
[0025]W为O形圈截面中心与圆锥座同一平面处的距离。
[0026]基于本专利技术提供的技术方案，能够快速精确的测量出O形圈的内径，更好的与沟槽进行配合并提高密封效果。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1为实施例一中，O形圈内径测量方法的应用示意图；
[0029]图2为实施例一中，O形圈内径测量方法的计算公式说明图；
[0030]图3为实施例二中，在圆锥座底部设置有底座情况下，O形圈内径测量方法的应用示意图；
[0031]图4为实施例二中，O形圈内径测量方法的计算公式说明图。
具体实施方式
[0032]在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
[0033]为了彻底理解本专利技术，将在下列的描述中提出详细的步骤以及详细的结构，以便阐释本专利技术的技术方案。本专利技术的较佳实施例详细描述如下，然而除了这些详细描述外，本专利技术还可以具有其他实施方式。
[0034]实施例一
[0035]参照图1所示，本专利技术提供了一种O形圈内径测量装置，装置包括圆锥座1、弹性压套2、配重机构3、高度游标卡尺4；O形圈6套置在圆锥座1的外径上，弹性压套2套置在圆锥座1且该弹性压套2的底部圆环压在O形圈的上表面，在弹性压套2的上表面设有重量可调的配
重机构3，高度游标卡尺4树立在圆锥座1的一侧，在高度游标卡尺4的滑块上靠近圆锥座1的一侧设置有定位臂4
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1。圆锥座1和高度游标卡尺4均放置于测量平台5上。
[0036]圆锥座1的斜面侧壁部分连续、均匀、光滑，以降低O形圈6及弹性压套2下滑的阻力，并且圆锥座1的底部最大直径需要远大于O形圈6的内径，以避免O形圈6从圆锥座1上滑落下来。
[0037]在一可选的实施例中，弹性压套2周向侧壁上开设有若干轴向分布的变形槽21，各变形槽21向下延伸至弹性压套2的底部圆环，使得弹性压套2的底部圆环直径可可调。作为有选项，弹性压套2的材质为橡胶或者硅胶。
[0038]进一步的，配重机构3包含有设于弹性压套2上端盖的容器，在容器内加入不同体积的细沙或液体31来调整对弹性压套2施加向下的压力。配重机构3也可以和弹性压套2顶部做成一体。
[0039]本专利技术的测量方法步骤如下：
[0040]S1、将O形圈6套放在圆锥座1，然后将弹性压套2也套放在圆锥座1上，此时弹性压套2底部圆环与O形圈不接触；
[0041]S2、将配重块3放置在弹性压套2顶端，逐渐增加配重块3的重量使得弹性压套2的底部圆环贴合着圆锥座1向下移动，直至与被测O形圈6相接触，并对被测O形圈6圆周向产生轻柔的挤压；
[0042]S3根据如下解算公式计算出O形圈6的内径：
[0043][0044][0045][0046][0047]其中，d1为O形圈内径；
[0048]d2为O形圈截面直径；
[0049]D为圆锥座1最大直径；
[0050]A为圆锥座1的圆锥体锥角；
[0051]H为圆锥座1的高度；
[0052]h1为O形圈6截面上象限点的高度；
[0053]d3为圆锥座1与O形圈6中心处于同一平面处的直径；
[0054]W为O形圈6截面中心与圆锥座1同一平面处的距离。
[0055]为提高测量精度，我们使用高度游标卡尺4从弹性压套2的变形槽21缺口处测量O形圈6截面上象限点距测量平台的高度并取平均值h1。
[0056]实施例二
[0057]实施例二与实施例一的结构不同在于，圆锥座1下面还设有底座1
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1，用于抬高圆
锥座1的高度，设h4为O形圈6截面上象限点的高度；h2为底座1
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1的高度，h3为圆锥座1本体的高度本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种O形圈内径测量装置，其特征在于，所述装置包括圆锥座(1)、弹性压套(2)、配重机构(3)、高度游标卡尺(4)；O形圈(6)套置在圆锥座(1)的外径上，弹性压套(2)套置在圆锥座(1)且该弹性压套(2)的底部圆环压在O形圈的上表面，在弹性压套(2)的上表面设有重量可调的配重机构(3)，高度游标卡尺(4)树立在圆锥座(1)的一侧，在高度游标卡尺(4)的滑块上靠近圆锥座(1)的一侧设置有定位臂。2.如权利要求1所述的O形圈内径测量装置，其特征在于，弹性压套(2)的底部圆环直径可调。3.如权利要求2所述的O形圈内径测量装置，其特征在于，弹性压套(2)周向侧壁上开设有若干轴向分布的变形槽(21)，各变形槽(21)向下延伸至弹性压套(2)的底部圆环。4.如权利要求1所述的O形圈内径测量装置，其特征在于，弹性压套(2)的材质为橡胶或者硅胶。5.如权利要求1所述的O形圈内径测量装置，其特征在于，配重机构(3)包含有设于弹性压套(2)上端盖的容器，在容器内加入不同体积的细沙或液体来调整对弹性压套(2)施加向下的压力。6...
【专利技术属性】
技术研发人员：田雪峰，于杰，刘耀，黄新林，
申请(专利权)人：龙工上海液压有限公司，
类型：发明
国别省市：
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