一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统技术方案

本发明专利技术公开了一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座，底座的上端设置有夹持机构，夹持机构的上端设置有等径机构，夹持机构包括固定块，固定块固定连接在底座的上表面中心处，固定块的表面上通过轴承转动连接有转杆，本发明专利技术的有益效果是：将检测环套接在圆杆的表面上，然后缓缓放开检测环使其自动下落，当检测环下落时插块与生长管的内壁接触，当生长管内壁的内径发生变化时，进而会导致生长管内壁对插块的压力发生变化，最终压力反馈到动态压力感应器，进而通过动态压力感应器的读数可得出生长管内径是否等径，通过对生长管的内径进行检测，防止生长管内径存在变化导致对锗晶体的生长造成影响。对锗晶体的生长造成影响。对锗晶体的生长造成影响。

【技术实现步骤摘要】
一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统


[0001]本专利技术涉及锗晶体生长
，具体为一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统。

技术介绍

[0002]锗晶体指的是锗元素形成的晶体，有整齐规则的几何外形，有固定的熔点，有各向异性的特点，在半导体、航空航天测控、核物理探测、光纤通讯、红外光学、太阳能电池、化学催化剂、生物医学等领域都有广泛而重要的应用,是一种重要的战略资源。
[0003]现有的锗晶体在生产使需要通过特定的生长设备进行生产，在生产时需要用到专用的生长管用于引导锗晶体成形，通过生长管内壁对生长的锗晶体会进行控制吗，防止锗晶体变形，但是当生长管的内径存在变化时就会导致生产的锗晶体存在瑕疵。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，以解决上述
技术介绍
中提出的锗晶体在生产使需要通过特定的生长设备进行生产，在生产时需要用到专用的生长管用于引导锗晶体成形，通过生长管内壁对生长的锗晶体会进行控制吗，防止锗晶体变形，但是当生长管的内径存在变化时就会导致生产的锗晶体存在瑕疵的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座，所述底座的上端设置有夹持机构，所述夹持机构的上端设置有等径机构；
[0006]所述夹持机构包括固定块，所述固定块固定连接在底座的上表面中心处，所述固定块的表面上通过轴承转动连接有转杆，所述转杆的两端表面上均开设有螺纹，两个所述螺纹分别螺纹连接在两个螺孔内部，两个所述螺孔分别开设在两个弧板的表面上，两个所述弧板的下端与底座接触，所述转杆的一端固定连接有转钮，所述固定块的上端固定连接有支撑板，两个所述弧板的内部卡接有生长管；
[0007]所述等径机构包括圆杆，所述圆杆固定连接在支撑板的中心处，所述圆杆的上端插接在圆孔内部，所述圆孔开设在检测环的内部，所述检测环的外圆侧壁上开设有多个插槽，多个所述插槽的内部均固定连接有动态压力感应器，多个所述动态压力感应器的另一端均固定连接有插块。
[0008]优选的，所述所述固定块固定连接在支撑板的下表面中心处。
[0009]优选的，两个所述弧板对称设置在固定块的两端。
[0010]优选的，所述支撑板与两个弧板交错的两端与生长管的下表面接触。
[0011]优选的，所述插块靠近生长管的一端下表面上开设有弧面。
[0012]优选的，所述所述插块靠近生长管的一端与生长管的内壁相匹配。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：将检测环套接在圆杆的表面上，然后缓缓放开检测环使其自动下落，当检测环下落时插块与生长管的内壁接触，当生长管内壁的内
径发生变化时，进而会导致生长管内壁对插块的压力发生变化，最终压力反馈到动态压力感应器，进而通过动态压力感应器的读数可得出生长管内径是否等径，通过对生长管的内径进行检测，防止生长管内径存在变化导致对锗晶体的生长造成影响。
附图说明
[0014]图1为本专利技术结构示意图；
[0015]图2为本专利技术的检测环结构示意图；
[0016]图3为本专利技术图1中A部分放大图；
[0017]图4为本专利技术图1中B部分放大图。
[0018]图中：1、底座；2、夹持机构；21、固定块；22、轴承；23、转杆；24、螺纹；25、螺孔；26、弧板；27、转钮；28、支撑板；29、生长管；3、等径机构；31、圆杆；32、圆孔；33、检测环；34、插槽；35、动态压力感应器；36、插块。
具体实施方式
[0019]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
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4，本专利技术提供一种技术方案：一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座1，底座1的上端设置有夹持机构2，夹持机构2的上端设置有等径机构3；
[0021]夹持机构2包括固定块21，固定块21固定连接在底座1的上表面中心处，固定块21的表面上通过轴承22转动连接有转杆23，转杆23的两端表面上均开设有螺纹24，两个螺纹24分别螺纹连接在两个螺孔25内部，两个螺孔25分别开设在两个弧板26的表面上，两个弧板26的下端与底座1接触，转杆23的一端固定连接有转钮27，固定块21的上端固定连接有支撑板28，两个弧板26的内部卡接有生长管29，将生长管29放置在支撑板28的上表面上，然后转动转钮27带动转杆23转动，转杆23转动时带动转杆23表面的两个螺纹24转动，两个螺纹24转动时挤压螺孔25的内壁，进而推动两个螺孔25移动，两个螺孔25带动两个弧板26移动，进而使弧板26将生长管29固定，两个弧板26与固定块21的间距相同，进而使圆杆31位于生长管29的中心处；
[0022]等径机构3包括圆杆31，圆杆31固定连接在支撑板28的中心处，圆杆31的上端插接在圆孔32内部，圆孔32开设在检测环33的内部，检测环33的外圆侧壁上开设有多个插槽34，多个插槽34的内部均固定连接有动态压力感应器35，多个动态压力感应器35的另一端均固定连接有插块36，将圆杆31插入圆孔32内部，使检测环33套接在圆杆31的表面上，然后缓缓放开检测环33使其自动下落，当检测环33下落时插块36与生长管29的内壁接触，当生长管29内壁的内径发生变化时，进而会导致生长管29内壁对插块36的压力发生变化，最终压力反馈到动态压力感应器35，进而通过动态压力感应器35的读数可得出生长管29内径是否等径，通过对生长管29的内径进行检测，防止生长管29内径存在变化导致对锗晶体的生长造成影响。
[0023]固定块21固定连接在支撑板28的下表面中心处，进而使固定块21与圆杆31对应，
使圆杆31位于两个弧板26的中心处。
[0024]两个弧板26对称设置在固定块21的两端，进而使固定块21位于两个弧板26的中心处。
[0025]支撑板28与两个弧板26交错的两端与生长管29的下表面接触，进而通过支撑板28对生长管29进行支撑。
[0026]插块36靠近生长管29的一端下表面上开设有弧面，插块36靠近生长管29的一端与生长管29的内壁相匹配，进而使插块36下移时防止对生长管29的内壁造成磨损。
[0027]具体的，使用本专利技术时，首先将生长管29放置在支撑板28的上表面上，然后转动转钮27带动转杆23转动，转杆23转动时带动转杆23表面的两个螺纹24转动，两个螺纹24转动时挤压螺孔25的内壁，进而推动两个螺孔25移动，两个螺孔25带动两个弧板26移动，进而使弧板26将生长管29固定，两个弧板26与固定块21的间距相同，进而使圆杆31位于生长管29的中心处，然后将圆杆31插入圆孔32内部，使检测环33套接在圆本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种锗晶体生长设备自动等径检测控制系统，包括底座(1)，所述底座(1)的上端设置有夹持机构(2)，所述夹持机构(2)的上端设置有等径机构(3)；所述夹持机构(2)包括固定块(21)，所述固定块(21)固定连接在底座(1)的上表面中心处，所述固定块(21)的表面上通过轴承(22)转动连接有转杆(23)，所述转杆(23)的两端表面上均开设有螺纹(24)，两个所述螺纹(24)分别螺纹连接在两个螺孔(25)内部，两个所述螺孔(25)分别开设在两个弧板(26)的表面上，两个所述弧板(26)的下端与底座(1)接触，所述转杆(23)的一端固定连接有转钮(27)，所述固定块(21)的上端固定连接有支撑板(28)，两个所述弧板(26)的内部卡接有生长管(29)；所述等径机构(3)包括圆杆(31)，所述圆杆(31)固定连接在支撑板(28)的中心处，所述圆杆(31)的上端插接在圆孔(32)内部，所述圆孔(32)开设在检测环(33)的内部，所述检测环(33)的外圆侧壁上开...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文英，杨辉，薛武鹏，程涛，
申请(专利权)人：陕西欣宇材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：