温度获得方法技术

根据本发明专利技术的实施例提供一种温度获得方法、装置和计算机可读存储介质，其中，温度获得方法包括：建立温度获得模型，其中，所述温度获得模型基于向温度获得模型输入的所述放射性物质处理系统的运行参数，获得在该参数条件下所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位的温度；在放射性物质处理过程中，向所述温度获得模型中输入所述放射性物质处理系统当前的运行参数；获得所述温度获得模型输出的所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位当前的温度。根据本发明专利技术实施例的温度获得方法、装置和计算机可读存储介质能够减少温度获得过程中的放射性操作并降低测温设备的依赖性，提高放射性反应物温度获得的安全性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
温度获得方法


[0001]本申请放射性物质处理
，特别是涉及一种用于放射性物质处理过程中获得放射性反应物不同部位的温度的方法。

技术介绍

[0002]随着核工业的迅速发展，如何对核工业中产生的大量放射性废物进行处理是亟待解决的问题，固化处理是一种能够较为安全和高效的对放射性废物进行处理的方法。
[0003]固化是指选择稳定性较高的固化基质长时间包容这些核素，常用的固化方法有玻璃固化、陶瓷固化、玻璃陶瓷固化、人造岩石固化以及各种水泥固化等等。其中，玻璃固化技术比较成熟，并且，玻璃固化体具有浸出率低、辐照稳定等优点，使得玻璃固化技术成为固化技术研究的热点。
[0004]玻璃固化是将高放废液与玻璃基材按一定比例混合后，在高温下煅烧、熔融、浇注，经退火后转化为稳定玻璃固化体。以磷酸、磷酸盐或其他含磷物质作玻璃形成剂的称为磷酸盐玻璃固化，以二氧化硅和三氧化二硼作玻璃形成剂的称为硼硅酸盐玻璃固化。
[0005]玻璃固化的研究开始于20世纪50年代末，早期对磷酸盐玻璃固化研究较多，随后发现磷酸盐玻璃固化体贮存一段时间后形成晶体，失去透明性，使放射性核素的浸出率显著增加，而且磷酸腐蚀性强，熔融器和固化尾气管道需用铂作材料。于是研究工作的重点转向硼硅酸盐玻璃固化。研究结果证明，硼硅酸盐玻璃是较理想的高放废液固化基材。
[0006]迄今为止，玻璃固化已经发展了4代，第1代熔制工艺是感应加热金属熔炉，一步法罐式工艺。罐式工艺是将高放废液的蒸发浓缩液和玻璃形成剂同时分别加入金属罐中，金属罐用中频感应加热，分为若干区，废液在罐中蒸发，与玻璃形成剂一起熔融、澄清，最后从下端冻融阀排出熔制好的玻璃。
[0007]第2代熔制工艺是回转煅烧路+感应加热金属熔炉两步法工艺，这是在罐式工艺上发展起来的工艺，第1步骤中高放废液先在回转煅烧炉中煅烧成固态煅烧物，第2步把煅烧物与玻璃形成剂分别加入中频感应加热金属熔炉中，在那里熔铸呈玻璃，最后通过冻融阀注入玻璃储罐中。这种工艺的优点是能够进行连续生成，处理量较大，缺点是工艺比较复杂，熔炉寿命不够长。
[0008]第3代熔制工艺是焦耳加热陶瓷熔炉工艺，焦耳加热陶瓷熔炉(简称电熔炉)工艺最早是由美国太平洋西北实验室所开发，焦耳加热陶瓷熔炉采用电极加热，炉体由耐火陶瓷材料构成。高放废液与玻璃形成剂分别加入熔炉中，高放废液在熔炉中进行蒸发与玻璃形成剂一起熔铸成玻璃。熔制的玻璃由底部冻融阀或溢流口以批式或连续方式出料。焦耳加热陶瓷熔炉工艺处理量大，熔炉寿命比较长(约5年)，缺点是熔炉体积大，给退役带来困难，熔炉底部的贵金属可能会沉积，从而影响出料。
[0009]第4代熔制工艺是冷坩埚感应熔炉工艺。冷坩埚是采用高频感应进行加热，炉体外壁为水冷套管和高频感应圈，不使用耐火材料，也无需电极加热。高频(100
‑
13000kHz)感应加热使玻璃熔融，由于水冷套管中连续通过冷却水，因此炉内近套管处形成一层固态玻璃
壳体，熔融的玻璃责备包容在自冷固态玻璃层内，顶上通常还有一个冷罩，以限制易挥发物的释放。冷坩埚除了可以熔铸玻璃外，还可以用来熔融废金属、处理乏燃料包壳、焚烧高氯高硫的废塑料和废树脂等。
[0010]冷坩埚熔炉的优点是熔制温度高，可处理对象多，熔融的玻璃不直接与金属接触，腐蚀性小，炉体寿命较长，尾气处理也比较简单。基于此，冷坩埚技术是我国乃至全世界着力研究的热点技术。
[0011]无论采用上述的哪种反应容器进行玻璃固化处理，都需要使用测温装置来持续监测反应容器内的放射性熔融物的温度，然而如前述内容所述的，反应容器内通常拥有极高的温度，并且放射性熔融物通常具有较强的腐蚀性，这对测温装置的使用寿命带来了挑战，使用测温装置进行测温成本较高，并且使用测温装置进行测温通常需要操作人员调整测温装置的位置，涉及到的放射性操作较多，安全性较差。

技术实现思路

[0012]鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的用于放射性物质处理过程中获得放射性反应物不同部位温度的方法。
[0013]根据本专利技术的实施例提供一种用于放射性物质处理过程中获得放射性反应物不同部位温度的方法，所述放射性物质处理过程在放射性物质处理系统中进行，所述放射性物质在所述放射性物质处理系统中作为放射性反应物，所述方法包括如下步骤：建立温度获得模型，其中，所述温度获得模型基于向温度获得模型输入的所述放射性物质处理系统的运行参数，获得在该参数条件下所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位的温度；在放射性物质处理过程中，向所述温度获得模型中输入所述放射性物质处理系统当前的运行参数；获得所述温度获得模型输出的所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位当前的温度，其中，建立所述温度获得模型包括如下步骤：获取多组训练数据，每组所述训练数据包括：在第n时刻测得的所述放射性物质处理系统中所述放射性反应物不同部位的温度，以及在所述第n时刻下所述放射性物质处理系统的运行参数，n为不小于1的整数；使用所述多组训练数据对学习模型进行训练以建立所述温度获得模型。
[0014]可选地，所述放射性物质处理系统的运行参数包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统的运行功率的参数。
[0015]可选地，所述放射性物质处理系统的运行参数还包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统内的反应环境的参数。
[0016]可选地，所述放射性物质处理系统的运行参数还包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统内的所述放射性反应物的组分和/或物理状态的参数。
[0017]可选地，所述放射性反应物不同部位的温度包括：所述放射性反应物内部的温度；以及所述放射性反应物表面的温度。
[0018]可选地，获取所述多组训练数据中的每组所述训练数据时，包括如下步骤：在第n时刻测得所述放射性反应物内部至少一个部位的温度，根据所述放射性反应物内部至少一个部位的温度获得所述放射性反应物内部的温度；在所述第n时刻测得所述放射性反应物表面至少一个部位的温度，根据所述放射性反应物表面至少一个部位的温度获得所述放射性反应物表面的温度；以及获取所述放射性物质处理系统在所述第n时刻的运行参数。
[0019]可选地，所述在第n时刻测得所述放射性反应物内部至少一个部位的温度包括：在放射性物质处理过程中将第一测温装置的至少一个测温端置于所述放射性反应物的内部，其中，当所述第一测温装置的测温端为多个时，多个测温端置于所述放射性反应物内部的不同部位；在所述第n时刻读取所述第一测温装置输出的测温数据，以测得第n时刻所述放射性反应物内部的至少一个部位的温度。
[0020]可选地，所述放射性物质处理过程中，所述放射性反应物为熔融态物质和固态物质的混合物，所述将第一测温装置的至少一个测温端置于所述放射性反应物的内部包括：将所述第一测温装置的至少一个测温端置于所述放射性反应物中的所述熔融态物质内部。
[0021]可选地，所述在所述第n时刻测得所述放射性反应物表面至少一个部本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度获得方法，用于在放射性物质处理过程中获得放射性反应物不同部位的温度，所述放射性物质处理过程在放射性物质处理系统中进行，所述放射性物质在所述放射性物质处理系统中作为放射性反应物，所述方法包括如下步骤：建立温度获得模型，其中，所述温度获得模型基于向温度获得模型输入的所述放射性物质处理系统的运行参数，获得在该参数条件下所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位的温度；在放射性物质处理过程中，向所述温度获得模型中输入所述放射性物质处理系统当前的运行参数；获得所述温度获得模型输出的所述放射性物质处理系统中的放射性反应物不同部位当前的温度，其中，建立所述温度获得模型包括如下步骤：获取多组训练数据，每组所述训练数据包括：在第n时刻测得的所述放射性物质处理系统中所述放射性反应物不同部位的温度，以及在所述第n时刻下所述放射性物质处理系统的运行参数，n为不小于1的整数；使用所述多组训练数据对学习模型进行训练以建立所述温度获得模型。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述放射性物质处理系统的运行参数包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统的运行功率的参数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述放射性物质处理系统的运行参数还包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统内的反应环境的参数。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法，其中，所述放射性物质处理系统的运行参数还包括：一个或多个表征所述放射性物质处理系统内的所述放射性反应物的组分和/或物理状态的参数。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述放射性反应物不同部位的温度包括：所述放射性反应物内部的温度；以及所述放射性反应物表面的温度。6.根据权利要求5所述的方法，其中，获取所述多组训练数据中的每组所述训练数据时，包括如下步骤：在第n时刻测得所述放射性反应物内部至少一个部位的温度，根据所述放射性反应物内部至少一个部位的温度获得所述放射性反应物内部的温度；在所述第n时刻测得所述放射性反应物表面至少一个部位的温度，根据所述放射性反应物表面至少一个部位的温度获得所述放射性反应物表面的温度；以及获取所述放射性物质处理系统在所述第n时刻的运行参数。7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述在第n时刻测得所述放射性反应物内部至少一个部位的温度包括：在放射性物质处...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱冬冬，李玉松，鲜亮，汪润慈，张生栋，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：