一种探测方法及探测系统技术方案

技术编号:41529193 阅读:22 留言:0更新日期:2024-06-03 23:04
本申请涉及辐射探测技术领域,提供一种探测方法及探测系统,探测方法包括通过探测器获取粒子在探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系,其中,探测器响应于粒子产生信号并通过两个输出端输出,位置因子为两个输出端的信号的能量值之差与能量值之和两者的比值;通过探测器获取待测粒子的位置因子;根据待测粒子的位置因子和对应关系,获取待测粒子的位置。本申请实施例的探测方法,可以提高探测粒子的位置的精确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及辐射探测,尤其涉及一种探测方法及探测系统


技术介绍

1、相关技术中,探测粒子的位置对探测环境要求高,探测系统较为复杂且不易实现,导致探测精度不足。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请实施例期望提供一种探测方法及探测系统,可以提高探测粒子的位置的精准性。

2、本申请第一方面提供一种探测方法,包括:

3、通过探测器获取粒子在所述探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系,其中,所述探测器响应于所述粒子产生信号并通过两个输出端输出,所述位置因子为:两个所述输出端的信号的能量值之差与能量值之和两者的比值;

4、通过所述探测器获取待测粒子的位置因子;

5、根据所述待测粒子的位置因子和所述对应关系,获取所述待测粒子的位置。

6、一些实施例中,通过探测器获取粒子在所述探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系之前,所述探测方法包括:

7、获取所述探测器沿轴向的中心位置和对应的位置因子;

8、确定所述中心位置对应的位置因子符合均值本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种探测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于,通过探测器获取粒子在所述探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系之前,所述探测方法包括:

3.根据权利要求2所述的探测方法,其特征在于,获取所述探测器沿轴向的中心位置和对应的位置因子之前,所述探测方法包括:

4.根据权利要求3所述的探测方法,其特征在于,对所述探测器进行位置校准,包括:

5.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于,所述探测方法包括:

6.一种探测系统,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的探测系统,其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种探测方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于,通过探测器获取粒子在所述探测器沿轴向的不同位置与位置因子的对应关系之前,所述探测方法包括:

3.根据权利要求2所述的探测方法,其特征在于,获取所述探测器沿轴向的中心位置和对应的位置因子之前,所述探测方法包括:

4.根据权利要求3所述的探测方法,其特征在于,对所述探测器进行位置校准,包括:

5.根据权利要求1所述的探测方法,其特征在于,所述探测方法包括:

6.一种探测系统,其特征在于,包括:

7.根据权利要求6所述的探测系统,...

【专利技术属性】
技术研发人员:王超田华阳何高魁阙子昂赵江滨刘洋
申请(专利权)人:中国原子能科学研究院
类型:发明
国别省市:

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