传感器的校准方法、装置、设备和介质制造方法及图纸

技术编号:30272586 阅读:25 留言:0更新日期:2021-10-09 21:29
本发明专利技术提供一种传感器的校准方法、装置、设备和介质,其中,该方法包括:获取目标传感器检测到的三维姿态信息,所述目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;从存储器读取所述目标传感器的校准偏差值;其中,所述校准偏差值是根据所述姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值;根据姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息。通过从存储器读取目标传感器的校准偏差值,提高了校准效率。提高了校准效率。提高了校准效率。

【技术实现步骤摘要】
传感器的校准方法、装置、设备和介质


[0001]本专利技术涉及传感器领域,尤其涉及一种传感器的校准方法、装置、设备和介质。

技术介绍

[0002]目前,一些关于虚拟现实(Virtual Reality ,简称VR)、增强现实(Augmented Reality,简称 AR)等的头显设备或手柄,通常会通过检测头部在不同方向的转动,即检测设备在X、Y、Z 三轴上旋转的角度值,计算出设备的位移,指引全景画面中的特定部分跟随头动而显示。但是,在使用这些设备前,一般需要先通过3个转动角度的自由度(3Degree of freedom,简称3DOF)模式,即加速度6面校准、陀螺仪静置校准和地磁8字校准,实现初始定位。但是,这些校准通常都需要每次上电后重新校准一遍,比较浪费时间。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种传感器的校准方法、装置、设备和介质,通过从存储器读取目标传感器的校准偏差值,提高了校准效率。
[0004]第一方面,本专利技术提供了一种传感器的校准方法,包括:获取目标传感器检测到的三维姿态信息,所述目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;从存储器读取所述目标传感器的校准偏差值;其中,所述校准偏差值是根据所述姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值;根据姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息。
[0005]根据本专利技术提供的一种传感器的校准方法,所述根据所述姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的校准偏差值,包括:获取所述目标传感器检测到的三维姿态信息;根据姿态滤波算法对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息和所述校准偏差值;判断所述校准偏差值是否达到预设精度;若所述校准偏差值达到预设精度,将所述校准偏差值存储至所述存储器;若所述校准偏差值未达到预设精度,获取所述目标传感器检测到的三维姿态信息。
[0006]根据本专利技术提供的一种传感器的校准方法,所述获取目标传感器检测到的三维姿态信息之后,还包括:对所述目标传感器检测到的三维姿态信息进行坐标变换,得到所述目标传感器安装设备坐标系下的三维姿态信息;所述根据所述姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息,包括:根据所述姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述坐标变换后的三维姿态信息进行校准,得到所述目标三维姿态信息;所述根据姿态滤波算法对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息和所述校准偏差值,包括:根据姿态滤波算法对所述坐标变换后的三维姿态信息进行校准,得到所述目标三维姿态信息和所述校准偏差值。
[0007]第二方面,本专利技术还提供了一种传感器的校准装置,包括第一处理模块,用于获取目标传感器检测到的三维姿态信息,所述目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;第二处理模块,用于从存储器读取所述目标传感器的校准偏差值;其中,所述校准偏
差值是根据所述姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值;第三处理模块,用于根据姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息。
[0008]第三方面,本专利技术还提供一种头戴式设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现如上述任一种所述传感器的校准方法的步骤。
[0009]第四方面,本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述传感器的校准方法的步骤。
[0010]本专利技术提供的一种传感器的校准方法、装置、设备和介质,通过获取目标传感器检测到的三维姿态信息,目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;从存储器读取目标传感器的校准偏差值;其中,校准偏差值是根据姿态滤波算法对目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值;根据姿态滤波算法,通过校准偏差值对三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息。可以看出,从存储器读取的对应目标传感器的校准偏差值,是之前通过将三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值,因此,以后每次使用无需重新校准目标传感器,而是直接调取已存储的校准偏差值,这样能够更加快速和准确的得到目标三维姿态信息。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1是根据本专利技术提供的传感器的校准方法的一些实施例的流程示意图;图2a是根据本专利技术提供的关于传感器的校准方法的一个传感器结构的示意图;图2b是根据本专利技术提供的关于传感器的校准方法的一个应用场景的流程示意图;图2c是关于图2b的初始化步骤的一个应用场景的流程示意图;图2d是关于图2b的更新地磁数据的一个应用场景的流程示意图;图2e是关于图2b的更新IMU数据的一个应用场景的流程示意图;图3是根据本专利技术提供的传感器的校准装置的一些实施例的结构示意图;图4是根据本专利技术提供的头戴式设备的结构示意图。
具体实施方式
[0013]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本专利技术中的附图,对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0014]另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与有关专利技术相关的部分。在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0015]需要注意,本专利技术中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单
元进行区分,并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。
[0016]需要注意,本专利技术中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的,本领域技术人员应当理解,除非在上下文另有明确指出,否则应该理解为“一个或多个”。
[0017]本专利技术实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的,而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
[0018]下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0019]请参阅图1,图1是本专利技术提供的传感器的校准方法的一些实施例的流程示意图。如图1所示,该传感器的校准方法,包括以下步骤:步骤101,获取目标传感器检测到的三维姿态信息,目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪。
[0020]在一些实施例中,传感器是一种检测装置,能感受到被测量的信息,并能将感受到的信息,按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出,以满足信息的传本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器的校准方法,其特征在于,所述方法包括:获取目标传感器检测到的三维姿态信息,所述目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;从存储器读取所述目标传感器的校准偏差值;其中,所述校准偏差值是根据姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的偏差值;根据所述姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息。2.根据权利要求1所述的传感器的校准方法,其特征在于,所述根据姿态滤波算法对所述目标传感器的三维姿态信息进行校准得到的符合预设精度的校准偏差值,包括:获取所述目标传感器检测到的三维姿态信息;根据姿态滤波算法对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息和所述校准偏差值;判断所述校准偏差值是否达到预设精度;若所述校准偏差值达到预设精度,将所述校准偏差值存储至所述存储器;若所述校准偏差值未达到预设精度,获取所述目标传感器检测到的三维姿态信息。3.根据权利要求2所述的传感器的校准方法,其特征在于,所述获取目标传感器检测到的三维姿态信息之后,还包括:对所述目标传感器检测到的三维姿态信息进行坐标变换,得到所述目标传感器安装设备坐标系下的三维姿态信息;所述根据所述姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息,包括:根据所述姿态滤波算法,通过所述校准偏差值对所述坐标变换后的三维姿态信息进行校准,得到所述目标三维姿态信息;所述根据姿态滤波算法对所述三维姿态信息进行校准,得到目标三维姿态信息和所述校准偏差值,包括:根据姿态滤波算法对所述坐标变换后的三维姿态信息进行校准,得到所述目标三维姿态信息和所述校准偏差值。4.一种传感器的校准装置,其特征在于,所述装置包括:第一处理模块,用于获取目标传感器检测到的三维姿态信息,所述目标传感器包括加速度传感器、地磁传感器和陀螺仪;第二处理模块,用于从存储器读取所述目标传感器的校准偏差值...

【专利技术属性】
技术研发人员:张建明乔振
申请(专利权)人:北京亮亮视野科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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