液晶显示装置、缺陷像素检查方法和检查程序及存储介质制造方法及图纸

一种缺陷像素检查方法，包含步骤：对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示装置、用于液晶显示装置的缺陷像素检查方法、缺陷像素检查程序、以及存储介质，更为特别地本专利技术涉及像素缺陷的检查。
技术介绍
相关专利申请的交叉引用本专利技术包含的主题涉及于2005年6月13日在日本专利局提交的日本专利申请JP 2005-172222，该专利申请在此被引用作为参考。近年来，显示装置迅速变薄，例如液晶装置(LCD)已经变得非常流行。由于这种液晶显示装置具有低剖面、重量轻、和低功耗的特点，其在诸如特别是移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本个人计算机、以及便携TV的所谓移动终端中的应用已经得到增加。此外，液晶显示装置已经开始用于背投影仪、正投影仪等。在这种液晶显示装置中，有源矩阵液晶显示装置已经占主导。有源矩阵液晶显示装置按特定方式构造，其中提供其上设置有透明像素电极和薄膜晶体管(TFT)的衬底以及具有形成于整个显示部分上的一个透明电极的对置衬底，而且这些衬底置成相互对立并将液晶密封在其间。通过控制具有开关功能的TFT，对各个像素电极施加和像素分级相对应的电压(下文中称之为“分级电压”)，并在各个像素电极和对置衬底的电极之间产生电势差，由此改变液晶的透射率并允许显示图像。在其上排列了TFT的衬底上，排列了用于向各个像素电极施加分级电压的多个数据信号线以及用于施加控制信号以开关TFT的多个栅信号线。通过数据信号线对各个像素电极施加分级电压，并在图像显示的一个帧周期内，对连接到该数据信号线的所有像素电极施加分级电压，由此允许在液晶显示部分上显示图像。由提供于各个TFT的输出电极中的电容性元件(电容器)保持以这种方式施加于各个像素的分级电压，直到施加下一个分级电压为止。这种液晶显示装置通常为透射类型，但诸如硅上液晶(LCOS)的反射类型液晶显示装置最近已经开始被引入到市场中。对于这种LCOS，由于硅晶片可用作衬底，可以使用性能高于透射类型晶体管(其电路是由玻璃衬底上的多晶硅制成的)的晶体管。
技术实现思路
这种液晶显示装置是由大量的像素部分形成的。为了检查这些像素部分，采样了这样的方法实际上驱动液晶显示面板，通过图像处理装置分析在该显示面板上显示的图像以执行缺陷像素检查，或者通过视觉检查来检测缺陷像素。然而，在这种方法中，实际上驱动了液晶显示装置，并在显示图像之后进行检查。因此，这种测量耗费时间，而且无法在注入液晶之前执行这种检查。作为缺陷像素检查方法，也已经采用了使用LSI测试仪测量漏电流的方法。这种方法可测量到μA量级的漏电流。然而，在LCOS液晶显示装置中，上述电容性元件的电容为几十fF(毫微微法拉)。例如，对于10V信号在50fF保持10ms的规格，需要测量小于或等于50pA的漏电流，因此无法通过这种方法进行检查。因此，在日本未审查专利申请公开号2004-226551中，已经提出了能够高精度地检查其缺陷像素并缩短检查时间的液晶显示装置，以及用于这种液晶显示装置的检查方法。在该液晶显示装置中，在对一对像素部分中的每一个施加不同电压之后，对所有数据信号线施加相同电压作为参考电压，从而预充电该数据线，之后通过读取存储于一对像素部分中的电压并比较它们，检测缺陷像素。在日本未审查专利申请公开号2004-226551中公开的液晶显示装置中，当参考电压预充电数据信号线时，需要从输入端子输入参考电压。因此，需要在输入端子产生和写过程电压相对应的参考电压。此外，需要用于产生参考电压的电路和处理。因此，需要提供能够容易地预充电数据信号线而不产生用于预充电数据信号线的参考电压(下文中还称为“中间电压”)的液晶显示装置，以及用于该液晶显示装置的检查方法。根据本专利技术的实施例，提供了用于液晶显示装置的缺陷像素检查方法，该液晶显示装置包含多个像素部分，每个像素部分包含像素晶体管、连接到像素晶体管输出电极的电容性元件、以及基于保持于该电容性元件中的电压而执行灰度显示(gradation display)的液晶部分；该缺陷像素检查方法包含步骤对多个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分内像素晶体管的输入电极与第二像素部分内像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；并基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果而检测像素部分的缺陷。根据本专利技术的另一个实施例，提供了用于液晶显示装置的缺陷像素检查方法，该液晶显示装置包含多个像素部分，每个像素部分包含像素晶体管、连接到该像素晶体管的输出电极的电容性元件、以及基于电容性元件内所保持的电压而执行灰度显示的液晶显示部分，该缺陷像素检查方法包含步骤导通连接到该多个像素部分中第一像素部分的输入电极的第一晶体管从而对该输入电极施加第一电压，并导通第一像素部分的像素晶体管从而对第一像素部分的电容性元件施加第一电压；导通连接到该多个像素部分中第二像素部分的输入电极的第二晶体管从而对该输入电极施加第二电压，并导通第二像素部分的像素晶体管从而对第二像素部分的电容性元件施加第二电压；截止第一晶体管和第二晶体管并截止第一像素部分的像素晶体管和第二像素部分的像素晶体管；导通设于第一像素部分的像素晶体管的输入电极和第二像素部分的像素晶体管的输入电极之间的开关并保持预定时间段，由此使这些像素晶体管的输入电极短路；经过该预定时间段之后，导通第一像素部分的像素晶体管和第二像素部分的像素晶体管，并读取第一像素部分的电容性元件的电压和第二像素部分的电容性元件的电压；以及，比较第一像素部分的电容性元件的读取电压和第二像素部分的电容性元件的读取电压。根据本专利技术的实施例，可由读出放大器执行对第一像素部分的电容性元件的电压和第二像素部分的电容性元件的电压的比较。根据本专利技术的另一个实施例，提供了一种液晶显示装置，该液晶显示装置包含多个像素部分，每个像素部分包含像素晶体管、连接到该像素晶体管的输出电极的电容性元件、以及基于该电容性元件中所保持的电压而执行灰度显示的液晶部分；连接到该多个像素部分中第一像素部分的输入电极的第一数据信号线；连接到该多个像素部分中第二像素部分的输入电极的第二数据信号线；能够向第一数据信号线提供第一测试信号的第一晶体管；能够向第二数据信号线提供第二测试信号的第二晶体管；连接于第一像素部分的像素晶体管的控制电极与第二像素部分的像素晶体管的控制电极之间的栅信号线；设成连接于第一数据信号线和第二数据信号线之间的开关；以及用于比较第一数据信号线的电压和第二数据信号线的电压的比较电路，其中该开关使第一数据信号线和第二数据信号线电学短路，并可实现将第一数据信号线的电压和第二数据信号线的电压变为中间电压的控制。根据本专利技术实施例，该比较电路可以是读出放大器，该读出放大器可将第一像素部分的电容性元件的电压和第二像素部分的电容性元件的电压比较，并可放大和输出其差值。该液晶显示装置可进一步包含用于在第一测试信号和第二测试信号之间切换的电压反转输入电路。根据本专利技术另一个实施例，提供了用于检查液晶显示装置的像素部分缺陷的缺陷像素检查程序，该液晶显示装置包含多个像素部分，每个像素部分包含像素本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于液晶显示装置的缺陷像素检查方法，该液晶显示装置包含多个像素部分，每个像素部分包含像素晶体管、连接到像素晶体管的输出电极的电容性元件、以及基于保持于电容性元件中的电压而执行灰度显示的液晶部分；该缺陷像素检查方法包含步骤：对该多 个像素部分中第一像素部分的电容性元件以及第二像素部分的电容性元件施加不同的电压；导通设于第一像素部分中的像素晶体管的输入电极与第二像素部分中的像素晶体管的输入电极之间的开关，并将第一像素晶体管的输入电极与第二像素晶体管的输入电极短路 ；读取第一像素部分的电容性元件的电压以及第二像素部分的电容性元件的电压；以及基于第一像素部分的电容性元件的电压与第二像素部分的电容性元件的电压之间的比较结果检测像素部分的缺陷。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：清水目和年，宫泽一幸，古贺慎一，
申请(专利权)人：索尼株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]