平面显示器校调方法技术

一种平面显示器校调方法，包括下列步骤：初始设定平面显示器以及光学计量器。延迟一段预设时间。使用平面显示器显示测试图案。延迟另一段预设时间。使用光学计量器重复取得测试图案的测量数据，直到数据足够为止。然后，重复显示测试图案的步骤，直到已经显示过所有测试图案为止。最后，分析所有测量数据，以计算出平面显示器的控制电路所需的正确参数，并且将控制电路的参数设定为正确值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，且特别涉及一种用于设定控制电路参数的。
技术介绍
平面显示器(flat panel display)，例如薄膜液晶显示器(thin filmtransistor liquid crystal display，简称为TFT LCD)，是由众多的光学、化学与电路零件组成，其中影响亮度、色彩等显示特性的变因极多。例如在控制电路(controller)方面的变因包括解码器(decoder)、消除交错信号(de-interlace)，以及噪声过滤(noise filtering)。在LCD模块方面的变因包括背光源(backlight)、薄膜晶体管、彩色滤光片(colorfilters)。如果单独零件在大量制造时没有严格控管其性能，最后的产品之间的显示画质必然差异很大。为了将最终产品的画质差异控制在可接受的范围内，制造的厂商必须进行校调(calibration)。如果没做校调或没有做好，就会发生明显的副作用，例如色彩偏差(color-bias)、色温错误(color temperature error)、对比过低(low contrast)、或灰阶偏差(gray-bias)等。传统的校调流程如图1所示。首先，在步骤102显示测试图案，然后在步骤104用光学计量器(optics meter)取得测量数据，在步骤106分析测量数据。接下来，在步骤108计算控制电路所需的正确参数，并且以计算结果调整控制电路的各项参数。最后，在步骤110检查校调是否已经完成。如果需要进一步校调，就回到步骤102重复整个流程，否则流程至此结束。传统的校调方法有许多缺点。例如每一个测试图案只测量一次，容易产生误差。在步骤102的显示测试图案之前，以及步骤104的取得测量数据之前都没有延迟，平面显示器和光学计量器的不稳定瞬时会造成误差。除此之外，如果需要多种测试图案或多次测量，必须多次重复从显示测试图案、测量、分析、以至于调整参数的冗长流程，会浪费许多人员与设备的时间成本。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种，其优点为先取得多种测试图案的测量数据，然后集中分析，一次调整所有参数，以加速校调流程，节省时间成本。本专利技术的又一目的是提供一种，可针对同一测试图案进行多次测量，然后集中分析测量数据，以减少误差。本专利技术的另一目的是提供一种，其优点为在显示测试图案之前以及取得测量数据之前皆有一段延迟时间，以排除平面显示器和光学计量器的不稳定瞬时所造成的误差。本专利技术的再一目的是提供一种，同时具备以上三种的优点。为达到上述及其它目的，本专利技术提出一种，包括下列步骤(a)使用平面显示器显示多个测试图案，并取得上述测试图案的测量数据；以及(b)根据所有测量数据，设定平面显示器的控制电路的参数。为达到上述及其它目的，本专利技术提出一种，包括下列步骤(a)使用平面显示器显示测试图案；(b)重复取得测试图案的测量数据，直到测量数据足够为止；以及(c)根据所有测量数据，设定平面显示器的控制电路的参数。为达到上述及其它目的，本专利技术提出一种，包括下列步骤(a)初始设定平面显示器以及光学计量器。(b)延迟一段预设时间。(c)使用平面显示器显示测试图案。(d)延迟另一段预设时间。(e)使用光学计量器取得测试图案的测量数据。最后，(f)根据所有测量数据，设定平面显示器的控制电路的参数。为达到上述及其它目的，本专利技术提出一种，包括下列步骤(a)初始设定平面显示器以及光学计量器。(b)延迟一段预设时间。(c)使用平面显示器显示测试图案。(d)延迟另一段预设时间。(e)重复使用光学计量器取得测试图案的测量数据，直到测量数据足够为止。(f)检查是否已经显示过所有测试图案。(g)若尚有测试图案未显示，则回到步骤(c)，显示下一个测试图案。最后，(h)根据所有测量数据，设定平面显示器的控制电路的参数。如本专利技术的较佳实施例所述，本专利技术的可针对同一测试图案进行多次测量，然后集中分析测量数据，所以能减少误差。除此之外，本专利技术是先取得多种测试图案的测量数据，然后集中分析，一次调整所有参数，不需要重复分析、调整，所以能加速校调流程，节省时间成本。再者，本专利技术的流程在显示测试图案之前以及取得测量数据之前，皆有一段延迟时间以等待平面显示器和光学计量器进入稳定状态，所以能排除平面显示器和光学计量器的不稳定瞬时所造成的误差。为让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本专利技术之较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。附图说明图1为传统的流程图。图2为根据于本专利技术一实施例的的硬件流程图。图3为根据于本专利技术一实施例的的操作流程图。主要元件标记说明102～110流程图步骤 201测试图案产生器202主机203平面显示器204电源模块205光学计量器206校调程序207使用者界面301～320流程图步骤具体实施方式图2为根据本专利技术一实施例的的硬件流程图。在本实施例中，校调程序206会通过使用者界面207接受使用者操作，掌控整个流程。首先，由测试图案产生器201产生测试图案，提供给主机202。主机202接受电源模块204的电源供应，并且驱动平面显示器203以显示测试图案。然后，由光学计量器205测量平面显示器203显示的测试图案，取得各项数据。最后，校调程序206会收集上述的测量数据，进行分析，然后将平面显示器203的控制电路的相关参数设定为正确值。一般平面显示器需要校调的显示特性有很多种，例如亮度、色彩、条纹显示等。针对不同的显示特性，平面显示器203要显示不同的测试图案，光学计量器205会产生不同的测量数据，最后接受调整、设定的控制电路参数也不尽相同。在本实施例中，测试图案的种类至少包括全黑、全白、灰阶全系列、红色全系列、绿色全系列、蓝色全系列、肤色、天蓝色、草绿色、条纹排列组合、以及动态图像等。所谓的“全系列”是指同一色系的全系列色彩，包含了从最低到最高的各种灰阶值(gray scale)。至于本实施例的完整流程，请参照图3。图3为根据本实施例的的操作流程图，流程从步骤301开始。首先，在步骤301执行校调程序的防拷检查。这里的防拷检查可以包含任意数量的项目，视使用者需求而定，例如检查使用者输入的密码是否正确，检查防拷装置(例如俗称的Key Pro(商品名))是否存在，以及其它检查。如果校调程序要搭配特定的硬件才能执行，例如必须在嵌入式系统(embedded system)执行，上述的防拷检查还可以包括检查硬件序号是否正确，以及检查储存于硬件的数据(例如预设的识别文字或数码)是否正确。如果步骤301的防拷检查全数通过，就执行下一个步骤302。反之，如果有任何一项防拷检查没通过，流程就直接结束。通过防拷检查之后，在步骤302初始设定平面显示器以及光学计量器，在步骤304延迟一段预设时间，在步骤306使用平面显示器显示第一个测试图案，然后在步骤308延迟另一段预设时间。接下来，在步骤310使用光学计量器取得测试图案的测量数据。然后在步骤312检查目前测试图案的测量数据是否已经足够。如果数据还不够，流程会回到步骤310以取得更多测量数据。如果数据已经足够，就进入步骤314。接下来，在步骤314检查是否已经显示过所有测试图案。如果尚有测试图案未显示，就到步骤316选择下一个图案，然后回本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面显示器校调方法，其特征是包括下列步骤：（ａ）使用平面显示器显示多个测试图案，并取得上述这些测试图案的测量数据；以及（ｂ）根据所有测量数据，设定该平面显示器的控制电路的参数。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：沈毓铨，黄伟哲，
申请(专利权)人：联咏科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]