电源性能测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提出一种电源性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，属于电子技术领域。其中，该方法包括：根据电源与目标芯片的连接关系，确定电源与目标芯片对应的等效电路；根据等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值；根据等效电路中各电容与目标芯片之间的距离，确定目标电容；根据目标电容与目标芯片之间的距离，确定目标仿真电路中的电感值；利用预设的仿真求解器对目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线；根据目标阻抗曲线与目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定电源性能。由此，通过这种电源性能测试方法，大大降低了仿真区域，提高了电源性能测试的效率。提高了电源性能测试的效率。提高了电源性能测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
电源性能测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种电源性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在电子设备出厂前，通常需要对电子设备中电源对各芯片的供电性能进行仿真，以判断电源的性能是否符合要求。
[0003]相关技术中，通常对电源与芯片间的整个等效电路进行仿真。然而，在一些大型的设计中，由于电源网络的区域非常大、结构复杂，从而导致求解的速度很慢。

技术实现思路

[0004]本申请提出的电源性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决相关技术中，对电源与芯片间的整个等效电路进行仿真以确定电源性能的方式，在电源网络的区域大、结构复杂时，求解速度很慢的问题。
[0005]本申请一方面实施例提出的电源性能测试方法，包括：根据电源与目标芯片的连接关系，确定所述电源与所述目标芯片对应的等效电路；根据所述等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值；根据所述等效电路中各电容与所述目标芯片之间的距离，确定目标电容；根据所述目标电容与所述目标芯片之间的距离，确定所述目标仿真电路中的电感值；利用预设的仿真求解器对所述目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线；根据所述目标阻抗曲线与所述目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定所述电源性能。
[0006]本申请另一方面实施例提出的电源性能测试装置，包括：第一确定模块，用于根据电源与目标芯片的连接关系，确定所述电源与所述目标芯片对应的等效电路；第二确定模块，用于根据所述等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值；第三确定模块，用于根据所述等效电路中各电容与所述目标芯片之间的距离，确定目标电容；第四确定模块，用于根据所述目标电容与所述目标芯片之间的距离，确定所述目标仿真电路中的电感值；生成模块，用于利用预设的仿真求解器对所述目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线；第五确定模块，用于根据所述目标阻抗曲线与所述目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定所述电源性能。
[0007]本申请再一方面实施例提出的电子设备，其包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如前所述的电源性能测试方法。
[0008]本申请再一方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述程序被处理器执行时实现如前所述的电源性能测试方法。
[0009]本申请又一方面实施例提出的计算机程序，该程序被处理器执行时，以实现本申请实施例所述的电源性能测试方法。
[0010]本申请实施例提供的电源性能测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及
计算机程序，通过根据电源与目标芯片的连接关系，确定电源与目标芯片对应的等效电路，并根据等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值，以及根据等效电路中各电容与目标芯片之间的距离，确定目标电容，之后根据目标电容与目标芯片之间的距离，确定目标仿真电路中的电感值，进而利用预设的仿真求解器对目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线，以根据目标阻抗曲线与目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定电源性能。由此，通过等效电路中各电容与目标芯片之间的距离，对等效电路进行简化，以生成目标仿真电路，从而大大降低了仿真区域，提高了电源性能测试的效率。
[0011]本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0012]本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0013]图1为本申请实施例所提供的一种电源性能测试方法的流程示意图；
[0014]图2为一种简单的电源网络对应的等效电路；
[0015]图3为本申请实施例所提供的另一种电源性能测试方法的流程示意图；
[0016]图4为目标阻抗曲线与预设阻抗曲线在同一坐标系中的示意图；
[0017]图5为本申请实施例提供的一种电源性能测试装置的结构示意图；
[0018]图6为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0019]下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的要素。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
[0020]本申请实施例针对相关技术中对电源与芯片间的整个等效电路进行仿真以确定电源性能的方式，在电源网络的区域大、结构复杂时，求解速度很慢的问题，提出一种电源性能测试方法。
[0021]本申请实施例提供的电源性能测试方法，通过根据电源与目标芯片的连接关系，确定电源与目标芯片对应的等效电路，并根据等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值，以及根据等效电路中各电容与目标芯片之间的距离，确定目标电容，之后根据目标电容与目标芯片之间的距离，确定目标仿真电路中的电感值，进而利用预设的仿真求解器对目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线，以根据目标阻抗曲线与目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定电源性能。由此，通过等效电路中各电容与目标芯片之间的距离，对等效电路进行简化，以生成目标仿真电路，从而大大降低了仿真区域，提高了电源性能测试的效率。
[0022]下面参考附图对本申请提供的电源性能测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序进行详细描述。
[0023]图1为本申请实施例所提供的一种电源性能测试方法的流程示意图。
[0024]如图1所示，该电源性能测试方法，包括以下步骤：
[0025]步骤101，根据电源与目标芯片的连接关系，确定电源与目标芯片对应的等效电路。
[0026]其中，目标芯片，是指当前与电源连接的任意一个芯片。需要说明的是，电子设备中的电源可以同时与多个芯片进行连接，以对多个芯片进行供电。因此，在对电源的性能进行测试时，可以分别对电源对每个芯片的供电性能进行测试。
[0027]在本申请实施例中，可以根据电源与目标芯片在电路板中的实际连接关系，确定电源与目标芯片对应的等效电路，以在后续过程中对等效电路进行仿真，确定电源的性能。
[0028]作为一种可能的实现方式，可以根据电源中包括的电容以及连接电源与目标芯片的电路板的参数信息，确定电源与目标芯片对应的等效电路。即在本申请实施例一种可能的实现形式中，上述步骤101，可以包括：
[0029]根据电源中包括的各电容的电容值、及用于连接电源与目标芯片的电路板的第二参数信息，确定电源对应的等效电路，其中，第二参数信息，包括电路板中的走线长度、宽度、高度、介质层的相对介电常数及介质材料的损耗角。
[0030]在本申请实施例中，由于电源中包括多个电容，电源的电容与目标芯片的引脚通过在电路板中走线进行连接，而电源的电容与目标芯片的引脚之间的走线会产生寄生电感和电阻。因此，可以根据电源中包括的各电容的电容值、电路板中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电源性能测试方法，其特征在于，包括：根据电源与目标芯片的连接关系，确定所述电源与所述目标芯片对应的等效电路；根据所述等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值；根据所述等效电路中各电容与所述目标芯片之间的距离，确定目标电容；根据所述目标电容与所述目标芯片之间的距离，确定所述目标仿真电路中的电感值；利用预设的仿真求解器对所述目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线；根据所述目标阻抗曲线与所述目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定所述电源性能。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述等效电路中各电容的容值，确定目标仿真电路中的电容值，包括：将所述等效电路中各电容的容值之和，确定为所述目标仿真电路中的电容值。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述等效电路中各电容与所述目标芯片之间的距离，确定目标电容，包括：将所述等效电路中与所述目标芯片之间的距离最小的电容，确定为所述目标电容。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用预设的仿真求解器对所述目标仿真电路进行仿真，生成目标阻抗曲线，包括：利用预设的仿真求解器，根据所述目标电容与所述目标芯片之间电路板的第一参数信息、所述等效电路中包括的各电容的容值、封装尺寸及目标电容与所述目标芯片之间的距离对所述目标仿真电路进行仿真，生成所述目标阻抗曲线，其中，所述第一参数信息包括所述电路板的信号层的厚度、介质层的厚度、相对介电常数及损耗角。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标阻抗曲线与所述目标芯片对应的预设阻抗曲线，确定所述电源性能，包括：在所述目标阻抗曲线的最大值小于所述预设阻抗曲线的最小...

【专利技术属性】
技术研发人员：冼鹏伟，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：