本发明专利技术公开了检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，包括读数显微镜主体、支撑机构、一对固定机构、一对提示机构；读数显微镜主体用于检测布氏硬度计实验压痕；支撑机构与读数显微镜主体相连接，支撑机构包括底座，底座上对称开凿有一对滑槽；一对固定机构分别滑动设于一对滑槽内，固定机构包括按压件，按压件内开凿有调节槽。本发明专利技术通过相应机构的设置，便于使用者选择式的固定与释放读数显微镜，使用者无需进行手持固定操作，大幅降低使用者手部细微变化对于读数显微镜与压痕位置造成的影响，进而可以大大降低读数显微镜读数时产生的误差，保证使用者读数的准确性，从而可以保证使用者对于试样综合性能准确无误的判断。对于试样综合性能准确无误的判断。对于试样综合性能准确无误的判断。
【技术实现步骤摘要】
检测布氏硬度计实验压痕用检测装置
[0001]本专利技术属于检测装置
，具体涉及检测布氏硬度计实验压痕用检测装置。
技术介绍
[0002]布氏硬度计是测量金属布氏硬度的精密计量仪器，其主要用于铸铁、钢材、有色金属及软合金等材料的硬度测定，布氏硬度试验是所有硬度试验中压痕最大的一种试验法，它能反映出材料的综合性能，不受试样组织显微偏析及成分不均匀的影响，所以它是一种精度较高的硬度试验法。
[0003]布氏硬度计的工作原理是把一定直径的钢球，在一定试验力作用下，以一定的速度压入试样表面，经规定的试验力保持时间后卸除试验力，以试样压痕球形表面积上的平均压力来表示金属的布氏硬度值，以此来判断试样的各项性能。
[0004]在针对试样压痕进行检测时，需要用到压痕检测装置，现有的压痕检测装置一般为读数显微镜，其在使用时，为了保证测量的准确性，需要与压痕的位置保持相对固定，但现有的读数显微镜一般都是直接手持固定于试样表面，使用者手部细微的变化都会使读数显微镜与压痕的位置发生相对变化，进而影响读数显微镜对于压痕直径的正常测量结果，容易造成测量上的误差，从而影响使用者对于试样综合性能的判断。
[0005]因此，针对上述技术问题，有必要提供检测布氏硬度计实验压痕用检测装置。
技术实现思路
[0006]本专利技术的目的在于提供检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，以解决上述的读数显微镜因不能完全与试样固定而造成测量误差的问题。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术一实施例提供的技术方案如下：检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，包括读数显微镜主体、支撑机构、一对固定机构、一对提示机构；所述读数显微镜主体用于检测布氏硬度计实验压痕；所述支撑机构与所述读数显微镜主体相连接，所述支撑机构包括底座，所述底座上对称开凿有一对滑槽；一对所述固定机构分别滑动设于一对所述滑槽内，所述固定机构包括按压件，所述按压件内开凿有调节槽，所述调节槽内滑动连接有固定柱，所述按压件与固定柱之间连接有选择性释放机构，所述固定柱上固定连接有磁铁块；所述提示机构包括电源，所述磁铁块的侧壁上连接有金属块，所述底座内设有接触片和线路板，所述线路板上安装有多个均匀分布的提示灯，所述电源与金属块和线路板电性连接，所述接触片与线路板电性连接。
[0008]进一步地，所述底座上设有容纳槽，用于磁铁块的滑动，为磁铁块的滑动预留一定的空间，所述容纳槽与所述滑槽相连通，所述容纳槽与所述磁铁块对应设置。
[0009]进一步地，所述容纳槽的侧壁上开凿有限位槽，用于容纳金属块和接触片，也可以
利用金属块对磁铁块的滑动起到一定的限位作用，避免磁铁块完全滑出容纳槽，所述金属块和接触片均设于限位槽内。
[0010]进一步地，所述选择性释放机构包括滑杆，所述滑杆与所述固定柱固定连接，用于安装活动释放件，利用活动释放件在滑杆上的滑动，来实现固定柱的选择性释放，保证对于支撑机构的固定效果；所述滑杆的外侧套设有活动释放件，用于选择性释放固定柱；所述滑杆远离固定柱的一端固定连接有卡位件，一方面可以限位活动释放件，避免活动释放件完全滑出滑杆，另一方面可以方便限位柱的卡合，实现固定柱与试样之间的分离，以便使用者能够轻松的移动读数显微镜主体和支撑机构。
[0011]进一步地，所述固定柱、活动释放件和卡位件的最大直径相等，便于限位柱的卡合与释放，即当使用者按压一次按压件时，限位柱先收缩，然后可以卡合在卡位件上，进而可以实现固定柱和磁铁块与试样的脱离，便于使用者轻松移动读数显微镜主体和支撑机构；当使用者再次下压按压件时，限位柱收缩并卡合到活动释放件上，当使用者松开按压件时，按压件在弹性件的弹性作用下上升，并带动活动释放件上升，当活动释放件与卡位件接触时，限位柱收缩脱离活动释放件和卡位件的卡合，此时固定柱与限位柱分离，固定柱上的磁铁块吸引试样，完成支撑机构整体的固定，使得读数显微镜主体在检测时固定牢固，避免读数显微镜主体和试样之间发生相对位移，保证读数显微镜主体的检测准确性。
[0012]进一步地，所述按压件的侧壁上开凿有一对限位腔，用于限位柱的滑动，所述限位腔与所述调节槽相连通；所述限位腔内滑动设有限位柱，用于实现固定柱的卡合与释放，便于使用者选择式的固定或释放支撑机构，便于使用者更好的检测试样压痕。
[0013]进一步地，所述限位柱位于所述限位腔内的侧壁上连接有限位环，用于起到限位的作用，避免限位柱完全滑出限位腔；所述限位环与所述限位腔侧壁之间连接有增压弹簧，所述增压弹簧设于限位柱的外侧，用于增加限位柱在自然状态下的卡合效果，即限位柱的一端处于调节槽内。
[0014]进一步地，所述底座上设有多个通气腔，所述通气腔与所述限位腔相连通，用于释放限位腔内的压力，使得限位柱能够更好的进行滑动。
[0015]进一步地，所述滑槽内设有弹性件，所述弹性件与所述调节槽对应设置，使得按压件在不受压力时，可以实现自然回弹。
[0016]进一步地，所述磁铁块上连接有气囊，用于增加磁铁块与试样表面之间的接触效果，所述气囊内设有多个均匀分布的挤压柱，当磁铁块吸引靠近试样时，磁铁块会挤压气囊内的挤压柱，进而可以使得气囊的表面产生凹凸感，从而可以增加气囊表面的粗糙程度，增加支撑机构与试样固定时的防滑效果。
[0017]与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：本专利技术通过相应机构的设置，便于使用者选择式的固定与释放读数显微镜，使用者无需进行手持固定操作，大幅降低使用者手部细微变化对于读数显微镜与压痕位置造成的影响，进而可以大大降低读数显微镜读数时产生的误差，保证使用者读数的准确性，从而可以保证使用者对于试样综合性能准确无误的判断。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术一实施例中检测布氏硬度计实验压痕用检测装置的固定状态部分剖面图；图2为图1中A处结构示意图；图3为图1中B处结构示意图；图4为图1中C处结构示意图；图5为本专利技术一实施例中检测布氏硬度计实验压痕用检测装置的脱离状态部分结构剖面图；图6为图5中D处结构示意图；图7为图5中E处结构示意图；图8为本专利技术一实施例中检测布氏硬度计实验压痕用检测装置的立体图；图9为本专利技术一实施例中检测布氏硬度计实验压痕用检测装置的另一角度立体图。
[0020]图中：1.读数显微镜主体、2.支撑机构、201.底座、202.滑槽、203.通气腔、204.容纳槽、205.限位槽、3.固定机构、301.按压件、302.调节槽、303.固定柱、304.磁铁块、305.滑杆、306.活动释放件、307.卡位件、308.限位腔、309.限位柱、310.限位环、311.增压弹簧、312.弹性件、313.气囊、314.挤压柱、4.提示机构、401.电源本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，其特征在于，包括：读数显微镜主体（1），用于检测布氏硬度计实验压痕；支撑机构（2），与所述读数显微镜主体（1）相连接，所述支撑机构（2）包括底座（201），所述底座（201）上对称开凿有一对滑槽（202）；一对固定机构（3），分别滑动设于一对所述滑槽（202）内，所述固定机构（3）包括按压件（301），所述按压件（301）内开凿有调节槽（302），所述调节槽（302）内滑动连接有固定柱（303），所述按压件（301）与固定柱（303）之间连接有选择性释放机构，所述固定柱（303）上固定连接有磁铁块（304）；一对提示机构（4），所述提示机构（4）包括电源（401），所述磁铁块（304）的侧壁上连接有金属块（402），所述底座（201）内设有接触片（403）和线路板（404），所述线路板（404）上安装有多个均匀分布的提示灯（405），所述电源（401）与金属块（402）和线路板（404）电性连接，所述接触片（403）与线路板（404）电性连接。2.根据权利要求1所述的检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，其特征在于，所述底座（201）上设有容纳槽（204），所述容纳槽（204）与所述滑槽（202）相连通，所述容纳槽（204）与所述磁铁块（304）对应设置。3.根据权利要求2所述的检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，其特征在于，所述容纳槽（204）的侧壁上开凿有限位槽（205），所述金属块（402）和接触片（403）均设于限位槽（205）内。4.根据权利要求1所述的检测布氏硬度计实验压痕用检测装置，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：周浩然，贾祥义，李涛涛，
申请(专利权)人：江苏众力合创精密机械科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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