用于补偿平板显示器的显示缺陷的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于控制平板显示器的图像质量的方法和装置，其能对显示面板上出现的显示缺陷进行电补偿。用于补偿平板显示器的显示缺陷的方法包括读取显示面板的识别信息；基于第一输入信息和识别信息产生表示显示面板的显示缺陷位置和显示缺陷形式的位置信息；基于第二输入信息产生用于补偿显示缺陷程度的补偿值；将位置信息和补偿值存储在存储器中；并且从存储器读取位置信息和补偿值，通过补偿值调制将要在显示缺陷位置处显示的数据，并在显示面板上显示调制的数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种平板显示器，尤其涉及一种用于控制平板显示器的图像质 量的方法和装置，其能够对显示面板上出现的显示缺陷进行电补偿。
技术介绍
平板显示器的例子包括液晶显示器(LCD)、场发射显示器(FED)、等 离子体显示面板(PDP)和有机发光二极管显示器(OLED)，它们大多数都 已经投入使用并在商业上可获得。因为LCD满足了电子应用的趋势，如轻、薄、紧凑和小型化并具有出色 的大规模生产率，所以LCD已经快速替代了阴极射线管。尤其是，使用薄膜晶体管(之后将其称作"TFT")驱动液晶单元的有源 矩阵型LCD具有出色的图像质量和较低的能耗，且通过最近的大规模生产技 术以及研究和发展的结果，其已经快速发展为实现高分辨率并且增加器件的屏 幕尺寸。在大多数平板显示器中，在制造工序中使用光刻工序来构图像素阵列的精 细信号线或电极。光刻工序包括曝光、显影和蚀刻工序。在光刻工序中，由于曝光量的变化，在测试最终显示面板的工序中会出现 具有与正常显示表面不同亮度和色度的显示缺陷(显示斑点)。该显示缺陷是 由于光刻工序中曝光量的变化而变得与正常显示表面不同的显示缺陷，其由诸 如由于TFT的栅极与漏极之间的交迭区域、衬垫料的高度、信号线之间的寄 生电容以及信号线与像素电极之间的寄生电容导致。图1和2分别是显示其中在显示缺陷中包含垂直线缺陷和水平线缺陷的情 形的示意图。如图1和2中所示，在大的母基板上同时形成多个像素阵列Al到A18或 Bl到B6的工序中使用的曝光装置包括其中多个透镜10设置成两行并彼此以 预定宽度GW交迭的多透镜(multi-lens)。在像素阵列Al到A18或Bl到 B6中，多条数据线和多条栅极线彼此交叉，在交点处形成有TFT,且像素电 极以矩阵形式设置。在像素阵列Al到A18或Bl到B6中，形成有用于保持 盒间隙的柱状衬垫料。通过划线工序分割像素阵列Al到A18或Bl到B6。在 图1中，箭头和数字表示透镜10的扫描方向和扫描顺序。也就是说，曝光装 置的多透镜在从右侧移动到左侧①，从左侧移动到右侧②，在向上移动之后从 右侧移动到左侧③，从左侧移动到右侧④，在向上移动之后从右侧移动到左侧 ，从左侧移动到右侧⑥的同时顺序曝光像素阵列Al到A18或Bl到B6。曝光装置的透镜IO具有各自的像差，并且透镜的相差彼此不同。因此， 涂敷在母基板12上的光致抗蚀剂接收的光量和光分布根据透镜10的位置和透 镜10的交迭宽度而变化。由于光致抗蚀剂的曝光量根据透镜10的位置和透l竟 10的交迭宽度GW而变化，所以显影工序之后的光致抗蚀剂图案根据透镜10 的位置和透镜10之间的交迭宽度而变化。结果，TFT的栅极和漏极之间的交 迭区域在像素阵列Al到A18或Bl到B6的显示表面中部分地变化，像素电 压根据显示表面的位置而变化，像素阵列Al到A18的柱状衬垫料的高度根据 显示表面的位置而变化，并且盒间隙部分地变化。当在划分像素阵列Al到 A18或Bl到B6之后完成所有的制造工序并向平板显示器的所有像素供给相 同数据时，出现了垂直线或水平线形式的显示缺陷。显示缺陷显现为沿曝光装 置的多透镜的移动方向延伸，并且垂直线和水平线根据多透镜10的移动方向 或设置在母基板12上的像素阵列Al到A18或Bl到B6的设置方向而变化。 例如，如果如图1中所示在母基板12上垂直设置有18个小像素阵列Al到 A18，则在像素阵列A1到A18中出现垂直线。如图2中所示，如果在母基板 12上水平设置有六个中/大像素阵列Bl到B6，则在像素阵列Bl到B6中出现 水平线。显示缺陷显现为以垂直线或水平线的形式沿曝光装置的多透镜的移动方 向延伸，并且垂直线和水平线根据多透镜的移动方向或设置在母基板上的像素 阵列的设置方向而变化。为了解决垂直线或水平线形式的显示缺陷，通常使用下述方法，即检査照相掩模的精度以改善掩模或调整多透镜的排列。然而，该方法不能阻止出现垂 直线或水平线的现象。为了克服现有技术的限制，本申请人提出了一种方法， 即选择将要在显示缺陷区域中显示的数据并通过调制该数据而补偿显示缺陷区域的亮度，韩国专利申请No.lO-2006-0059300中公开了该方法。然而，因为垂直线缺陷和水平线缺陷具有不同的亮度分布，所以通过补偿 以任一形式出现的缺陷的方法很难补偿以不同形式出现的缺陷的亮度。
技术实现思路
因此，本专利技术涉及一种用于补偿平板显示器的显示缺陷的方法和装置，其 基本上克服了由于现有技术的限制和缺点而导致的一个或多个问题。本专利技术的目的是提供一种控制平板显示器的图像质量的方法和装置，其能 使用面板的识别信息和显示缺陷的信息，根据显示缺陷特性自动产生补偿数据 并使用该补偿数据对显示缺陷进行电补偿。在下面的描述中将部分列出本专利技术其它的优点，目的和特征，且根据下面 的解释，部分对于本领域熟练技术人员是显而易见的，或者可从本专利技术的实践 领会到。通过所写说明书及其权利要求以及附图中特别指出的结构可实现和获 得本专利技术的目的和其它优点。为了实现这些目的和其它优点并根据本专利技术的目的，如这里具体化和广泛 描述的，提供了一种补偿平板显示器的显示缺陷的方法，该方法包括读取显 示面板的识别信息；基于第一输入信息和识别信息产生表示显示面板的显示缺 陷位置和显示缺陷形式的位置信息；基于第二输入信息产生用于补偿显示缺陷 程度的补偿值；将位置信息和补偿值存储在存储器中；和从存储器读取位置信 息和补偿值，通过补偿值调制将要在显示缺陷位置处显示的数据，并在显示面 板上显示调制的数据。将补偿值优化，从而其根据将要在显示缺陷位置处显示的数据的灰度级区 域而变化。该灰度级区域包括中灰度级区段、具有比中灰度级区段低的灰度级的低灰 度级区段和具有比中灰度级区段高的灰度级的高灰度级区段，高灰度级区段的 补偿值高于中灰度级区段的补偿值，中灰度级区段的补偿值高于低灰度级区段 的补偿值。该方法进一步包括输入包括坐标值的第一信息，该坐标值表示显示缺陷的位置；和输入包括缺陷级别信息的第二信息，该缺陷级别信息表示缺陷程度。 坐标值表示显示缺陷的起始点和终点。 缺陷级别信息根据缺陷程度而变化。显示缺陷的位置信息包括基于显示缺陷的起始点确定的左侧梯度补偿区 域的位置信息、基于显示缺陷的终点确定的右侧梯度补偿区域的位置信息、和 夹在左侧梯度补偿区域与右侧梯度补偿区域之间的中心补偿区域的位置信息。左侧梯度补偿区域的位置信息包括表示在左侧梯度补偿区域中位于显示 缺陷起始点右侧的区段的位置信息以及表示在左侧梯度补偿区域中位于显示 缺陷起始点左侧的区段的位置信息。右侧梯度补偿区域的位置信息包括表示在右侧梯度补偿区域中位于显示 缺陷终点右侧的区段的位置信息以及表示在右侧梯度补偿区域中位于显示缺 陷终点左侧的区段的位置信息。根据缺陷级别信息，中心补偿区域的补偿值被确定为显示缺陷中的最高 值，梯度补偿区域的补偿值被确定为在中心补偿区域的补偿值和0之间的值， 梯度补偿区域实质上被分为分别施加有补偿值的多个区段，这些区段的补偿值 逐渐变化。在本专利技术的另一方面中，提供了一种用于补偿平板显示器的显示缺陷的装 置，该装置包括显示面板；程序执行器，其读取显示面板的识别信息，基于第一输入信息和识别信息产生表示显示面板的显示缺陷位置和显示缺本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种补偿平板显示器的显示缺陷的方法，包括：读取显示面板的识别信息；基于第一输入信息和识别信息，产生表示显示面板的显示缺陷位置和显示缺陷形式的位置信息；基于第二输入信息产生用于补偿显示缺陷程度的补偿值；将位置信息和补偿值存储在存储器中；和从存储器读取位置信息和补偿值，通过补偿值调制将要在显示缺陷位置处显示的数据，并在显示面板上显示调制的数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：金惠珍，
申请(专利权)人：乐金显示有限公司，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]