本发明专利技术公开了一种硬复位式数据的测试方法和装置，方法包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。本发明专利技术能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。实时分析内存性能。实时分析内存性能。
【技术实现步骤摘要】
一种硬复位式数据的测试方法和装置
[0001]本专利技术涉及测试领域，更具体地，特别是指一种硬复位式数据的测试方法和装置。
技术介绍
[0002]随着信息化时代的高速发展，互联网，人工智能等技术覆盖了社会的各个领域，这对服务器的数据处理能力及网络数据的传输能力都有了更高的要求。内存条作为“桥梁”在服务器中负责如硬盘、主板、显卡等硬件与处理器之间执行数据交换和处理任务，对于服务器性能发挥着重要作用。
[0003]RMT是内存位宽余量测试，测试结果直接反映了服务器主板上内存的性能，而在测试过程中需要收集大量的RMT数据来进行性能的分析，而要想获得有效的RMT数据，则需要人为手动的开启并关闭一次串口工具来获得，这就会在获取数据这方面浪费大量的人力，无法快速及时获取数据并分析内存性能。
[0004]针对现有技术中RMT消耗人工、效率低下、数据处理缓慢的问题，目前尚无有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术实施例的目的在于提出一种硬复位式数据的测试方法和装置，能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。
[0006]基于上述目的，本专利技术实施例的第一方面提供了一种硬复位式数据的测试方法，包括执行以下步骤：
[0007]使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；
[0008]响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；
[0009]响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；
[0010]响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。
[0011]在一些实施方式中，硬复位式数据为内存位宽余量测试数据。
[0012]在一些实施方式中，方法还包括：在使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令之前，先激活基本输入输出系统的内存位宽余量工具和串口调试模式；系统日志中包括内存位宽余量测试数据。
[0013]在一些实施方式中，使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志包括：由基本输入输出系统基于内存位宽余量工具输出包括内存位宽余量测试数据的系统日志，并使用存储芯片通过串口调试模式获取系统日志，并存储。
[0014]在一些实施方式中，方法还包括：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指
令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统；
[0015]从存储芯片中读取系统日志，并使用硬复位式数据开始关键字和硬复位式数据结束关键字从系统日志中截取出硬复位式数据。
[0016]在一些实施方式中，硬件开关为跳帽；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出高电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出高电平；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试停用指令，使测试控制芯片控制存储芯片停用数据自动收集功能以断电基本输入输出系统包括：使用跳帽向测试控制芯片发出低电平，使测试控制芯片向存储芯片的硬复位式数据使能端发出低电平。
[0017]在一些实施方式中，方法还包括：响应于存储芯片从带外管理器获取针对硬复位式数据的读取指令，而向带外管理器输出硬复位式数据或系统日志。
[0018]在一些实施方式中，方法还包括：在使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统的同时，还由测试控制芯片向供电控制芯片发出误触发保险指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统包括：响应于供电控制芯片同时接收到重置指令和误触发保险指令而断电基本输入输出系统。
[0019]在一些实施方式中，方法还包括：响应于测试控制芯片检测到存储芯片中存储的系统日志的总大小已经达到或超过存储安全阈值而复位存储芯片以清除存储芯片中存储的所有系统日志。
[0020]本专利技术实施例的第二方面提供了一种装置，包括：
[0021]处理器；
[0022]控制器，存储有处理器可运行的程序代码，处理器在运行程序代码时执行以下步骤：
[0023]使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；
[0024]响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；
[0025]响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；
[0026]响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统。
[0027]本专利技术具有以下有益技术效果：本专利技术实施例提供的硬复位式数据的测试方法和装置，通过使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用存储芯片从基本输入输出系统持续获取并存储系统日志；响应于基本输入输出系统在系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于供电控制芯片接收到重置指令而断电基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电基本输入输出系统的技术方案，能够自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1为本专利技术提供的硬复位式数据的测试方法的流程示意图；
[0030]图2为本专利技术提供的硬复位式数据的测试方法的详细流程图。
具体实施方式
[0031]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术实施例进一步详细说明。
[0032]需要说明的是，本专利技术实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本专利技术实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。
[0033]基于上述目的，本专利技术实施例的第一个方面，提出了一种自动执行RMT，解放人工并提升效率，实时分析内存性能的硬复位式数据的测试方法的一个实施例。图1示出的是本专利技术提供的硬复位式数据的测试方法的流程示意图。
[0034]所述的硬复位式数据的测试方法，如图1所示，包括执行以下步骤：
[0035]步骤S101本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硬复位式数据的测试方法，其特征在于，包括执行以下步骤：使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使所述测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统；响应于所述基本输入输出系统被上电或重新上电而打印系统日志，并使用所述存储芯片从所述基本输入输出系统持续获取并存储所述系统日志；响应于所述基本输入输出系统在所述系统日志中打印出硬复位式数据结束关键字而向供电控制芯片发出重置指令；响应于所述供电控制芯片接收到所述重置指令而断电所述基本输入输出系统，并在预设延时之后重新上电所述基本输入输出系统。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述硬复位式数据为内存位宽余量测试数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：在使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令之前，先激活所述基本输入输出系统的内存位宽余量工具和串口调试模式；所述系统日志中包括内存位宽余量测试数据。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，使用所述存储芯片从所述基本输入输出系统持续获取并存储所述系统日志包括：由所述基本输入输出系统基于所述内存位宽余量工具输出包括所述内存位宽余量测试数据的系统日志，并使用所述存储芯片通过所述串口调试模式获取所述系统日志，并存储。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：使用所述硬件开关向所述测试控制芯片发出测试停用指令，使所述测试控制芯片控制所述存储芯片停用所述数据自动收集功能以断电所述基本输入输出系统；从所述存储芯片中读取所述系统日志，并使用硬复位式数据开始关键字和所述硬复位式数据结束关键字从所述系统日志中截取出所述硬复位式数据。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述硬件开关为跳帽；使用硬件开关向测试控制芯片发出测试启用指令，使所述测试控制芯片控制存储芯片启用数据自动收集功能以上电基本输入输出系统包括：使用所述跳帽向所述测试控制芯片发出高电平，使所述测试控制芯片向存储芯...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈阳阳，肖时航，
申请(专利权)人：山东英信计算机技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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