一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，所述子像素修复电路包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块用于响应数据线的数据信号和扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流，进而实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。提高显示装置的显示质量。提高显示装置的显示质量。

【技术实现步骤摘要】
一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法


[0001]本专利技术涉及显示
，特别涉及一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法。

技术介绍

[0002]微型发光二极管(Micro Light-Emitting Doide，Micro LED)是一种采用无机材料作为发光材料的发光器件。采用Micro LED作为发光器件的显示装置具有亮度高、响应速度快以及稳定性高等优点。
[0003]相关技术中，在制造Micro LED显示装置时，一般会先在电路基板上形成阵列排布的薄膜晶体管，也即是进行背板制作；然后再在另一基板上形成多个阵列排布的Micro LED，该基板的材料可以为单晶硅或者砷化擦等无机材料；最后再将基板上形成的多个Micro LED批量组装至形成有薄膜晶体管的电路基板上。
[0004]但是，在批量组装Micro LED的过程中，由于Micro LED的数量较多且尺寸较小，因此一些Micro LED可能会出现故障组装失败，Micro LED出现故障的可能有两种：一种是短路，例如将Micro LED组装到背板上时Micro LED的两个电极发生短路，或Micro LED被击穿使Micro LED短路等；另一种是发光二极管开路，即断开，例如在组装的过程中虚焊而使得电极未连接，或电压过高使发光二极管两端处于断开状态等，Micro LED的短路和开路都会使得Micro LED不点亮，影响显示装置的显示效果。
[0005]因而现有技术还有待改进和提高。

技术实现思路

[0006]鉴于上述现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，能够有效解决发光器件在故障时不点亮,而导致的显示装置的显示质量降低的问题，实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
[0007]为了达到上述目的，本专利技术采取了以下技术方案：
[0008]一种子像素修复电路，包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；
[0009]所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；
[0010]所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流。
[0011]所述的子像素修复电路中，所述修复电路模块包括修复驱动单元、第一修复单元和第二修复单元；所述修复驱动单元连接所述第一电源端、所述第一修复单元、所述第二修
复单元和所述驱动电路模块，所述第一修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块，所述第二修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块；
[0012]所述修复驱动单元响应于所述数据信号输出驱动电流至所述第一修复单元或所述第二修复单元；
[0013]所述第一修复单元响应于所述短路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件；
[0014]所述第二修复单元响应于所述开路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件。
[0015]所述的子像素修复电路中，所述检测电路模块包括检测电阻，所述检测电阻的一端连接所述驱动电路模块和所述第一修复单元，所述检测电阻的另一端连接所述第二修复单元和所述发光器件的正极。
[0016]所述的子像素修复电路中，所述第一修复单元包括第一开关晶体管；所述第一开关晶体管的短路信号输入端连接所述检测电阻的一端，所述第一开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第一开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用晶体管的正极。
[0017]所述的子像素修复电路中，所述第二修复单元包括第二开关晶体管；所述第二开关晶体管的驱动电流输入端连接所述修复驱动单元，所述第二开关晶体管的开路信号输入端连接所述检测电阻的另一端，所述第二开关晶体管的驱动电流输出端连接所述备用发光器件的正极。
[0018]所述的子像素修复电路中，所述修复驱动单元包括第一驱动晶体管，所述第一驱动晶体管的数据信号输入端连接所述驱动电路模块，所述第一驱动晶体管的驱动电流输入端连接所述第一电源端，所述第一驱动晶体管的驱动电流输出端连接所述第一修复单元和所述第二修复单元。
[0019]所述的子像素修复电路中，所述第一开关晶体管为P型晶体管。
[0020]所述的子像素修复电路中，所述第二开关晶体管为N型晶体管。
[0021]一种如上所述的子像素修复电路的修复方法，包括如下步骤：
[0022]在所述发光器件接通时，所述驱动电路模块驱动所述发光器件点亮；
[0023]在所述发光器件短路或开路时，所述修复电路模块驱动所述备用发光器件点亮。
[0024]一种显示装置，包括像素阵列，所述像素阵列包括至少一个像素电路，所述像素电路包括三个如上项所述的子像素修复电路。
[0025]相较于现有技术，本专利技术提供的本专利技术公开了所述子像素修复电路包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路提供的短路信号或开路信号向所述备用发光器件提供驱动电流，进而实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
附图说明
[0026]图1为本专利技术提供的子像素修复电路的结构框图；
[0027]图2为本专利技术提供的子像素修复电路的电路原理框图；
[0028]图3为本专利技术提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件正常工作时的等效电路原理图；
[0029]图4为本专利技术提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件短路时的等效电路原理图；
[0030]图5为本专利技术提供的子像素修复电路的第一实施例中发光器件开路时的等效电路原理图；
[0031]图6为本专利技术提供的子像素修复电路的第二实施例的电路原理图；
[0032]图7为本专利技术提供的子像素修复电路的修复方法的步骤流程图。
具体实施方式
[0033]本专利技术提供了一种显示装置、子像素修复电路及其修复方法，能够有效解决发光器件在故障时不点亮,而导致的显示装置的显示质量降低的问题，实现发光器件的故障修复，提高显示装置的显示质量。
[0034]为使本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种子像素修复电路，其特征在于，包括驱动电路模块、检测电路模块、修复电路模块、发光器件和备用发光器件；所述驱动电路模块分别与扫描线、数据线、第一电源端、所述检测电路模块和所述修复电路模块连接，所述修复电路模块与所述第一电源端、所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块连接，所述检测电路模块与所述发光器件的正极连接，所述备用发光器件的负极和所述发光器件的负极均与第二电源端连接；所述驱动电路模块用于响应所述数据线的数据信号和所述扫描线的扫描信号向所述发光器件提供驱动电流；所述修复电路模块响应于所述驱动电路模块提供的数据信号和所述检测电路模块提供的短路信号或开路信号，以向所述备用发光器件提供驱动电流。2.根据权利要求1所述的子像素修复电路，其特征在于，所述修复电路模块包括修复驱动单元、第一修复单元和第二修复单元；所述修复驱动单元连接所述第一电源端、所述第一修复单元、所述第二修复单元和所述驱动电路模块，所述第一修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块，所述第二修复单元连接所述备用发光器件的正极和所述检测电路模块；所述修复驱动单元响应于所述数据信号输出驱动电流至所述第一修复单元或所述第二修复单元；所述第一修复单元响应于所述短路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件；所述第二修复单元响应于所述开路信号将所述驱动电流输出至所述备用发光器件。3.根据权利要求2所述的子像素修复电路，其特征在于，所述检测电路模块包括检测电阻，所述检测电阻的一端连接所述驱动电路模块和所述第一修复单元，所述检测电阻的另一端连接所述第二修复单元和所述发光器件的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王沛占，印朝维，冯中山，
申请(专利权)人：重庆康佳光电技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：