一种探究光反射规律的实验装置制造方法及图纸

技术编号:30200803 阅读:76 留言:0更新日期:2021-09-29 08:56
本实用新型专利技术提供的一种探究光反射规律的实验装置,包括底板和背板,所述背板设置在所述底板上,所述底板上设置有支撑杆,且所述支撑杆可左右偏转,所述背板位于所述支撑杆的后方,所述支撑杆上设置有束光器,所述底板上可拆卸的设置有平面镜,所述背板上设置有角度测量刻度,本实用新型专利技术提供一种探究光反射规律的实验装置,用于探究反射角和入射角大小关系的实验装置,解决了现有实验操作过程中法线和入射点位置不确定,角度测量不方便等问题。角度测量不方便等问题。角度测量不方便等问题。

【技术实现步骤摘要】
一种探究光反射规律的实验装置


[0001]本技术涉及实验装置
,具体为一种探究光反射规律的实验装置。

技术介绍

[0002]探究反射角和入射角的大小关系是科学教材《光的反射》一节中重要的实验。虽然学生已经认识了光的反射现象,但对于光的反射规律的理解还不太深刻,需要进行几个探究实验。将反射现象中角度的大小关系直观的显示出来,在实验过程中能够让学生准确方便地读出角度的大小,是这堂课的重难点。
[0003]在课堂中实际操作时,将记录角度的白纸平铺在桌面上,然后使用手固定平面镜,再发射入射光线,将得到的光线轨迹画在白纸上,最后测量角度大小记录实验数据。这个方法往往因为拿有平面镜的手不稳定,容易摇晃,导致每一次的反射现象中法线和入射点的位置不确定,加之描光线路径时学生徒手画容易画歪,导致结果偏差大,角度测量十分不便,往往得不出正确实验结论,给探究实验带来一定困扰,探究活动效果差。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的上述问题,本技术提供一种探究光反射规律的实验装置,用于探究反射角和入射角大小关系的实验装置,解决了现有实验操作过程中法线和入射点位置不确定,角度测量不方便等问题。
[0005]为实现上述专利技术目的,本技术采用的技术方案如下:
[0006]一种探究光反射规律的实验装置,包括底板和背板,所述背板设置在所述底板上,所述底板上设置有支撑杆,且所述支撑杆可左右偏转,所述背板位于所述支撑杆的后方,所述支撑杆上设置有束光器,所述底板上可拆卸的设置有平面镜,所述背板上设置有角度测量刻度。
[0007]在其中一个实施例中,所述背板和支撑杆分别垂直的设置在所述底板上,所述束光器发出的光线与所述平面镜的交点和所述角度测量刻度的零点形成一条直线,且该直线垂直于所述背板,所述角度测量刻度的零点的左右两侧分别设置有角度测量刻度,所述角度测量刻度通过胶纸粘贴在所述背板的前表面。
[0008]在其中一个实施例中,所述支撑杆的侧壁上设置有束光器支架,所述束光器支架上通过铆钉铆接有数个橡皮圈,数个所述橡皮圈的内径分别小于所述束光器的外径。
[0009]在其中一个实施例中,数个所述橡皮圈纵向的设置在所述支撑杆的侧壁上,且数个所述橡皮圈的圆心位于同一直线上。
[0010]在其中一个实施例中,数个所述橡皮圈的圆心相互连接形成的线段的长度小于所述束光器的长度。
[0011]在其中一个实施例中,所述底板上设置有支撑杆安装孔,所述支撑杆安装孔的侧壁上内置有电机,所述电机的主轴贯穿所述支撑杆安装孔的侧壁,所述电机的主轴上沿其轴向方向设置有花键,所述支撑杆下端的侧壁上设置支撑杆偏转孔,所述支撑杆偏转孔的
内壁上设置有键槽,所述支撑杆通过所述支撑杆偏转孔套接在所述电机的主轴上,且所述花键位于所述键槽内部。
[0012]在其中一个实施例中,还包括电机控制器和遥控控制器,所述电机控制器设置在所述底板的下表面,且与所述电机通过导线电性连接,所述电机控制器接收来自所述遥控控制器的遥控信号,以控制所述电机的启停以及正反转。
[0013]在其中一个实施例中,所述底板上设置有两条垂直于所述背板的滑槽,所述平面镜卡置在两条所述滑槽之间,且所述平面镜的后边沿设置有缺口,所述缺口的宽度以及所处的位置与所述支撑杆安装孔对应。
[0014]在其中一个实施例中,两个所述滑槽相对的两个侧壁上分别设置有槽口,所述滑槽的底壁上设置有向上突起的弹片。
[0015]在其中一个实施例中,所述底板的左边沿和右边沿分别设置有加强板,所述加强板的前端与所述背板连接,所述背板上边沿的两端分别设置有固定孔。
[0016]与现有技术相比,本技术提供的一种探究光反射规律的实验装置,具有以下优点:
[0017]1、本技术提供的一种探究光反射规律的实验装置,将束光器固定在支撑杆上,且支撑杆可通过电机驱动支撑杆左右偏转,不仅实现了入射点的左右偏转,同时利用电机可以随时定位的特性,使得入射点和法线位置不确定的问题得以解决。
[0018]2、本技术提供的一种探究光反射规律的实验装置,将画有角度测量刻度的胶纸固定在背板的前表面上,使得读数不方便、不准确的问题得以解决,大大增强了实验的可视性,并且可以重复进行实验,实验结果稳定。
[0019]3、本技术提供的一种探究光反射规律的实验装置,使用束光器作为实验的光源,从而可以清晰的看到光线轨迹,有利于读取角度大小,为探究反射角和入射角的大小关系提供了有利条件。
附图说明
[0020]图1为本技术的立体结构示意图;
[0021]图2为本技术中底板与支撑杆连接处的局部剖视结构示意图;
[0022]图3为本技术中的滑槽的侧视结构示意图。
具体实施方式
[0023]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“轴向”、“径向”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0024]此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中,“多个”的含义是两个以上,除非另有明确具体的限定。
[0025]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0026]在本技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
[0027]在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于,包括底板和背板,所述背板设置在所述底板上,所述底板上设置有支撑杆,且所述支撑杆可左右偏转,所述背板位于所述支撑杆的后方,所述支撑杆上设置有束光器,所述底板上可拆卸的设置有平面镜,所述背板上设置有角度测量刻度。2.根据权利要求1所述的一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于,所述背板和支撑杆分别垂直的设置在所述底板上,所述束光器发出的光线与所述平面镜的交点和所述角度测量刻度的零点形成一条直线,且该直线垂直于所述背板,所述角度测量刻度的零点的左右两侧分别设置有角度测量刻度,所述角度测量刻度通过胶纸粘贴在所述背板的前表面。3.根据权利要求1或2任一所述的一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于,所述支撑杆的侧壁上设置有束光器支架,所述束光器支架上通过铆钉铆接有数个橡皮圈,数个所述橡皮圈的内径分别小于所述束光器的外径。4.根据权利要求3所述的一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于,数个所述橡皮圈纵向的设置在所述支撑杆的侧壁上,且数个所述橡皮圈的圆心位于同一直线上。5.根据权利要求4所述的一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于,数个所述橡皮圈的圆心相互连接形成的线段的长度小于所述束光器的长度。6.根据权利要求1或2任一所述的一种探究光反射规律的实验装置,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:周硕林李楠
申请(专利权)人:长沙师范学院
类型:新型
国别省市:

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