单晶X射线构造解析系统技术方案

提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置，单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部，试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。细孔性络合物晶体。细孔性络合物晶体。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】单晶X射线构造解析系统


[0001]本专利技术涉及能够通过其原子、分子的排列等微观的集合构造对材料的构造进行解析的下一代的单晶X射线构造解析系统，特别是解释还包括用于进行解析的试样的吸藏的手段的单晶X射线构造解析系统。

技术介绍

[0002]在新的设备、材料的研究开发中，日常地进行材料的合成、材料的评价、基于此的接下来的研究方针的决定。在使用了用于在短期内进行材料开发的X射线衍射的物质的构造解析中，为了高效地探索实现目标材料的功能/物性的物质构造，需要以能够有效地进行构造解析的物质的构造解析为中心的物质构造的探索方法和在其中使用的X射线构造解析。
[0003]但是，基于利用该方法得到的结果进行构造解析，必须是X射线的专家。因此，要求即使不是X射线的专家也能够进行构造解析的X射线构造解析系统。其中，特别是如以下的专利文献1中也已知的那样，单晶X射线构造解析作为能够得到准确且精度高的分子的立体构造的方法而受到关注。
[0004]另一方面，在该单晶X射线构造解析中，存在必须使试样结晶化而准备单晶的大的制约。然而，如在以下的非专利文献1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种单晶X射线构造解析系统，进行物质的构造解析，其特征在于，所述单晶X射线构造解析系统具备吸藏装置和单晶X射线构造解析装置，所述单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装所述试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于所述测角仪的所述试样固定器中所保持的所述试样照射来自所述X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过所述试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在所述X射线检测测定部检测到的衍射或散射X射线来进行所述试样的构造解析的构造解析部，所述试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物晶体，所述吸藏装置使所述试样吸藏在所述试样固定器的细孔性络合物晶体。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤孝，
申请(专利权)人：株式会社理学，
类型：发明
国别省市：