单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器制造方法及图纸

提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线构造解析的单晶X射线构造解析装置，还提供用于其的方法、试料保持器。具备：产生X射线的X射线源；对试料进行保持的试料保持器(250)；安装并转动试料保持器(250)的测角仪；X射线照射部，针对保持在安装于测角仪的试料保持器(250)的试料，照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线进行试料的构造解析，试料保持器(250)包括能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，细孔性复合晶体在试料保持器(250)被安装在测角仪的状态下，被固定在被照射来自试料保持器(250)的X射线照射部的X射线的位置。的位置。的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器


[0001]本专利技术涉及能够通过其原子、分子的排列等微型的聚集构造而对材料的构造进行解析的下一代单晶X射线构造解析装置和其方法，特别地，涉及包括进行包含成为解析的对象的单晶试料的制作的处理的器具的单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器。

技术介绍

[0002]在新的器件、材料的研究开发中，经常进行材料的合成、材料的评价、基于此的下一个研究方针的决定。在使用用于在短期内进行材料开发的X射线衍射的物质的构造解析中，为了效率优异地探索实现目标的材料的功能/物性的物质构造，能够高效地进行构造解析的以物质的构造解析为中心的物质构造的探索方法和使用于其的X射线构造解析是不可或缺的。
[0003]然而，关于基于通过该手法获得的结果来进行构造解析，如果不是X射线的专家则难以进行。因此，要求即使不是X射线的专家也能够进行构造解析的X射线构造解析系统。其中，特别地，如也在以下的专利文献1中公知的那样，单晶X射线构造解析作为能够正确地获得精度高的分子的立体构造的手法而受到关注。
[0004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种单晶X射线构造解析装置，进行物质的构造解析，其特征在于，具备：X射线源，产生X射线；试料保持器，对试料进行保持；测角仪，安装并转动所述试料保持器；X射线照射部，针对被安装于所述测角仪的所述试料保持器所保持的所述试料，照射来自所述X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被所述试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由所述X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线，进行所述试料的构造解析，所述试料保持器包括能够将所述试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，所述细孔性复合晶体在所述试料保持器被安装在所述测角仪的状态下，被固定在所述试料保持器的被照射来自所述X射线照射部的X射线的位置。2.根据权利要求1所述的单晶X射线构造解析装置，其特征在于，所述试料保持器可自由装卸地安装在所述测角仪的前端部。3.一种试料保持器，在单晶X射线构造解析装置中使用，其特征在于，所述试料保持器具备：基台部，被安装在所述单晶X射线构造解析装置的测角仪；和保持部，形成在所述基台部，对能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体进行保持，所述细孔性复合晶体在所述基台部被安装在所述测角仪的状态下，被固定在所述试料保持器的被照射来自所述X射线照射部的X射线的位置。4.根据权利要求3所述的试料保持器，其特征在于，所述基台部形成有：对用于使所述细孔性复合晶体吸附的所述试料进行导入的试料导入构造。5.根据权利要求4所述的试料保持器，其特征在于，所述细孔性复合晶体被固定在所述保持部的前端部。6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：佐藤孝，
申请(专利权)人：株式会社理学，
类型：发明
国别省市：