X光分析用试料保持装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种X光分析用试料保持装置，该X光分析用试料保持装置将填充有试料的试料支架(10)保持于基体构件(20)，并以包覆试料支架(10)的周围的方式向基体构件(20)装配气密构件(30)，由此形成密闭空间内的试料保持结构。在气密构件(30)形成有向装配部(21)嵌入并而被装配的嵌合部(35)。而被装配的嵌合部(35)。而被装配的嵌合部(35)。

【技术实现步骤摘要】
X光分析用试料保持装置


[0001]本专利技术涉及为了向X光分析装置安放试料而使用的X光分析用试料保持装置，特别是涉及具备在密闭的空间内配置有试料的状态下，能够传送该试料并将其安放到X光分析装置上的功能的X光分析用试料保持装置。

技术介绍

[0002]X光衍射装置、X光反射率测定装置、X光小角散射装置、荧光X光分析装置等各种X光分析装置通常使用被称为试料支架的器具来安放试料，在大气中进行基于X光的测定分析。然而，在以容易与大气中的成分(氧、氮、水分等)发生化学反应的嫌气性物质为试料的情况下，需要在与大气不接触的密闭空间内配置试料来执行测定分析。
[0003]日本特开平11-6805号公报(专利文献1)公开了适合于这样的用途的结构的X光装置用气密试料支架。即，该文献1公开的X光装置用气密试料支架具备如下结构：向试料台(3)的试料填充部(3a)填充试料，在利用铲子(
ヘラ
)等使试料面平整之后，顺次装配膜(4)和填密材料(5)，利用推压用具推压上述膜(4)和填密材料(5)而使它们与试料台(3)紧贴，利用阳螺钉(7)将它们固定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X光分析用试料保持装置，所述X光分析用试料保持装置具备：试料支架，所述试料支架具有用于填充试料的试料填充部；基体构件，所述基体构件用于保持该试料支架；以及气密构件，所述气密构件拆装自如地向所述基体构件装配以包覆被保持于该基体构件的所述试料支架的周围，所述X光分析用试料保持装置的特征在于，在所述基体构件形成有用于装配所述气密构件的装配部，在所述气密构件形成有向所述装配部嵌入而被装配的嵌合部，并且，在所述装配部与嵌合部的相互之间设有锁定机构，在将该嵌合部向该装配部嵌入的过程中，该锁定机构卡合而阻止所述气密构件从所述基体构件脱离。2.根据权利要求1所述的X光分析用试料保持装置，其特征在于，所述气密构件包括：形成为内部为中空部的块形状的主体部；以及从该主体部的下表面突出地形成的所述嵌合部，所述嵌合部的下端面开口而与所述主体部内的中空部连通，将所述主体部切口而形成X光透过窗，以覆盖该X光透过窗的方式在其周围形成X光窗材，在所述主体部中的未形成所述X光透过窗的表面区域形成有供操作者抓住而能够执行该嵌入操作的操作部。3.根据权利要求2所述的X光分析用试料保持装置，其特征在于，所述X光窗材由金属、人造矿物及高分子中的任一种形成。4.根据权利要求1所述的X光分析用试料保持装置，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤幸一郎，
申请(专利权)人：株式会社理学，
类型：发明
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