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本发明提供一种X光分析用试料保持装置，该X光分析用试料保持装置将填充有试料的试料支架(10)保持于基体构件(20)，并以包覆试料支架(10)的周围的方式向基体构件(20)装配气密构件(30)，由此形成密闭空间内的试料保持结构。在气密构件(3...
该专利属于株式会社理学所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社理学授权不得商用。

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