槽液补偿分析方法、装置及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提出一种槽液补偿分析方法，所述方法包括：获取槽体信息和槽体中槽液参数的浓度检测值；判断所述浓度检测值是否小于第一预设阈值；当所述浓度检测值小于第一预设阈值时，分析所述槽体需补加的化学品为一种或多种；当所述槽液需补加的化学品为一种时，通过第一分析方法分析所述化学品的补加量；当所述槽液需补加的化学品为多种时，通过第二分析方法分析所述化学品的补加量。上述槽液补偿分析方法能够自动分析槽液需补加的化学品和补加量，分析效率较高且较为精准。本发明专利技术同时提出一种槽液补偿分析装置和计算机可读存储介质。补偿分析装置和计算机可读存储介质。补偿分析装置和计算机可读存储介质。

【技术实现步骤摘要】
槽液补偿分析方法、装置及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及化工领域，具体涉及一种槽液补偿分析方法、装置及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]金属的阳极氧化制程通常包括多道工序，例如：脱脂、剥黑膜、化抛、阳极氧化、封孔等，每道工序对应一个或多个槽位。在生产过程中，经常需要分析槽液的浓度，以检测槽液的浓度是否在管控范围内。若槽液的浓度低于管控范围，通常由技术人员手动计算槽液所需的补液量，计算较为繁琐，且效率较低。

技术实现思路

[0003]鉴于以上内容，有必要提出一种槽液补偿分析方法、装置及计算机可读存储介质，以解决上述问题。
[0004]本专利技术的第一方面提供一种槽液补偿分析方法，所述方法包括：
[0005]获取槽体信息和槽体中槽液参数的浓度检测值；
[0006]判断所述浓度检测值是否小于第一预设阈值；
[0007]当所述浓度检测值小于第一预设阈值时，分析所述槽体需补加的化学品为一种或多种；
[0008]当所述槽液需补加的化学品为一种时，通过第一分析方法分析所述化学品的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种槽液补偿分析方法，所述方法包括：获取槽体信息和槽体中槽液参数的浓度检测值；判断所述浓度检测值是否小于第一预设阈值；当所述浓度检测值小于第一预设阈值时，依据所述槽体信息分析所述槽体需补加的化学品为一种或多种；当所述槽液需补加的化学品为一种时，通过第一分析方法分析所述化学品的补加量；当所述槽液需补加的化学品为多种时，通过第二分析方法分析多种所述化学品的补加量。2.如权利要求1所述的槽液补偿分析方法，其特征在于，通过第一分析方法分析所述化学品的补加量时，运算逻辑为m＝(c
1-c2)*V*f1；其中，m为化学品的补加量，c1为浓度标准值，c2为浓度检测值，V为槽体体积，f1为调比例标准系数。3.如权利要求1所述的槽液补偿分析方法，其特征在于，依据所述第二分析方法分析多种化学品的补加量的步骤具体包括：分析每种化学品的补加高度；以补加高度为正值的化学品对应的运算逻辑来分析多种化学品的补加量。4.如权利要求3所述的槽液补偿分析方法，其特征在于，以补加高度为正值的化学品对应的运算逻辑来分析多种化学品的补加量的步骤具体为：判断是否需要单独补充液位；若需要单独补充液位，则分别计算每种化学品的补加量；若不需要单独补充液位，则计算补加高度为正值的化学品的补加量，补加高度为负值的化学品无需补加。5.如权利要求4所述的槽液补偿分析方法，其特征在于，所述槽液需补加的化学品包括第一化学品和第二化学品；第一化学品的补加高度为h1＝(c2/ω2/ρ2*V/f/f
1-c1/ω1/ρ1*V/f)/a/b；第二化学品的补加高度为h2＝(c1/ω1/ρ1*V/f/f
1-c2/ω2/ρ2*V/f)/a/b；其中，c1、c2分别为第一化学品和第二化学品的浓度检测值；ω1、ω2分别为第一化学品和第二化学品的质量百分数；ρ<...

【专利技术属性】
技术研发人员：马磊，田小琼，王路，尹太平，孙楷，
申请(专利权)人：鸿富锦精密电子成都有限公司，
类型：发明
国别省市：