图表Y轴坐标优化方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:30162430 阅读:27 留言:0更新日期:2021-09-25 15:16
本发明专利技术涉及大数据处理技术,揭露一种图表Y轴坐标优化方法,包括基于预设最大值扩增值对图表原始Y轴的最大值进行扩增处理,得到第一Y轴;对第一最大值和第一最小值进行精度调整,得到第二Y轴;根据预设Y轴负半轴刻度个数确定规则,确定第二Y轴中的负半轴刻度数;基于负半轴刻度数,重置第二Y轴的最大值和最小值,得到第三Y轴;基于刻度值计算规则,确定第三Y轴的刻度值;将第三Y轴的刻度值、第三最大值和第三最小值进行精度还原,得到优化的Y轴。本发明专利技术还涉及区块链技术,预设Y轴负半轴刻度个数确定规则存储于区块链中。本发明专利技术能够解决现有技术中,Y轴刻度分配不均,以及存在数据触顶等问题。问题。问题。

【技术实现步骤摘要】
图表Y轴坐标优化方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及大数据处理
,尤其涉及一种图表Y轴坐标优化方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]饼图、直方图、散点图、柱状图等,是最原始的统计图表,它们是数据可视化的最基础和常见应用,也是现代网站常用的展现形式,所以可以在大量网站中见到统计图形。
[0003]ECharts是一个使用JavaScript实现的开源可视化库。它提供了常规的折线图、柱状图、散点图、饼图、K线图等统计图形,是我们最常用的实现数据可视化的开源图表库之一。
[0004]尽管ECharts很强大,但是在使用过程中会遇到图表Y轴刻度的展示问题,ECharts实现的Y轴刻度展示虽然是自适应的,但是它却没有平均分配,而且数据还会触顶。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种图表Y轴坐标优化方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,其主要目的在于能够解决现有技术中,Y轴刻度没有平均分配,而且存在数据触顶等问题。
[0006]第一方面,为实现上述目的,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图表Y轴坐标优化方法,应用于电子装置,其特征在于,所述方法包括:基于预设最大值扩增值对图表原始Y轴的最大值进行扩增处理,得到第一Y轴;其中,所述第一Y轴包括第一最大值和第一最小值;对所述第一最大值和所述第一最小值进行精度调整处理,使所述第一最大值和所述第一最小值转化为整数,得到第二Y轴;其中,所述第二Y轴包括精度调整处理后的第二最大值和第二最小值;根据预设Y轴负半轴刻度个数确定规则,确定所述第二Y轴中的负半轴刻度数;基于所述负半轴刻度数,根据预设重置规则,重置所述第二Y轴的最大值和最小值,得到第三Y轴;其中,所述第三Y轴包括重置后的第三最大值和第三最小值;基于刻度值计算规则,根据所述第三最大值、所述第三最小值、所述负半轴刻度数和预设Y轴刻度数,确定所述第三Y轴的刻度值;将所述第三Y轴的刻度值、所述第三最大值和所述第三最小值进行精度还原处理,得到优化的Y轴,其中,所述优化的Y轴包括精度还原后的终极最大值、终极最小值和终极刻度值。2.根据权利要求1所述的图表Y轴坐标优化方法,其特征在于,所述基于预设最大值扩增值对图表原始Y轴的最大值进行扩增处理,得到第一Y轴;其中,所述第一Y轴包括第一最大值和第一最小值包括:将从原始数据集中提取的数据最大值和数据最小值分别作为所述图表原始Y轴的原始最大值和原始最小值;根据预设最大值扩增值对所述原始最大值进行扩增处理,得到第一最大值;将所述原始最小值作为第一最小值,并与所述第一最大值形成第一Y轴。3.根据权利要求1所述的图表Y轴坐标优化方法,其特征在于,所述对所述第一最大值和所述第一最小值进行精度调整处理,使所述第一最大值和所述第一最小值转化为整数,得到第二Y轴包括:对原始数据集中的所有数据进行循环处理,获取所述原始数据集中的所有数据的小数位数,得到数据的小数位数集合;从所述数据的小数位数集合中选取数值最大的小数位数作为待用精度;基于所述待用精度对所述第一最大值和所述第一最小值进行精度调整处理,分别得到第二最大值和第二最小值;根据所述第二最大值和所述第二最小值形成第二Y轴。4.根据权利要求1所述的图表Y轴坐标优化方法,其特征在于,所述预设Y轴负半轴刻度个数确定规则存储于区块链中,所述预设Y轴负半轴刻度个数确定规则包括:当所述第二最大值为0,所述第二最小值小于0时,所述第二Y轴中的负半轴的刻度数等于所述预设Y轴刻度数;当所述第二最大值大于等于0,所述第二最小值为0时,所述第二Y轴中的负半轴的刻度数等于0;当所述第二最大值大于0,所述第二最小值小于0时,通过预设负半轴的刻度数计算公式计算得到所述第二Y轴中的负半轴的刻度数;其中,所述预设负半轴的刻度数计算公式为:
N=(Math.floor(Math.abs(min/((max

min)/interval))),其中,N为第二Y轴中的负半轴的刻度数,max为第二最大值,min为第二最小值,interval为预设Y轴刻度数,Math.abs为绝对值符号,Math.floor为向下取整符号;当通过所述预设负半轴的刻度数计算公式计算得到所述第二Y轴中的负半轴的刻度数为0时,取1作为所述第二Y轴中的负半轴的刻度数。5.根据权利要求1所述的图表Y轴坐标优化方法,其特征在于,所述预设重置规则为:当所述负半轴刻度数为0时,重置所述第二Y轴的最小值为0,将0作为第三最小值,根据预设最大值重置倍数,对所述第二最大值进行倍数扩增处理,得到第三最大值;当所述负半轴刻度数不为0时,基于预设负半轴扩增值对所述第二Y轴的最小值进行重置处理,得到第三最小值;并根据所述第三最小值和所述负半轴刻度数及所述预设Y轴刻度数计算得到第三最大值。6.根据权利要求1所述的图表Y轴坐标优化方法,其特征在于,所述基于刻度值计算规则,根据所述第三最大值、所述第三最小值、所述负半轴刻度数和预设Y轴刻度数,确定所述第三Y轴的刻度值包括:基于基础刻度值计算规则,根据所述第三最大值、所述第三最小值、所述负半轴的刻度数和所述预设Y轴刻度数计算得到基础刻度值;其中,所述基础刻度值计算规则包括:当所述负半轴的刻度数为0时,基于第一基础刻度值计算公式得到第一基础刻度值;其中,所述第一基础刻度值计算公式为:splitNumber1=((interval
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【专利技术属性】
技术研发人员:于洋
申请(专利权)人:平安国际智慧城市科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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