一种磁粉芯损耗测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种磁粉芯损耗测试仪，包括壳体和设置在壳体内部的硬件电路，所述硬件电路包括供电源和测试电路，供电源用于为测试电路供电；所述测试电路包括分频模块、放大模块、电源模块和转换模块，所述分频模块用于获得磁粉芯的频率信号，其输出端与放大模块输入端连接，放大模块用于对信号进行二次放大，其输出端与电源模块连接，电源模块用于为磁粉芯提供激励信号，其输出端与转换模块连接。本实用新型专利技术通过各模块的设计，能够对磁粉芯的电阻率进行准确检测，从而得知其涡流损耗，以得到磁粉芯的损耗。到磁粉芯的损耗。到磁粉芯的损耗。

【技术实现步骤摘要】
一种磁粉芯损耗测试仪


[0001]本技术涉及磁粉芯检测领域，特别是涉及一种磁粉芯损耗测试仪。

技术介绍

[0002]迅猛发展的现代通信技和计算机工业对磁粉芯的性能要求越来越高，需求量也越来越大。磁粉芯被广泛应用与电讯、雷达、电视等技术中作为电感滤波器、调频扼流圈及开关电源主振贴心。磁粉芯的磁导率和损耗是衡量其磁性能好坏的重要物理参数。那么为了降低磁粉芯的损耗，及时对其损耗进行检测，是非常重要的。如东北大学学报第30卷第6期中《降低软磁铁硅铝磁粉芯损耗的研究》所说，磁粉芯的损耗主要有磁滞损耗和涡流损耗组成，磁滞损耗取决于磁粉芯金属材料本身，涡流损耗取决于磁粉芯的电阻率。其中金属材料本身所带来的损耗是定值，其是随着使用时长等呈线性变化的。而电阻率是变值，会随着磁粉芯的使用进行非线性变化，所以说，对磁粉芯应用中的电阻率进行精准测量才能够对其损耗进行精准了解。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于：为了克服上述缺陷，提出一种磁粉芯损耗测试仪以提高磁粉芯损耗测量的精准度。
[0004]为实现上述目的，本技术的技术方案为：一种磁粉芯损耗测试仪，包括壳体和设置在壳体内部的硬件电路，所述硬件电路包括供电源和测试电路，供电源用于为测试电路供电；所述测试电路包括分频模块、放大模块、电源模块和转换模块，所述分频模块用于获得磁粉芯的频率信号，其输出端与放大模块输入端连接，放大模块用于对信号进行二次放大，其输出端与电源模块连接，电源模块用于为磁粉芯提供激励信号，其输出端与转换模块连接。
[0005]进一步的，所述分频模块包括电容C1、电阻R1~R2、反相器U1~U2和处理器U3，所述电容C1的另一端与磁粉芯连接，其一端与电阻R1~R2的一端连接后与反相器U1的输入端连接，电阻R1的另一端连接至反相器U1的输出端，电阻R2的另一端连接至反相器U2的输入端，所述反相器U2的输出端连接至处理器U3的引脚3，所述处理器U3的引脚1连接至其引脚4后连接外部电压，其引脚2接地，处理器U3的引脚5与放大模块连接。
[0006]进一步的，所述放大模块包括电阻R3~R7、电容C2~C3、二极管D1~D2、放大器U4和晶体管Q1~Q2,所述电阻R3的一端与分频模块的输出端连接，电阻R3的另一端连接至电容C2的一端，电容C2的另一端连接至放大器U4的反相输入端和电阻R5、电容C3的一端，放大器U4的正向输入端连接有电阻R4的一端，电阻R4的另一端接地；所述放大器U4的输出端连接至二极管D1的负极和二极管D2的正极，二极管D1的正极连接至电阻R6的一端和晶体管Q1的基极，二极管D2的负极连接至电阻R7的一端和晶体管Q2的基极，所述晶体管Q1的集电极连接至电阻R6的另一端后接地，晶体管Q2的发射极连接至电阻R7的另一端后接地，晶体管Q1的发射极与晶体管Q2的集电极连接，且电阻R5和电容C3的另一端与晶体管Q1的发射极连接。
[0007]进一步的，所述电源模块包括变压器T1~T2，变压器T1的初级线圈与放大模块连接，其次级线圈与待测磁粉芯连接，用于为其提供激励电源，变压器T2的初级线圈用于与待测磁粉芯连接，其用于输出磁粉芯的信号至转换模块中，其次级线圈与转换模块连接。
[0008]进一步的，所述转换模块包括电容C4、电阻R8~R14、处理器U5~U6，所述处理器U5的正向输入端和电阻R8的一端与变压器T2的次级线圈连接，电阻R8的另一端与处理器U5的正向输入端连接，处理器U5的反向输入端与电阻R9~R10的一端连接，电阻R9的另一端接地，电阻R10的另一端连接至处理器U5的输出端继而电阻R14的一端，电阻R14的另一端连接至处理器U6的引脚5连接，所述处理器U6的引脚1和引脚3连接至外部电压，其引脚4连接至电阻R12的一端，电阻R12的另一端连接至电阻R13的可调端，电阻R13的两端分别连接至外部电压，处理器U6的引脚6连接至电阻R11的一端，电阻R11的可调端和其另一端连接至处理器U6的引脚6，其中电容C4还连接在处理器U6的引脚6与引脚7之间。
[0009]由于采用了上述方案，本技术的有益效果在于：解决了现有技术的不足，本技术提出一种磁粉芯损耗测试仪，其好处是：
[0010]（1）本技术通过各模块的设计，能够对磁粉芯的电阻率进行准确检测，从而得知其涡流损耗，以得到磁粉芯的损耗。
[0011]（2）本技术设计的放大电路能够对信号进行二次放大，避免信号在放大过程中，会叠加干扰信号，干扰的最终的测试结果，导致损耗测试不准确。
[0012]（3）本技术转换模块中处理器U6连接有电阻R12和电阻R13，其可减小处理器U6工作时带来的非线性误差，避免输出结果有误，从而进一步提高电阻率测量的精度。
附图说明
[0013]图1是本技术所述分频模块的电路图。
[0014]图2是本技术所述放大模块的电路图。
[0015]图3是本技术所述转换模块的电路图。
具体实施方式
[0016]下面将结合附图对本技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0017]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0018]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术
语在本技术中的具体含义。
实施例
[0019]如图1
‑
3所示，一种磁粉芯损耗测试仪，包括壳体和设置在壳体内部的硬件电路，所述硬件电路包括供电源和测试电路，测试电路包括分频模块、放大模块、电源模块和转换模块。供电源用于为测试电路供电，以实现整个测试仪的供电，其采用型号为GH200
‑
V2SXX。
[0020]所述分频模块包括电容C1、电阻R1~R2、反相器U1~U2和处理器U3，反相器U1~U2的型号为CD40106，处理器U3的型号为CD4516。所述电容C1的另一端与磁粉芯连接，其一端与电阻R1~R2的一端连接后与反相器U1的输入端连接，电阻R1的另一端连接至反相器U1的输出端，电阻R2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁粉芯损耗测试仪，其特征在于：包括壳体和设置在壳体内部的硬件电路，所述硬件电路包括供电源和测试电路，供电源用于为测试电路供电；所述测试电路包括分频模块、放大模块、电源模块和转换模块，所述分频模块用于获得磁粉芯的频率信号，其输出端与放大模块输入端连接，放大模块用于对信号进行二次放大，其输出端与电源模块连接，电源模块用于为磁粉芯提供激励信号，其输出端与转换模块连接。2.根据权利要求1所述的一种磁粉芯损耗测试仪，其特征在于：所述分频模块包括电容C1、电阻R1~R2、反相器U1~U2和处理器U3，所述电容C1的另一端与磁粉芯连接，其一端与电阻R1~R2的一端连接后与反相器U1的输入端连接，电阻R1的另一端连接至反相器U1的输出端，电阻R2的另一端连接至反相器U2的输入端，所述反相器U2的输出端连接至处理器U3的引脚3，所述处理器U3的引脚1连接至其引脚4后连接外部电压，其引脚2接地，处理器U3的引脚5与放大模块连接。3.根据权利要求2所述的一种磁粉芯损耗测试仪，其特征在于：所述放大模块包括电阻R3~R7、电容C2~C3、二极管D1~D2、放大器U4和晶体管Q1~Q2,所述电阻R3的一端与分频模块的输出端连接，电阻R3的另一端连接至电容C2的一端，电容C2的另一端连接至放大器U4的反相输入端和电阻R5、电容C3的一端，放大器U4的正向输入端连接有电阻R4的一端，电阻R4的另一端接地；所述放大器U4的输出端连接至二极管D1的负极和二极管D2的正极，二极管D1的正极连接至电阻R6的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：应俊，程洪平，罗建桥，
申请(专利权)人：四川东阁科技有限公司，
类型：新型
国别省市：