一种功率模块的缺针测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种功率模块的缺针测试治具，包括机械支撑部及设置在机械支撑部内的测试治具本体，所述测试治具本体主要包括上下设置的探针接触部和探针检测部，所述探针接触部包括第一固定板及垂直设置在第一固定板上的若干接触探针，探针接触部上设置有第一探针电路板；所述探针检测部包括第二固定板及垂直设置在第二固定板上的若干检测探针，探针检测部上设置有第二探针电路板，该第二探针电路板上设置有电源及指示灯；所述接触探针及检测探针的数量和位置与功率模块的针脚对应，当功率模块的全部针脚下压接触探针使得接触探针与检测探针接触时，第一探针电路板和第二探针电路板上的电路连通并形成完整回路使得探针检测部上的指示灯点亮。检测部上的指示灯点亮。检测部上的指示灯点亮。

【技术实现步骤摘要】
一种功率模块的缺针测试治具


[0001]本技术涉及半导体功率模块的测试领域，具体涉及一种功率模块的缺针测试治具。

技术介绍

[0002]功率半导体模块是按一定功能、模式的组合体，可根据封装的元器件的不同实现不同功能。功率半导体器件以功率金属氧化物半导体场效应晶体管(功率mosfet，常简写为功率mos)、绝缘栅双极晶体管(igbt)以及功率集成电路(power ic，常简写为pic)为主。这些器件或集成电路能在很高的频率下工作，而电路在高频工作时能更节能、节材，能大幅减少设备体积和重量。尤其是集成度很高的单片片上功率系统(power system on a chip，简写psoc)，它能把传感器件与电路、信号处理电路、接口电路、功率器件和电路等集成在一个硅芯片上，使其具有按照负载要求精密调节输出和按照过热、过压、过流等情况自我进行保护的智能功能。
[0003]随着半导体器件的发展，功率半导体模块目前已经越来越多的运用在各种场合，例如：工业用变频器，焊机电源，机车牵引，风力发电等各种场合。由于大功率模块有许多针脚，特别是同一极上多根针脚（三根及以上）时，在电性能测试时是不能通过四线法检测到所有针脚的，所以会通过外观目检的方式去查看模块是否有缺针的情况，但是这种人工方法费时费力且效率较低的同时还会有漏看的情况发生，使得出厂后的产品成品率降低，对功率半导体模块的产品质量带来了不利影响。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种结构简单、测试方便且测试效果准确的功率模块的缺针测试治具。
[0005]本技术的目的是通过如下技术方案来完成的，一种功率模块的缺针测试治具，用于检测多针脚的功率模块是否有缺针情况，包括机械支撑部及设置在机械支撑部内的测试治具本体，所述测试治具本体主要包括上下设置的探针接触部和探针检测部，所述探针接触部包括第一固定板及垂直设置在第一固定板上且可以相对于该固定板上下运动的若干接触探针，所述探针接触部上设置有第一探针电路板；所述探针检测部包括第二固定板及垂直设置在第二固定板上且可以相对于该固定板上下运动的若干检测探针，所述探针检测部上设置有第二探针电路板，该第二探针电路板上设置有电源及指示灯；所述接触探针及检测探针的数量和位置与功率模块的针脚对应，且当功率模块的全部针脚下压接触探针使得接触探针与检测探针接触时，第一探针电路板和第二探针电路板上的电路连通并形成一个完整回路使得探针检测部上的指示灯点亮。
[0006]进一步地，所述接触探针为头部绝缘的探针，所述检测探针为弹簧探针。
[0007]进一步地，所述机械支撑部由高强度的绝缘材料制成。
[0008]进一步地，所述机械支撑部由厚度为10mm的FR4材料制成。
[0009]本技术的有益技术效果在于：本技术结构简单，通过探针接触部和探针检测部来对功率模块的针脚进行检测， 能有效防止人工目检中的漏检，避免缺阵器件流入市场，降低了生产成本的同时还提高了质检效率。
附图说明
[0010]图1为多针型功率器件模块的结构示意图；
[0011]图2为本技术所述测试治具本体的结构示意图；
[0012]图3为本技术所述第一探针电路板的电路结构示意图；
[0013]图4为本技术所述第二探针电路板的电路结构示意图。
具体实施方式
[0014]为使本领域的普通技术人员更加清楚地理解本技术的目的、技术方案和优点，以下结合附图和实施例对本技术做进一步的阐述。
[0015]在本技术的描述中，需要理解的是，“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”、“横向”、“竖向”等术语所指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本技术的限制。
[0016]如图1
‑
4所示，本技术所述的一种功率模块的缺针测试治具，用于检测多针脚的功率模块1是否有缺针情况，包括机械支撑部及设置在机械支撑部内的测试治具本体，所述测试治具本体主要包括上下设置的探针接触部2和探针检测部3，所述探针接触部2包括第一固定板21及垂直设置在第一固定板21上且可以相对于该固定板上下运动的若干接触探针22，所述探针接触部2上设置有第一探针电路板23；所述探针检测部3包括第二固定板31及垂直设置在第二固定板31上且可以相对于该固定板上下运动的若干检测探针32，所述探针检测部3上设置有第二探针电路板33，该第二探针电路板33上设置有电源及指示灯；所述接触探针22及检测探针32的数量和位置与功率模块1的针脚对应，且当功率模块1的全部针脚下压接触探针22使得接触探针22与检测探针32接触时，第一探针电路板23和第二探针电路板33上的电路连通并形成一个完整回路使得探针检测部上的指示灯点亮。
[0017]参照图2所示，所述第一固定板21和第二固定板31均为PCB板，所述接触探针22为头部绝缘的探针，所述检测探针32为弹簧探针；所述机械支撑部由高强度的绝缘材料制成，例如：所述机械支撑部由厚度为10mm的FR4材料制成或者其他绝缘强度高，机械强度大的材料制成。
[0018]参照图1
‑
4所示，该功率模块的功率部分端子极上有多个针脚，如U极上总共有8根针，在生产过程中会有一根或者多根针脚未插或者掉落的情况发生，需要检验员在各个工序做目检来挑出这部分缺陷模块，但是目检有一定的漏检率，容易造成模块流入下道工序或者发到客户端，所以本专利技术使用测试治具来检测出这部分缺针的模块。如图2所示，治具和被测试模块之间的接触探针的头部为绝缘材料的整体型探针，用模块压接探针的方式，使接触探针往下伸，形成一定的行程，探针尾部会与第二层的检测探针形成接触，第二层的检测探针形成的检测电路会判断第一层的接触探针是否与第二层检测探针有接触。如果模块中某一个探针是缺失状态的，第一层的接触探针将不会有行程，就不能与第二层检测探
针接触并形成判断条件，以此来判断模块是否缺针。
[0019]本技术结构简单，通过探针接触部和探针检测部来对功率模块的针脚进行检测， 能有效防止人工目检中的漏检，避免缺阵器件流入市场，降低了生产成本的同时还提高了质检效率。
[0020]本文中所描述的具体实施例仅例示性说明本技术的原理及其功效，而非用于限制本技术。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本技术的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，但凡所属
中具有通常知识者在未脱离本技术所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本技术的权利要求所涵盖。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种功率模块的缺针测试治具，用于检测多针脚的功率模块是否有缺针情况，其特征在于：包括机械支撑部及设置在机械支撑部内的测试治具本体，所述测试治具本体主要包括上下设置的探针接触部和探针检测部，所述探针接触部包括第一固定板及垂直设置在第一固定板上且可以相对于该固定板上下运动的若干接触探针，所述探针接触部上设置有第一探针电路板；所述探针检测部包括第二固定板及垂直设置在第二固定板上且可以相对于该固定板上下运动的若干检测探针，所述探针检测部上设置有第二探针电路板，该第二探针电路板上设置有电源及指示灯；所述接触探针及检测探针的...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈巧强，
申请(专利权)人：嘉兴斯达半导体股份有限公司，
类型：新型
国别省市：