一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术提供了一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质，包括待测模块、信号输入模块、干扰模块、信号输出模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述信号输入模块输入端和所述待测模块连接，所述信号输入模块输出端分别连接至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块装于计量芯片外侧用于提供干扰因素，所述信号输出模块输入端分别与计量芯片和所述标准计量模块连接，所述信号输出模块输出端与所述对比模块连接，所述对比模块通过分析接收的两个信号差别得到计量芯片的抗干扰能力。本发明专利技术通过分析在各种干扰情况下计量芯片的输出值与标准计量模块输出值之间的关系得到其抗干扰能力，涵盖范围广，适用性强。适用性强。适用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片检测
，尤其涉及一种计量芯片的抗干扰检测系统。

技术介绍

[0002]计量芯片能够根据输入的信号对某一类特定的数据进行测量，但是测量结果会收到外部因素的干扰而造成测量不准确，抗干扰检测系统能够对计量芯片的抗干扰能力作出评估，并检测出适宜工作环境及安全范围，为后续对计量芯片的环境设计提供参考。
[0003]现在已经开发出了很多抗干扰检测系统，经过我们大量的检索与参考，发现现有的检测系统有如公开号为KR100571437B1，KR1020060131842A和KR101697443B1所公开的系统，包括如下步骤：1)读取校表参数校验和寄存器的值，并与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤2)；2)再次读取校表参数校验和寄存器的值，先与备份的值进行比较，若相等，则不作处理，若不相等，则进入步骤3)；3)将两次读取到的校表参数校验和寄存器的值进行比较，若相等，则复位该计量芯片，若不相等，则不作处理。但该系统不能对各种干扰因素下的抗干扰能力作出检测，同时检测对象较单一，适用性弱。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于，针对所存在的不足，提出了一种计量芯片的抗干扰检测系统，本专利技术采用如下技术方案：一种计量芯片的抗干扰检测系统，括待测模块、干扰模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述待测信号分别输入至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块对所述计量芯片提供干扰因素，所述对比模块通过分析计量芯片和所述标准计量模块的输出信号得到计量芯片的抗干扰能力；进一步的，所述待测模块包括信号产生单元、信号控制单元和信号输出单元，所诉信号产生单元能够生成正弦或者余弦信号，所述信号控制单元对生成的信号作变化处理，所述信号输出单元将处理后的信号稳定输出；进一步的，所述信号产生单元包括配置电路、三角函数信号发生电路和载波控制电路，所述配置电路为所述三角函数信号发生电路提供电能，所述载波控制电路用于控制产生的三角函数信号；进一步的，所述信号控制单元包括数模转换电路、模拟乘法电路和功率放大调整电路，所述数模转换电路将载波控制后的数字信号转换成模拟信号，所述模拟乘法电路和功率放大调整电路对所述模拟信号进行调整处理；进一步的，所述信号输出单元包括信号输出接口和隔离电路，所述隔离电路连接在所述功率放大调整信号与所述信号输出接口之间用于减弱其他电路对输出信号的影响；进一步的，所述待测模块的输出信号为A(t)，计量芯片输出的信号为B(t)，所述标准计量芯片输出的信号为C(t)，计算间隔时间内的干扰差异值：
；改变输出信号A(t)，计算干扰点值：，其中n为所述输出信号A(t)的个数；进一步的，改变干扰因素的值，获取n个干扰点值，计算抗干扰指数：，其中，为干扰点值最小值对应的干扰因素值；进一步的，所述干扰模块对计量芯片造成的干扰因素包括温度、湿度、振动以及干扰信号，分别计算出其抗干扰指数值为、、和，最终的综合抗干扰指数Q为：；其中，、、和为比重系数，通过实际测试得到且满足：；一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中包括计量芯片的抗干扰检测系统程序，所述计量芯片的抗干扰检测系统程序被处理器执行时，实现一种计量芯片的抗干扰检测系统的步骤。
[0005]本专利技术所取得的有益效果是：本专利技术的干扰模块能够提供多个方面的干扰因素，待测模块也能提供变化的待测信号，使后续的数据分析有大量的数据基础，分析结果更可靠，所述对比模块通过分析标准计量模块与计量芯片输出信号之间的数据关系来测试抗干扰能力，适用于多种计量芯片，具有较强的适用性。
附图说明
[0006]从以下结合附图的描述可以进一步理解本专利技术。图中的部件不一定按比例绘制，而是将重点放在示出实施例的原理上。在不同的视图中，相同的附图标记指定对应的部分。
[0007]图1为整体结构框架示意图；图2为待测模块结构框架示意图；图3为信号输入模块示意图；图4为温度抗干扰指数获取示意图；图5为温度干扰点值与温度适宜区示意图。
具体实施方式
[0008]为了使得本专利技术的目的.技术方案及优点更加清楚明白，以下结合其实施例，对本专利技术进行进一步详细说明；应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。对于本领域技术人员而言，在查阅以下详细描述之后，本实施例的其它系统.方法和/或特征将变得显而易见。旨在所有此类附加的系统.方法.特征和优点都包括在
本说明书内.包括在本专利技术的范围内，并且受所附权利要求书的保护。在以下详细描述描述了所公开的实施例的另外的特征，并且这些特征根据以下将详细描述将是显而易见的。
[0009]本专利技术实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本专利技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或组件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0010]实施例一。
[0011]结合图1，本实施例提供了一种计量芯片的抗干扰检测系统，括待测模块、干扰模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述待测信号分别输入至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块对所述计量芯片提供干扰因素，所述对比模块通过分析计量芯片和所述标准计量模块的输出信号得到计量芯片的抗干扰能力；所述待测模块包括信号产生单元、信号控制单元和信号输出单元，所诉信号产生单元能够生成正弦或者余弦信号，所述信号控制单元对生成的信号作变化处理，所述信号输出单元将处理后的信号稳定输出；所述信号产生单元包括配置电路、三角函数信号发生电路和载波控制电路，所述配置电路为所述三角函数信号发生电路提供电能，所述载波控制电路用于控制产生的三角函数信号；所述信号控制单元包括数模转换电路、模拟乘法电路和功率放大调整电路，所述数模转换电路将载波控制后的数字信号转换成模拟信号，所述模拟乘法电路和功率放大调整电路对所述模拟信号进行调整处理；所述信号输出单元包括信号输出接口和隔离电路，所述隔离电路连接在所述功率放大调整信号与所述信号输出接口之间用于减弱其他电路对输出信号的影响；所述待测模块的输出信号为A(t)，计量芯片输出的信号为B(t)，所述标准计量芯片输出的信号为C(t)，计算间隔时间内的干扰差异值：；改变输出信号A(t)，计算干扰点值：，其中n为所述输出信号A(t)的个数；改变干扰因素的值，获取n个干扰点值，计算抗干扰指数：，其中，为干扰点值最小值对应的干扰因素值；所述干扰模块对计量芯片造成的干扰因素包括温度、湿度、振动以及干扰信号，分别计算出其抗干扰指数值为、、和，最终的综合抗干扰指数Q为：
；其中，和为比重系数，通过实际测试得到且满足：；一种计算机可读存储介质，所述计本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种计量芯片的抗干扰检测系统，其特征在于，包括依次通讯连接的待测模块、干扰模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述待测信号分别输入至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块对所述计量芯片提供干扰因素，所述对比模块通过分析计量芯片和所述标准计量模块的输出信号得到计量芯片的抗干扰能力；其中，所述系统的抗干扰检测包括如下步骤，所述待测模块的输出信号为A(t)，计量芯片输出的信号为B(t)，所述标准计量模块输出的信号为C(t)，计算间隔时间内的干扰差异值：；改变输出信号A(t)，计算干扰点值：；其中n为所述输出信号A(t)的个数；改变干扰因素的值，获取n个干扰点值，计算抗干扰指数：；其中，为干扰点值最小值对应的干扰因素值；所述干扰模块对计量芯片造成的干扰因素包括温度、湿度、振动以及干扰信号，分别计算出其抗干扰指数值为和，最终的综合抗干扰指数Q为：；其中，和为比重系数，通过实际测试得到且满足：。2.如权利要求1所述的一种计量芯片的抗干扰检测系统，其特征在于，所述待测模块包括信号产生单元、信号控制单元和信号输出单元，所述信号产生单元能够生成正弦或者余弦信号，所述信号控制单元对生成的信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：向德，李庆先，刘良江，朱宪宇，王晋威，刘青，左从瑞，王柠莎，熊婕，
申请(专利权)人：湖南省计量检测研究院，
类型：发明
国别省市：