一种测试机及测试平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试机及测试平台，包括：控制单元MCU、发光单元、直接数字频率合成信号发生器DDS、数模转换器DAC、模数转换器ADC和时间测量单元TMU；发光单元、DDS、DAC、ADC以及TMU均与MCU电连接；MCU发送控制指令至发光单元、DDS、DAC、ADC以及TMU；发光单元产生光激励信号；DDS产生频率可调正弦波激励信号、三角波激励信号和方波激励信号；DAC实时产生模拟激励信号；ADC测量待测芯片的响应信号；TMU测量激励信号的时间间隔；测试机的体积小于或等于800立方厘米。本实用新型专利技术提供的测试机，集成了模拟类芯片测试的通用需求，可实现小批量模拟集成电路芯片的自动化测试，具有成本低、体积小、方便灵活的特点。方便灵活的特点。方便灵活的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种测试机及测试平台


[0001]本技术涉及自动化测量
，尤其涉及一种测试机及测试平台。

技术介绍

[0002]在半导体
中，芯片开发过程中的验证测试，需要采用自动化测试装置进行。自动化测试装置可以根据待测芯片的结构设计测试电路，给待测信号发送要求的激励信号，来采集待测芯片在各种激励信号下的响应。对于模拟类芯片而言，基本要求自动化测试装置能够提供若干路开关、源发生要求的激励信号，以及可以采集各种响应的测试表。
[0003]对于模拟集成电路芯片的小批量的测试，目前常见做法有两种：一种是利用自动测试机(Automatic Test Equipment，ATE)，第二种利用若干仪器仪表组合搭建专用测试平台。在集成电路芯片的量产测试中一般采用自动测试机，随着芯片的更新升级，自动测试机的功能和性能也随之进化，其成本价格也不断上涨，但对于在实验室等仅需要对小批量芯片进行测试的情况来说，自动测试机存在利用率不高，不实用经济的问题。另外，采用各种仪器仪表搭建测试平台，再进行自动化控制，虽然功能和性能强大，但却存在搭建周期长、资源成本高，占地本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试机，其特征在于，包括：控制单元MCU、发光单元、直接数字频率合成信号发生器DDS、数模转换器DAC、模数转换器ADC和时间测量单元TMU；所述发光单元、所述DDS、所述DAC、所述ADC以及所述TMU均与所述MCU电连接；所述MCU用于发送控制指令至所述发光单元、所述DDS、所述DAC、所述ADC以及所述TMU；所述发光单元用于根据所述控制指令产生光激励信号；所述DDS用于根据所述控制指令产生频率可调正弦波激励信号、三角波激励信号和方波激励信号；所述DAC用于根据所述控制指令实时产生模拟激励信号；所述ADC用于根据所述控制指令测量待测芯片的响应信号；所述TMU用于测量激励信号的时间间隔；所述测试机的体积小于或等于800立方厘米。2.根据权利要求1所述的测试机，其特征在于，所述DAC的分辨率小于或等于16位；所述DAC的输入通道小于或等于8；所述DAC的档位范围是0
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5V。3.根据权利要求1所述的测试机，其特征在于，所述ADC包括第一ADC和第二ADC；所述第一ADC的分辨率小于或等于24位，所述第一ADC的档位范围为0
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5V；所述第二ADC的分辨率小于或等于16位，所述第二ADC的档位范围为
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10.24...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾飞，
申请(专利权)人：苏州坤元微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：