端子压接检查装置具备：存储部，其存储基准波形；压力波形获取部，其获取N(其中，N为2以上的自然数)次端子压接的压力波形；第一判定部，其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内；平均压力波形计算部，其计算N次端子压接的平均的压力波形；第二判定部，其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内；以及更新部，其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在第二规定值以内这两者的情况下，允许所述基准波形的更新。基准波形的更新。基准波形的更新。
【技术实现步骤摘要】
端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法
[0001]本专利技术涉及用于检查端子是否良好地压接于电线的端部的端子压接检查装置及端子压接检查的基准波形的更新方法。
技术介绍
[0002]以往，在线束的制造等中，使用将端子压接于电线的端部的端子压接装置。由于端子未被良好地压接的带端子电线为不合格品，因此期望在端子压接时检查端子是否被良好地压接。因此，一直以来，利用用于检查端子是否良好地压接于电线的端部的端子压接检查装置。
[0003]在日本专利公开2005
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135820号公报中，记载了一种装置，其利用压力传感器检测端子压接装置的基板承受的压力，并基于该压力检查端子压接的好坏。在该装置中，首先，对于合格品，生成表示压力相对于端子压接处理的经过时间的变化的压力波形。以下，将该压力波形称为基准波形。然后，将检查品的压力波形与基准波形进行比较，基于它们的差是否在预先规定的规定值以下来判定检查品是合格品还是不合格品。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题
[0004]然而，由于端子压接装置的设置环境的变化或老化等，合格品的压力波形略有不同。因此，存在暂时设定的基准波形之后变得不适当的情况。因此，优选适当更新基准波形。但是，在缺乏知识或经验的用户进行基准波形的更新的情况下，有可能在未意识到更新后的基准波形不适当的情况下进行更新。为了防止基准波形的不适当的更新，考虑对更新设置一定的限制。
[0005]在日本专利公开2016
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154115号公报中，记载了为了防止基准数据与校正数据之差变大，将基准数据的校正范围限制在规定范围内的内容。然而，在日本专利公开2016
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154115号公报中，仅描述了限制校正的范围的一般思想，并未公开任何具体的方法。
[0006]本专利技术的目的在于提供一种能够防止基准波形的不适当的更新的端子压接检查装置以及端子压接检查的基准波形的更新方法。(二)技术方案
[0007]本专利技术的端子压接检查装置是使用压力波形来检查端子压接的好坏的装置，所述压力波形表示端子压接装置所进行的端子压接的进展程度与所述端子压接装置中产生的压力的关系，所述端子压接检查装置具备：存储部，其存储所述压力波形的基准波形；压力波形获取部，其在进行了N(其中，N为2以上的自然数)次端子压接时获取各次的压力波形；第一判定部，其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内；平均压力波形计算部，其计算N次端子压接的平均的压力波形；第二判定部，其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内；以及更新部，其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压
接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，允许所述基准波形的更新。
[0008]本专利技术的端子压接检查的基准波形的更新方法是在基于压力波形与基准波形之差来检查端子压接的好坏的端子压接检查中，对所述基准波形进行更新的方法，所述压力波形表示端子压接装置所进行的端子压接的进展程度与所述端子压接装置中产生的压力的关系，所述方法包括：压力波形获取工序，进行N(其中，N为2以上的自然数)次端子压接，获取各次的压力波形；第一判定工序，判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内；平均压力波形计算工序，计算N次端子压接的平均的压力波形；第二判定工序，判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内；以及更新工序，在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，允许所述基准波形的更新。
[0009]根据上述端子压接检查装置和上述端子压接检查的基准波形的更新方法，在进行基准波形的更新时进行N次端子压接，在从这些端子压接中获取的平均的压力波形与基准波形之差大于第二规定值的情况下，禁止基准波形的更新。除此之外，对于N次端子压接的每一次而言，若获取的压力波形与所述基准波形之差不在第一规定值以内，则禁止基准波形的更新。由此，即使是缺乏知识或经验的用户，也可以防止进行基准波形的不适当的更新。
[0010]所述端子压接检查装置的所述更新部可以构成为，在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，将所述平均的压力波形作为更新后的基准波形存储在所述存储部中。
[0011]在所述基准波形的更新方法的所述更新工序中，在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，将所述平均的压力波形作为更新后的基准波形。
[0012]根据上述端子压接检查装置和上述基准波形的更新方法，分别与基准波形之差在第一规定值以内的N个压力波形的平均的压力波形成为更新后的基准波形。由此，能够容易地设定适当的波形作为更新后的基准波形。
[0013]所述端子压接检查装置可以具备在基准波形的更新被禁止时进行通知的通知部。
[0014]所述基准波形的更新方法可以包括在基准波形的更新被禁止时进行通知的通知工序。
[0015]根据上述端子压接检查装置和上述端子压接检查的基准波形的更新方法，用户能够迅速且正确地识别基准波形的更新已被禁止，并且容易迅速且可靠地进行之后的处理。(三)有益效果
[0016]根据本专利技术，能够提供一种可防止基准波形的不适当的更新的端子压接检查装置以及端子压接检查的基准波形的更新方法。
附图说明
[0017]图1是端子压接装置的主视图。图2是端子压接装置的侧视图。图3是端子压接检查装置的结构图。图4是端子压接检查装置的功能块图。图5是端子压接检查方法的流程图。图6是压力波形的说明图。图7是基准波形的更新方法的流程图。附图标记说明1
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端子压接装置；2
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砧座；3
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压接器；4
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马达；10
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端子；12
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电线；20
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控制器；21
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压力传感器；41
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存储部；42
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压力波形获取部；45
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平均压力波形计算部；46
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第一判定部；47
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第二判定部；48
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更新部；49
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通知部；50
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端子压接检查装置。
具体实施方式
[0018]以下，参照附图对本专利技术的一个实施方式进行说明。之后对详细情况进行说明，本实施方式的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种端子压接检查装置，其使用压力波形检查端子压接的好坏，所述压力波形表示端子压接装置所进行的端子压接的进展程度与所述端子压接装置中产生的压力的关系，所述端子压接检查装置具备：存储部，其存储所述压力波形的基准波形；压力波形获取部，其在进行了N次端子压接时获取各次的压力波形，其中，N为2以上的自然数；第一判定部，其判定获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中是否均在第一规定值以内；平均压力波形计算部，其计算N次端子压接的平均的压力波形；第二判定部，其判定所述平均的压力波形与所述基准波形之差是否在第二规定值以内；以及更新部，其在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，允许所述基准波形的更新。2.根据权利要求1所述的端子压接检查装置，其特征在于，所述更新部构成为，在满足判定为所获取的各次的压力波形与所述基准波形之差在全部N次端子压接中均在所述第一规定值以内、以及判定为所述平均的压力波形与所述基准波形之差在所述第二规定值以内这两者的情况下，将所述平均的压力波形作为更新后的基准波形存储在所述存储部中。3.根据权利要求1所述的端子压接检查装置，其特征在于，具备在基准波形的更新被禁止时进行通知的通知部。4.一种端子压接检查的基准波形的更新...
【专利技术属性】
技术研发人员：后藤淳，宇高康记，
申请(专利权)人：新明和工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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