用于化学分析仪的多用途采样设备制造技术

一种采样设备包括与痕量检测头和块体检测头联接的棒延伸部。痕量检测头收集最大量的样品以进行痕量检测分析。块体检测头收集极少量的样品以用于在块体样品识别中使用。量的样品以用于在块体样品识别中使用。量的样品以用于在块体样品识别中使用。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于化学分析仪的多用途采样设备
相关申请
[0001]本申请要求于2019年1月14日提交的美国临时申请号62/792,009的权益。上述申请的全部传授内容通过援引并入本文。

技术介绍

[0002]用于痕量检测的分析仪器(包含离子迁移谱仪、质谱仪和化学传感器装置(例如，气相色谱仪、电化学传感器和荧光化学传感器))是被设计成从样品检测少量分析物(通常低至纳克)的高灵敏仪器。伴随痕量检测系统的是从物体或表面收集蒸气或残留物的采样设备。采样设备被设计成将收集效率最大化，以确保关注的物质高于仪器的检测水平。
[0003]当所引入的样品量在纳克至低微克的范围中时，痕量检测系统效果良好。当样品量太大时，分析仪器可能在仪器准备好进行后续分析之前需要一个(或多个)较长的清洁循环来减小记忆效应。出于此原因，痕量检测系统不太适合从块体样品(例如，粉末和药丸)对关注的物质进行材料识别。相应地，典型地使用其他类型的检测器(比如拉曼光谱仪或傅里叶变换红外光谱仪(FTIR))直接分析样品而不是用收集装置擦拭并通过痕量检测器分析，来从块体样品进行材料识别。
[0004]在一些情况下，使用痕量检测器从块体样品进行采样和分析需要利用多个可抛弃式样品收集拭子，以减少输送到检测器的材料量。这个过程既浪费又麻烦。

技术实现思路

[0005]本文所述的用于化学分析仪的采样设备允许从表面污染物收集最大量的残留物以进行痕量检测分析，以及从块体样品收集少量的残留物以进行块体检测分析。分析可以由各种各样的分析仪器执行。
[0006]本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括：具有与痕量检测头和块体检测头联接的端部的棒延伸部。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
[0007]该保持器可以是保持环。该痕量检测头的主体可以具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。磁体可以定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。该凹槽可以具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。该拭子支撑件可以具有电阻加热元件。该电阻加热元件可以电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。该电触点可以被配置成在该痕量检测头与分析仪器配准时接触该分析仪器的电触点。该拭子支撑件可以具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
[0008]从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件可以进一步包括具有该电阻加热元件的基部。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有小于约1cm2的表面积。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
[0009]该痕量检测头和该块体检测头中的一个或多个可以是可拆卸的。该棒延伸部可以具有用于与该痕量检测头的配合螺纹接口联接或者与该块体检测头的配合螺纹接口联接的螺纹接口。O形环或垫圈可以密封该棒延伸部与该痕量检测头或该块体检测头之间的接口。
[0010]本文描述了一种可拆卸的痕量检测头。该可拆卸的痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持环。该痕量检测头的主体可以具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。磁体可以定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。该凹槽可以具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。该拭子支撑件可以包括电阻加热元件，该电阻加热元件可以电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。该拭子支撑件可以具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。
[0011]本文描述了一种可拆卸的块体检测头。该可拆卸的块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件可以进一步包括具有该电阻加热元件的基部。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有小于约1cm2的表面积。从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部可以具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。
[0012]本文描述了一种用于采样设备的套件。该套件可以包括棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；痕量检测头；以及块体检测头。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
[0013]本文描述了一种用于采样设备的套件。该套件可以包括棒延伸部，该棒延伸部具有用于与检测头联接的相反端部；以及检测头，该检测头具有用于接纳拭子支撑件或块体收集器并被配置用于与该棒延伸部联接的主体。该套件可以进一步包括拭子支撑件。该套件可以进一步包括用于将拭子联接到该检测头的主体的保持器。该套件可以进一步包括块体收集器。
[0014]本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括具有与痕量检测头联接的端部的棒延伸部。该痕量检测头可以包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器。
[0015]本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该采样设备可以包括具有与块体检测头联接的端部的棒延伸部。该块体检测头可以包括用于接纳块体收集器的主体。该块体收集器可以包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。
[0016]本文描述了一种用于化学分析仪的采样设备。该设备可以包括：包括采样接口和棒延伸接口的痕量检测头；包括采样接口和棒延伸接口的块体检测头；以及棒延伸部，该棒延伸部包括该痕量检测头机械联接到的第一接口以及该块体检测头机械联接到的第二接口，该痕量检测头、该块体检测头和该棒延伸部的组合限定了棒。
[0017]该痕量检测头和该块体检测头可以分别通过该第一接口和该第二接口从该棒延伸部可拆卸地联接。当处于联接布置中时，该痕量检测头、该棒延伸部和该块体检测头形成线性设备。该痕量检测头采样接口限定了拭子支撑件，并且可以进一步包括被配置成在固
定布置中将拭子联接到该拭子支撑件的保持器。该痕量检测头可以进一步包括与该拭子支撑件处于热连通的加热器元件。该痕量检测头可以进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口。该电接口可以联接到该电接口与该加热器元件之间的电路径，以使得当该痕量检测头与该分析仪器处于联接布置中时，该加热器元件能够被通电并产生热。
[0018]该块体检测头采样接口可以包括具有集成加热器元件的收集器，该收集器从(i)该块体检测头的表面或(ii)联接到该块体检测头的元件的表面突出。
[0019]该块体检测头可以进一步包括被配置成联接到该分析仪器的对应电接口的电接口。该电接口可以联接到该电接口与该集成加热器元件之间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于化学分析仪的采样设备，包括：具有与痕量检测头和块体检测头联接的端部的棒延伸部；其中，该痕量检测头包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与该棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持器；其中，该块体检测头包括：用于接纳块体收集器的主体，其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件。2.如权利要求1所述的采样设备，其中，该保持器是保持环。3.如权利要求2所述的采样设备，其中，该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽。4.如权利要求3所述的采样设备，其中，磁体定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。5.如权利要求4所述的采样设备，其中，该凹槽具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。6.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，该拭子支撑件包括电阻加热元件。7.如权利要求6所述的采样设备，其中，该电阻加热元件电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。8.如权利要求7所述的采样设备，其中，该电触点被配置成在该痕量检测头与分析仪器配准后接触该分析仪器的电触点。9.如权利要求1所述的采样设备，其中，该拭子支撑件具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。10.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件进一步包括具有该电阻加热元件的基部。11.如权利要求10所述的采样设备，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有小于约1cm2的表面积。12.如权利要求10所述的采样设备，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有约0.1cm2到约1cm2的表面积。13.如权利要求1至5中任一项所述的采样设备，其中，该痕量检测头和该块体检测头中的一个或多个是可拆卸的。14.如权利要求13所述的采样设备，其中，该棒延伸部具有用于与该痕量检测头的配合螺纹接口联接或者与该块体检测头的配合螺纹接口联接的螺纹接口。15.如权利要求14所述的采样设备，进一步包括用于密封该棒延伸部与该痕量检测头或该块体检测头之间的接口的O形环或垫圈。16.一种可拆卸的痕量检测头，包括：用于接纳拭子支撑件并被配置成与棒延伸部联接的主体；以及用于将拭子联接到该痕量检测头的主体的保持环；其中，该痕量检测头的主体具有用于接纳连接到该保持环的梭子的凹槽；其中，磁体定位在该凹槽内，以用于与定位在该梭子内的磁体磁耦合。
17.如权利要求16所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该凹槽具有远端磁体和近端磁体，以用于将该梭子分别固持在打开位置和关闭位置。18.如权利要求16或17所述的采样设备，其中，该拭子支撑件包括电阻加热元件。19.如权利要求18所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该电阻加热元件电联接到该痕量检测头的主体上的电触点。20.如权利要求16或17所述的可拆卸的痕量检测头，其中，该拭子支撑件具有基部，该基部具有约1cm2到约100cm2的表面积。21.一种可拆卸的块体检测头，包括：用于接纳块体收集器的主体，其中，该块体收集器包括基部以及从该块体收集器的基部垂直延伸的构件；并且其中，从该块体收集器的基部垂直延伸的该构件进一步包括具有该电阻加热元件的基部。22.如权利要求21所述的可拆卸的块体检测头，其中，从该块体收集器垂直延伸的该构件的基部具有小于约1cm2的表面积。23.如权利要求21所述的可拆卸的块体检测头，其中，从该块体...

【专利技术属性】
技术研发人员：汉，
申请(专利权)人：维肯检测公司，
类型：发明
国别省市：