一种IGBT驱动电路的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种IGBT驱动电路的测试装置，属于测试装置领域。该测试装置，包括：控制单元，包括单片机，用于输出控制信号，以及接收检测结果并进行智能判断；拨钮电路，用于根据单片机的第一控制信号，控制IGBT驱动电路的上、下桥检测通道的切换，上、下桥检测通道同时仅有一个检测通道开通；光耦隔离电路，用于接收单片机的第二控制信号，并根据上、下桥检测通道的通断和第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换；电压检测电路，用于检测IGBT驱动电路输出的驱动信号，并将检测结果反馈至单片机。本实用新型专利技术能够快速检测双通道IGBT驱动电路的功能性测试，解决了IGBT测试装置系统复杂、成本高昂和不便移动的特点。成本高昂和不便移动的特点。成本高昂和不便移动的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT驱动电路的测试装置


[0001]本技术涉及一种测试装置，特别涉及一种IGBT驱动电路的测试装置。

技术介绍

[0002]现有技术中，很多厂家的采煤机变频器采用的是ABB原装变频器进行改造，即将内部的主控制板、驱动板等从原装变频器拆下来，进行另外组装。随着技术不断进步，不少厂家开始重新设计IGBT驱动电路，以满足采煤机变频器对减少尺寸、增强抗振和功率密度提升的严苛要求。鉴于IGBT属于变频器内关键元件，IGBT驱动失效必定会造成严重后果，所以对IGBT驱动电路的测试变得尤为重要。
[0003]产品研发阶段，可以采用大功率直流电源、信号发生器、高压差分探头、罗氏线圈和多通道示波器等，通过普遍采用的IGBT双脉冲测试方法，对IGBT和IGBT驱动电路同时进行测试，能够测试IGBT驱动电路的性能。
[0004]上述的测试装置具有系统复杂、成本高昂和不便移动的特点，不能很好的满足现场安装和维护时对IGBT驱动电路进行功能性测试的要求，不能快速的测试IGBT驱动产品的好坏。目前，适用于IGBT驱动电路的现场快速测试装置暂无相关资料。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于针对上述问题，提供了一种IGBT驱动电路的测试装置。
[0006]本技术的目的是这样实现的：
[0007]一种IGBT驱动电路的测试装置，所述IGBT驱动电路包括上、下桥双通道驱动电路，包括：
[0008]控制单元，包括单片机，用于输出控制信号，以及接收检测结果并进行智能判断；
[0009]拨钮电路，所述拨钮电路包括SPDT单刀双掷开关；所述拨钮电路与所述单片机通信连接，用于根据所述单片机的第一控制信号，控制所述IGBT驱动电路的上、下桥检测通道的切换，所述上、下桥检测通道同时仅有一个检测通道开通；
[0010]光耦隔离电路，与所述单片机通信连接，用于接收所述单片机的第二控制信号，并根据所述上、下桥检测通道的通断和所述第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换；
[0011]电压检测电路，与所述单片机通信连接，用于检测所述IGBT驱动电路输出的驱动信号，并将检测结果反馈至所述单片机。
[0012]优选地，所述测试装置还包括：
[0013]485调试电路，与所述单片机通信连接，用于对所述单片机进行调试和校准；和/或，
[0014]指示灯电路,与所述单片机通信连接，用于根据所述单片机智能判断的结果通过灯光发出指示。
[0015]优选地，所述SPDT单刀双掷开关包括对应左、中和右三个位置的ON
‑
OFF
‑
ON三种状
态，分别控制上桥检测通道开通、关闭、下桥检测通道开通三种检测模式。
[0016]优选地，所述电压检测电路包括两路绝对值电路，分别用于检测上桥驱动电路输出的上驱动信号和下桥驱动电路输出的下驱动信号。
[0017]优选地，还包括供电单元，用于为本测试装置提供所需的电源。
[0018]优选地，所述上、下桥检测通道共用一个高、低压电平电源。
[0019]本技术的有益效果为：
[0020]1)通过高平电平代替PWM波来检测IGBT驱动电路的输出，简化了电路。
[0021]2)使用单片机检测IGBT驱动电路输出电压进行智能判断，能快速得出检测结果。
[0022]3)能够快速检测双通道IGBT驱动电路的功能性测试，解决了IGBT测试装置系统复杂、成本高昂和不便移动的特点，很好的满足工业现场安装和维护、工厂批量检测等场合的功能性测试的要求。
附图说明
[0023]图1示出了一种IGBT驱动电路的原理框图；
[0024]图2示出了本技术IGBT驱动电路的测试装置的一实施例原理框图；
[0025]图3示出了一种绝对值电路的原理框图。
具体实施方式
[0026]本技术的各种实施例将参照附图进行说明。在说明书及附图中，具有类似结构或功能的元件将用相同的元件符号表示。可以理解，附图仅为提供参考与说明使用，并非用来对本技术加以限制。附图中显示的尺寸仅仅是为便于清晰描述，而并不限定比例关系或对本技术进行穷尽性的说明，也不是对本技术的范围进行限制。
[0027]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0028]本技术提供了一种IGBT驱动电路的测试装置。
[0029]其中，图1示出了一种IGBT驱动电路原理框图，主要包括控制逻辑信号101、IGBT驱动电路102和IGBT电路103。所示IGBT驱动电路102为上、下桥双通道驱动电路，即包括相同的上桥驱动电路和下桥驱动电路。由于两个驱动电路为本质相同，下面对其中的上桥驱动电路进行简要说明。在上桥驱动电路中，三极管Q1和三极管Q2组成推挽输出电路，在二极管D1的作用下，IGBT开通门极电阻大于IGBT关断门极电阻，能够显著降低导通损耗和恢复损耗，有助于降低变频器的损耗和噪声。如图1所示，TVS管连接IGBT的门极，并和IGBT的集电极构成有源钳位电路，目的是钳住IGBT的集电极的电位，使其不要到达太高的水平，如果关断时产生的电压尖峰太高或者太陡，都会使IGBT受到威胁。有源钳位电路只有在故障状态下才会动作，正常时不工作。输入到IGBT驱动电路的控制逻辑信号101一般为PWM波，上下桥通道不是同时为高电压，且存在死区时间。IGBT电路103为典型的上下管一体式的IGBT电路。
[0030]图2示出了一种测试装置8的原理框图，用于对具有如图1所示的IGBT驱动电路的
IGBT驱动电路板9进行功能性检测，以识别IGBT驱动电路的异常，例如二极管焊接方向异常、三极管NPN和PNP型号异常、电阻和电容焊接异常(虚焊、漏焊)等等。
[0031]该测试装置8包括控制单元1、拨钮电路2、485调试电路3、指示灯电路4、光耦隔离电路5、电压检测电路6和供电单元7。
[0032]其中，控制单元1包括单片机、复位电路、时钟电路和存储电路，分别与拨钮电路2、485调试电路3、指示灯电路4、光耦隔离电路5、电压检测电路6通信连接，用于向与其连接的各电路输出控制信号，同时还用于接收电压检测电路6反馈的检测结果并进行智能判断，然后输出智能判断的结果给指示灯电路4。
[0033]拨钮电路2包括SPDT单刀双掷开关，用于上下桥检测通道的切换，避免上下桥检测通道同时导通。SPDT单刀双掷开关具体包括对应左、中和右三个位置的ON
‑
OFF
‑
ON三种状态，分别控制上桥检测通道开通、关闭、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT驱动电路的测试装置，所述IGBT驱动电路包括上、下桥双通道驱动电路，其特征在于，包括：控制单元，包括单片机，用于输出控制信号，以及接收检测结果并进行智能判断；拨钮电路，所述拨钮电路包括SPDT单刀双掷开关；所述拨钮电路与所述单片机通信连接，用于根据所述单片机的第一控制信号，控制所述IGBT驱动电路的上、下桥检测通道的切换，所述上、下桥检测通道同时仅有一个检测通道开通；光耦隔离电路，与所述单片机通信连接，用于接收所述单片机的第二控制信号，并根据所述上、下桥检测通道的通断和所述第二控制信号，将上、下桥检测通道在高、低压电平间切换；电压检测电路，与所述单片机通信连接，用于检测所述IGBT驱动电路输出的驱动信号，并将检测结果反馈至所述单片机。2.根据权利要求1所述的一种IGBT驱动电路的测试装置，其特征在于，还包括：485调试电路，与所述单片机通信连接，用于对所述单片机进...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎青，罗昆，庄德玉，郭岱，
申请(专利权)人：天地科技股份有限公司上海分公司，
类型：新型
国别省市：