光滑物体表面缺陷检测方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光滑物体表面缺陷检测方法、装置、设备及介质，所述方法包括采集在被检测物体表面拍摄的二张或二张以上原始图像，原始图像为在明暗相间的、相对于所述被检测物具有一个或一个以上方向的条纹光源照射下获得的；计算各个所述原始图像之间的图像强度变化，根据图像强度变化，得到具有差异特征的差异图像；提取差异图像的像素在局部区域的亮度变化，根据差异图像的亮度变化，归一化到灰度图像区间，得到形状图像；根据形状图像，进行被检测物的表面缺陷判断。通过本发明专利技术，可以重建光滑的被检测物表面纹理的光影变化来达到提取缺陷特征目的。取缺陷特征目的。取缺陷特征目的。

【技术实现步骤摘要】
光滑物体表面缺陷检测方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及自动化检测
，尤其涉及光滑物体表面缺陷检测方法和方法、装置及设备。

技术介绍

[0002]基于机器视觉的缺陷检测近年来发展趋势越来越迅速，一方面得益于各个工业领域：如半导体行业的Mini/Macro LED，新能源行业的消费类软包电池、以及动力电池的外观缺陷检测，还有精密加工的金属表面缺陷检测，以及屏幕显示行业的缺陷检测等等都积极推动AOI技术的不断迭代与强化；其次是近年来劳动力市场的成本再逐年增加，对产品生产的后段检测的自动化需求也越来越强烈，各个厂家都积极推动后段缺陷检测的自动化进程；缺陷检测自动化也是收集产品缺陷数据，改善产品工艺制程的有效手段。
[0003]目前主流的机器视觉缺陷检测都是利用2D图像，通过传统的图像处理算法进行缺陷增强，进而达到缺陷提取的目的，但是由于传统的缺陷检测种类异常繁多，传统的缺陷检测手段无法cover住所有的缺陷种类，且单一的缺陷成像也能各不相同，单一的算法参数设置也是经常存在过漏检，这也是目前2D缺陷检测的通病；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光滑物体表面缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：采集在被检测物体表面拍摄的二张或二张以上原始图像，所述原始图像为在明暗相间的、相对于所述被检测物具有一个或一个以上方向的条纹光源照射下获得的；计算各个所述原始图像之间的图像强度变化，根据所述图像强度变化，得到具有差异特征的差异图像；提取所述差异图像的像素在局部区域的亮度变化，根据所述差异图像的亮度变化，得到形状图像，归一化到灰度图像区间；根据所述形状图像，进行所述被检测物的表面缺陷判断。2.根据权利要求1所述的光滑物体表面缺陷检测方法，其特征在于，所述原始图像为在相对于所述被检测物的方向为纵向和横向的条纹光源照射下获得的，在相对于所述被检测物的方向为纵向和横向的条纹光源照射下获得的所述原始图像至少分别有二张。3.根据权利要求1所述的光滑物体表面缺陷检测方法，其特征在于，所述提取各个所述原始图像之间的图像强度变化，根据所述图像强度变化，得到具有差异特征的差异图像，包括：将多张所述原始图像依次排列；对相邻两张所述原始图像之间对应的像素位置的像素值进行相减，得到差值；将所述差值按相对应的位置进行排序，得到差异图像。4.根据权利要求3所述的光滑物体表面缺陷检测方法，其特征在于，所述对相邻两个所述原始图像之间对应的像素位置的像素值进行相减，得到差值，包括：取第N个所述原始图像的像素坐标，N为正整数，取第N+1个所述原始图像的像素坐标，计算第N个所述原始图像的像素坐标减去第N+1个所述原始图像的像素坐标的绝对值，所述绝对值为所述差值。5.根据权利要求1所述的光滑物体表面缺陷检测方法，其特征在于，所述提取所述差异图像的像素局部区域的亮度变化，包括：通过特征提取的统计方法统计计算所述差异图像的像素局...

【专利技术属性】
技术研发人员：张继华，黄辉，温柳康，易佳朋，
申请(专利权)人：深圳中科精工科技有限公司，
类型：发明
国别省市：