本发明专利技术涉及一种天线远场量测系统，其包括指向性天线、第一光产生器、第二光产生器、固定装置、承载装置及微波暗室。第一光产生器用以发射第一平面光束。第二光产生器用以发射第二平面光束。固定装置将第一光产生器及第二光产生器固定在指向性天线的侧边，并且，第一平面光束与第二平面光束相交于第一直线。当待侧物设置于待侧物承载装置上时，第一平面光束与第二平面光束在待侧物上投射出一个十字形，使得本发明专利技术可以利用此十字形将指向性天线与被量测的待侧物相互对准。测的待侧物相互对准。测的待侧物相互对准。
【技术实现步骤摘要】
具有对准功能的天线模块、天线远场量测系统
[0001]本专利技术涉及量测系统，特别涉及一种具有对准功能的天线模块及包括此天线模块的天线远场量测系统。
[0002]后台技术
[0003]参阅图1，传统的天线远场量测暗室系统包括暗室11、标准天线12及转台13。
[0004]标准天线12固定在暗室11的侧壁111上。待测物14放置在转台13上，但这种技术的缺点在于不确定量测时待测物14到底有没有确实对准标准天线12，特别是远场量测时标准天线12与待测装置14的距离相对近场量测为远，待测装置14安装在转台13上的些许位置偏移都可能导致最终量测结果的显著误差。为了解决此一缺点，本专利技术提出了一种具有对准功能的天线模块﹙图2﹚取代传统无对准功能的标准天线12。
技术实现思路
[0005]本专利技术具有对准功能的天线模块包含指向性天线、第一光产生器、第二光产生器及固定装置。
[0006]第一光产生器用以发射第一平面光束。第二光产生器用以发射第二平面光束。固定装置将第一光产生器及第二光产生器固定在指向性天线的侧边，并且，第一平面光束与第二平面光束相交于第一直线。
[0007]优选地，指向性天线的主波束沿着第一直线传播。
[0008]优选地，第一平面光束及第二平面光束都是激光束。
[0009]优选地，指向性天线是喇叭天线。
[0010]优选地，指向性天线是数组天线。
[0011]本专利技术一种天线远场量测系统，包含指向性天线、第一光产生器、第二光产生器、固定装置、承载装置及微波暗室。
[0012]第一光产生器用以发射第一平面光束。第二光产生器用以发射第二平面光束。固定装置将第一光产生器及第二光产生器固定在指向性天线的侧边，并且，第一平面光束与第二平面光束相交于第一直线。承载装置用以承载待侧物，且当待侧物设置于承载装置上时，第一平面光束与第二平面光束在待侧物上投射出一个十字形。承载装置、第一光产生器、第二光产生器及固定装置设置在微波暗室中。
[0013]优选地，指向性天线的主波束指向该十字形的一相交点，且相交点与待测物的几何中心重迭。
[0014]优选地，第一平面光束及第二平面光束都是激光束
[0015]优选地，指向性天线是喇叭天线或数组天线。
[0016]本专利技术之效果在于：第一光产生器及第二光产生器固定在指向性天线侧边，因此能利用第一平面光束及第二平面光束在待侧物上投射出的十字形的相交点调整待测装置的位置，使待测装置能对准指向性天线的主波束，从而避免先前技术待测装置没有对准指向性天线而造成的量测误差。
附图说明
[0017]图1是一种传统技术的天线远场量测系统的示意图。
[0018]图2是本专利技术天线远场量测系统的较佳实施例的示意图。
[0019]图3是本专利技术较佳实施例的局部示意图，说明一具有对准功能的天线模块的第一种实施方式。
[0020]图4是本专利技术具有对准功能的天线模块的第二种实施方式的示意图。
具体实施方式
[0021]参阅图2及图3，本专利技术天线远场量测系统的较佳实施例包括具有对准功能的天线模块100、承载装置9及微波暗室10。
[0022]具有对准功能的天线模块100及承载装置9设置于微波暗室10中。
[0023]具有对准功能的天线模块100包括指向性天线2、第一光产生器3、第二光产生器4及固定装置5。第一光产生器3用以发射第一平面光束6。第二光产生器4用以发射第二平面光束7。固定装置5将第一光产生器3及第二光产生器4固定在指向性天线2的侧边，并且第一平面光束6与第二平面光束7相交于第一直线8。承载装置9可以是一个转台或是机械手臂，功用在于承载待侧物20，例如手机。
[0024]于本较佳实施例，第一平面光束6及第二平面光束7都是雷射光，指向性天线2是喇叭天线且其主波束21沿着第一直线8传播，且当待侧物20设置于承载装置9上时，第一平面光束6与第二平面光束7在待侧物20上投射出一个十字形，指向性天线2的主波束指向该十字形的相交点67，且相交点67与待测物20的几何中心重迭。
[0025]参阅图4，说明指向性天线2以平板数组天线取代喇叭天线的实施方式。
[0026]本专利技术有益的效果在于：第一光产生器3及第二光产生器4固定在指向性天线2侧边，因此能利用第一平面光束6及第二平面光束7在待侧物20上投射出的十字形的相交点67调整待测装置20的位置，使待测装置20能对准指向性天线2的主波束21，从而避免先前技术待测装置20没有对准指向性天线2而造成的量测误差。
[0027]以上所述仅为本专利技术的实施例，其并非用以局限本专利技术的专利范围。
[0028]附图标记
[0029]11:暗室
[0030]111:侧壁
[0031]12:标准天线
[0032]13:转台
[0033]14:待侧装置
[0034]100:具有对准功能的天线模块
[0035]9:承载装置
[0036]10:微波暗室
[0037]2:指向性天线
[0038]21:主波束
[0039]3:第一光产生器
[0040]4:第二光产生器
[0041]5:固定装置
[0042]6:第一平面光束
[0043]7:第二平面光束
[0044]67:相交点
[0045]8:第一直线
[0046]9:承载装置
[0047]20:待侧物
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有对准功能的天线模块，其特征在于，包括：一指向性天线；一第一光产生器，用以发射一第一平面光束；一第二光产生器，用以发射一第二平面光束；及一固定装置，将该第一光产生器及该第二光产生器固定在该指向性天线的侧边，并且，该第一平面光束与该第二平面光束相交于一第一直线。2.如权利要求1所述的具有对准功能的天线模块，其特征在于，该指向性天线的主波束沿着该第一直线传播。3.如权利要求1所述的具有对准功能的天线模块，其特征在于，该第一平面光束及该第二平面光束都是激光束。4.如权利要求1所述的具有对准功能的天线模块，其特征在于，该指向性天线是喇叭天线。5.如权利要求1所述的具有对准功能的天线模块，其特征在于，该指向性天线是数组天线。6.一种天线远场量测系统，其特征在于，包括：一指向性天线；一第一光产生器，用以发射一第一平面光束；一第二光产生器，用以...
【专利技术属性】
技术研发人员：何松林，卢增锦，宋芳燕，洪淑芬，邱宗文，
申请(专利权)人：川升股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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