一种石英摆片下垂量检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种石英摆片下垂量检测装置，包括底座，底座的一端设置有光源，另一端设置有白板，光源和白板之间设置有用于放置石英摆片的摆片工装，且摆片工装设置在靠近光源的位置，白板上设置有能够观测石英摆片下垂量的若干刻线。本实用新型专利技术结构简单，大大提高了检测效率。了检测效率。了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种石英摆片下垂量检测装置


[0001]本技术涉及石英摆片下垂量检测领域，具体涉及一种石英摆片下垂量检测装置。

技术介绍

[0002]石英摆片是石英挠性加速度计的关键部件，石英摆片的下垂量影响了石英挠性加速度计的阈值和线性度。石英摆片在地球重力影响下内圆下垂如图1。目前检测方法是将摆片安装在工装上，使用高精度电子显微镜，电子显微镜必须带有测量功能，将电子显微镜的摄像头水平放置，石英摆片的活动部分受重力影响，向下下垂，电子显微镜将下垂的距离显示在电脑屏幕上，通过软件进行测量下垂量，但是带有测量功能的电子显微镜较为昂贵，检测速度慢。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种石英摆片下垂量检测装置，以解决现有技术存在的问题，本技术结构简单，大大提高了检测效率。
[0004]为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0005]一种石英摆片下垂量检测装置，包括底座，底座的一端设置有光源，另一端设置有白板，光源和白板之间设置有用于放置石英摆片的摆片工装，且摆片工装设置在靠近光源的位置，白板上设置有能够观测石英摆片下垂量的若干刻线。
[0006]进一步地，所述光源通过光源支架连接在底座上。
[0007]进一步地，所述石英摆片包括外圆，以及通过挠性头连接在外圆中间的内圆。
[0008]进一步地，所述摆片工装包括工装本体，工装本体上部设置有用于放置石英摆片的安装槽，安装槽的下部设置有贯通槽，且安装槽的中部与贯通槽连通。
[0009]进一步地，所述安装槽与外圆配合用以支撑外圆。
[0010]进一步地，所述光源的光发射端正对贯通槽。
[0011]与现有技术相比，本技术具有以下有益的技术效果：
[0012]本技术不再使用显微镜，通过投影的方式，将石英摆片的活动部分的下垂量投影到白板上，白板上标识出合格下垂量的区域。只需要将石英摆片放置在制定位置，立即可以判断石英摆片下垂量是否满足要求，大大提高了检测效率。
附图说明
[0013]图1为石英摆片结构示意图；其中(a)为俯视图，(b)为无下垂量时侧视图，(c)为有下垂量时的侧视图；
[0014]图2为本技术装置结构示意图；
[0015]图3为摆片工装结构示意图，其中(a)为立体图；(b)为侧视图。
[0016]其中，1、光源；2、石英摆片；21、外圆；22、挠性头；23、内圆；3、摆片工装；4、底座；5、
白板；6、刻线。
具体实施方式
[0017]下面结合附图对本技术的保护方式做进一步描述：
[0018]参见图2，一种石英摆片下垂量检测装置，包括底座4，底座4的一端设置有光源1，所述光源1通过光源支架连接在底座4上，另一端设置有白板5，白板5上设置有能够观测石英摆片2下垂量的刻线6，光源1和白板5之间设置有用于放置石英摆片2的摆片工装3，且摆片工装3设置在靠近光源1的位置。
[0019]参见图1，石英摆片2包括外圆21，以及通过挠性头22连接在外圆21中间的内圆23。
[0020]参见图3，摆片工装3包括工装本体，工装本体上部设置有用于放置石英摆片2的安装槽，安装槽的下部设置有贯通槽，且安装槽的中部与贯通槽连通，所述安装槽与外圆21配合用以支撑外圆21，所述光源1的光发射端正对贯通槽。
[0021]下面结合具体实施例对本技术做进一步详细说明：
[0022]实施例1
[0023]本技术不需使用显微镜，通过投影的方式，将石英摆片2的活动部分(即内圆23)的下垂量投影到白板5上，白板5上标识出合格下垂量的区域，白板5上刻线6的位置通过已知的不同下垂量的石英摆片2进行标定。只需要将石英摆片2放置在制定位置，立即可以判断石英摆片2下垂量是否满足要求，大大提高了检测效率。
[0024]光源1发光透过摆片工装3将石英摆片2下垂量投影在白板5上，白板5上最上面的刻线6为没有下垂量标识，第二条刻线和第三条刻线之间为合格区域。当石英摆片2的下垂部分投影到第二条刻线和第三条刻线区域之间时判断为合格。
[0025]其中光源1的位置、摆片工装3的位置、白板5的位置固定不能移动。光源1出光的方向不能发生变化。检测石英摆片2时，只需要更换被测石英摆片2即可。
[0026]实施例2
[0027]本技术不需使用显微镜，通过投影的方式，将石英摆片2的活动部分(即内圆23)的下垂量投影到白板5上，通过投影在白板5上刻线6的位置即可得到下垂量，白板5上刻线6的位置通过已知的不同下垂量的石英摆片2进行标定。只需要将石英摆片2放置在制定位置，立即可以判断石英摆片2下垂量是否满足要求，大大提高了检测效率。
[0028]光源1发光透过摆片工装3将石英摆片2下垂量投影在白板5上，白板5上不同位置的刻线6表示不同的下垂量，根据投影在白板5上刻线6的位置即可得到下垂量。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种石英摆片下垂量检测装置，其特征在于，包括底座(4)，底座(4)的一端设置有光源(1)，另一端设置有白板(5)，光源(1)和白板(5)之间设置有用于放置石英摆片(2)的摆片工装(3)，且摆片工装(3)设置在靠近光源(1)的位置，白板(5)上设置有能够观测石英摆片(2)下垂量的若干刻线(6)。2.根据权利要求1所述的一种石英摆片下垂量检测装置，其特征在于，所述光源(1)通过光源支架连接在底座(4)上。3.根据权利要求1所述的一种石英摆片下垂量检测装置，其特征在于，所述石英摆片(2)包括外圆...

【专利技术属性】
技术研发人员：张秀成，田荣，杨居巧，
申请(专利权)人：西安中科智晶光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：