【技术实现步骤摘要】
一种电子元件性能检测装置
本技术涉及检测设备
，具体是指一种电子元件性能检测装置。
技术介绍
在电子元件的生产中经常会出现电子元件的电路连接不良，导致电子元件无法正常工作，因此需要对生产好的电子元件进行检测，传统的检测方式是，员工通过导电笔进行人工检测，这种检测方式费时费力，且准确度不高，如果人工检测时导电笔没有稳定接触待检测电子元件的连接点，将该电子元件误检测为不合格产品，则需要浪费时间进行改正，这种检测方式效率较低。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是，克服以上技术问题，提供一种结构简单，方便操作，检测准确，且效率较高的电子元件性能检测装置。为解决上述技术问题，本技术提供的技术方案为：一种电子元件性能检测装置，包括底座，所述底座上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽、第一出口槽和第二出口槽，所述第一出口槽和第二出口槽末端均连接有运输装置，所述底座顶部设有门型支架，所述门型支架顶部设有电动推杆一，所述电动推杆一的伸缩杆末端固定连接有安装板，所述安装板底部设有检测装置，所述检测装置通过固定...
【技术保护点】
1.一种电子元件性能检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽(2.1)、第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)，所述第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)末端均连接有运输装置(3)，所述底座(1)顶部设有门型支架(4)，所述门型支架(4)顶部设有电动推杆一(5)，所述电动推杆一(5)的伸缩杆末端固定连接有安装板(6)，所述安装板(6)底部设有检测装置(7)，所述检测装置(7)通过固定螺丝固定安装在安装板(6)上，所述检测装置(7)包括支撑板(7.1)、导电笔(7.2)，所述导电笔(7.2)个数为两个，所述门型支架(...
【技术特征摘要】
1.一种电子元件性能检测装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上开设有π字形槽，所述π字形槽包括进口槽(2.1)、第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)，所述第一出口槽(2.2)和第二出口槽(2.3)末端均连接有运输装置(3)，所述底座(1)顶部设有门型支架(4)，所述门型支架(4)顶部设有电动推杆一(5)，所述电动推杆一(5)的伸缩杆末端固定连接有安装板(6)，所述安装板(6)底部设有检测装置(7)，所述检测装置(7)通过固定螺丝固定安装在安装板(6)上，所述检测装置(7)包括支撑板(7.1)、导电笔(7.2)，所述导电笔(7.2)个数为两个，所述门型支架(4)侧壁上设有用于指示检测结果的指示灯一(14)，两个导电笔(7.2)与指示灯一(14)电性相连，所述支撑板(7.1)内对应于导电笔(7.2)顶端设有空腔(7.11)，所述空腔(7.11)内部设有按压指示装置(8)，所述底座(1)内部设有电动推杆二(9)和电动推杆三(10)，所述电动推杆二(9)位于第一出口槽(2.2)端部，所述电动推杆三(10)位于第一出口槽(2.2)侧壁上，并与第二出口槽(2.3)相对应，所述第一出口槽(2.2)侧壁上对应于进口槽(2.1)设有限位开关一(11)，第一出口槽(2.2)底部对应于第二出口槽...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙姣梅，欧阳瑞，
申请(专利权)人：怀化职业技术学院，
类型：新型
国别省市：湖南;43
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