一种芯片的质量检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种芯片的质量检测装置，包括至少两个测试站和控制单元，至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；所述抽测指数的确定方式为，m＝n‑a+b，其中，m表示抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示测试站的数量；b表示测试站的序号。本发明专利技术通过对抽测指数进行确定并且基于抽测指数进行质量测试的数据调节，从而提高了各个测试站的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的质量检测装置本专利技术是申请号为202110248607.1，申请日期为2021年3月8日，专利技术名称为一种基于多站串测的抽测方法及系统的专利技术专利的分案申请。
本专利技术涉及射频芯片测试
，尤其涉及一种芯片的质量检测装置。
技术介绍
QA即QualityAssurance，质量保证。为提高射频芯片测试机的测试结果的准确性，一批测试合格的芯片需要再抽出一部分重新测试，若两次测试结果相同则表明测试机测试结果准确。现有的QA测试多应用于单站测试和多站并测，因为这两者的核心是一样的，常规测试完成后即可知道当前测试芯片的测试结果。具体表现为，以单站测试为例，累计(n-1)颗芯片测试合格后，该站常规测试完第n颗芯片，若该芯片测试合格，则可直接继续做QA测试，若不合格则进行下一个芯片的测试，直至测到第n颗合格的芯片，然后再进行QA测试。但是如果测试模式采用的是双站串测，一颗芯片的测试合格与否涉及到所有站的测试结果。那么及时预判就显得尤为重要了。.例如，中国专利CN110665845A公开了一种堆栈式芯片硅基质量检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片的质量检测装置，其特征在于，包括至少两个测试站和控制单元，/n至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；/n所述抽测指数的确定方式为，m＝n-a+b，/n其中，m表示抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示测试站的数量；b表示测试站的序号。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片的质量检测装置，其特征在于，包括至少两个测试站和控制单元，
至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；
所述抽测指数的确定方式为，m＝n-a+b，
其中，m表示抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示测试站的数量；b表示测试站的序号。


2.根据权利要求1所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在合格的芯片数量达到抽测指数时，所述测试站对当前在测芯片进行质量测试。


3.根据权利要求2所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在合格的芯片的数量达到一轮测试芯片的数量时，所述控制单元指示测试站对第n颗合格芯片重新进行一次质量测试。


4.根据权利要求3所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在合格的芯片数量达到抽测指数时，与抽测指数对应的各个所述测试站对后续进行常规测试的芯片进行质量测试。


5.根据权利要求4所述的芯片的质量检测装置，其特征在于，在最后一个测试站的一轮测试中的最后一...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡信伟，侯林，李翔，
申请(专利权)人：南京派格测控科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32