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本发明涉及一种芯片的质量检测装置，包括至少两个测试站和控制单元，至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；所述抽测指数的确定方式为，m＝n‑a+b，其中，m表示抽测指数...
该专利属于南京派格测控科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京派格测控科技有限公司授权不得商用。

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