一种化成箔的裁切方法技术

本发明专利技术尤其涉及一种化成箔的裁切方法，包括如下步骤：S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点，卷首若干比容测试点和卷尾若干比容测试点的数量相对，且均沿化成箔卷的宽度方向依次分布，每组卷首比容测试点和卷尾比容测试点沿化成箔卷的长度方向相对设置，测得各个比容测试点的比容值；S2：在化成箔卷上裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点的最小比容值Vmin；S3：由电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼上比容测试点的最小比容值Vmin，以及系数K，得知待裁切化成箔的开片长度L=C/(K*Vmin*D)，并在化成箔饼上依次裁切出若干开片长度为L的化成箔。

【技术实现步骤摘要】
一种化成箔的裁切方法
本专利技术属于电解电容器制备
，尤其涉及一种化成箔的裁切方法。
技术介绍
在铝电解电容器的成本构成中，化成箔的材料成本占了50%甚至更多，因此提高化成箔的利用率具有较大的价值。对于铝电解电容器来说，C=K*V*S，其中，C为电容容量，K为系数，V为化成箔比容，S为化成箔面积。在电容器的生产制造过程中，每卷化成箔通常会测试固定的6个点或者10个点的比容，比容测试点分布在卷首和卷尾，且分别为3个点或者5个点。然后选取6个点或者10个点的最小值作为该卷化成箔的比容V，并且以此最小比容来计算一定容量的电容器所需要化成箔的面积，这样是为了避免电容器出现容量负差，但是对于比容大于最小比容的那部分化成箔来说，生产出来的电容器容量则会超过我们的要求，每卷化成箔做出的若干电容器的容量一致性不好，且化成箔的利用率较低，造成了一定程度上的“浪费”。
技术实现思路
为解决现有技术存在的化成箔利用率较低，以及各电容器间的容量一致性较差的问题，本专利技术提供一种化成箔的裁切方法。为解决上述技术问题，本专利技术所采用的技术方案如下，一种化成箔的裁切方法，包括如下步骤：S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点，卷首若干所述比容测试点和卷尾若干所述比容测试点的数量相对，且均沿化成箔卷的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点和卷尾所述比容测试点沿化成箔卷的长度方向相对设置，测得各个比容测试点的比容值；S2：在化成箔卷上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点的最小比容值Vmin；S3：由待生产的电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼上比容测试点的最小比容值Vmin，以及已知系数K，得知，每个待裁切化成箔的开片长度L=C/(K*Vmin*D)，并在化成箔饼上依次裁切出若干开片长度为L的化成箔；S4：重复上述动作S2~S3直至裁切完一卷化成箔。作为优选，卷首位置和卷尾位置的比容测试点的数量均为五个。比容测试点的数量合理，有效标出每一区域的最小比容。进一步地，化成箔卷的总宽度为W=500mm，化成箔卷的两侧边均留出7mm的宽度作为边角料作废，化成箔饼的宽度D=54mm，可裁切出9饼化成箔饼。根据电容器尺寸最大化利用化成箔，提高化成箔的利用率。有益效果：本专利技术的化成箔的裁切方法，将化成箔卷划分区域之后，每饼化成箔饼的比容分别为所在区域的比容测试点的最小比容值V实际min，在生产某容量电容器时，目标电容容量为C目标=K*V*S=K*0.38uf/cm2*54mm*4200mm，则对于某饼比容为V实际min的化成箔饼，实际裁切宽度均为54mm，实际开片长度为L实际，则C目标=K*Vmin*54mm*L实际，L实际=0.38*4200/V实际min，同样一饼化成箔饼，采用本申请裁切方法后，电容器的制作个数从846只提高到857只，产量提高了1.3%，化成箔利用率更高；本专利技术的化成箔的裁切方法，使用每饼化成箔饼本身的实际最小比容为V实际min计算开片长度得到L实际max，C实际=K*V实际min*D*L实际max，C实际更接近于目标容量C目标，因此采用本申请裁切方法计算时电容容量的一致性也会更好。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。图1是本专利技术的化成箔卷的收卷状态示意图；图2是本专利技术的化成箔卷的展开状态示意图；图中：1、化成箔卷，11、比容测试点。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例1如图1和图2所示，一种化成箔的裁切方法，包括如下步骤：S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点11，卷首若干所述比容测试点11和卷尾若干所述比容测试点11的数量相对，且均沿化成箔卷1的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点11和卷尾所述比容测试点11沿化成箔卷1的长度方向相对设置，测得各个比容测试点11的比容值；S2：在化成箔卷1上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点11的最小比容值Vmin；S3：由待生产的电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼上比容测试点11的最小比容值Vmin，以及已知系数K，得知，每个待裁切化成箔的开片长度L=C/(K*Vmin*D)，并在化成箔饼上依次裁切出若干开片长度为L的化成箔；S4：重复上述动作S2~S3直至裁切完一卷化成箔。本实施例的卷首位置和卷尾位置的比容测试点11的数量均为五个，为了便于本实施例技术方案的描述，对该十个比容测试点11标号，卷首位置的比容测试点11依次标号为①~⑤，卷尾位置的比容测试点11依次标号为⑥~⑩，其中标号①与标号⑥沿化成箔卷1的长度方向相对设置。本实施例的化成箔卷1的总宽度为W=500mm，化成箔卷1的两侧边均留出7mm的宽度作为边角料作废，化成箔饼的宽度D=54mm，可裁切出((500mm-14mm)/54mm/饼)=9饼化成箔饼。在本实施例中，以某批次总长度为400m的化成箔卷1举例，该批次化成箔卷1的10个比容测试点11的比容值见下表1所示：表1各比容测试点11的比容值假设将化成箔卷1展开，将500mm宽的化成箔卷1划分为5个区域，5个区域的宽度从左至右分别为40mm、140mm、140mm、140mm、40mm，5个区域的比容分别是①⑥的最小比容值、②⑦的最小比容值、③⑧的最小比容值、④⑨的最小比容值、⑤⑩的最小比容值。经过划分之后，裁切化成箔饼时，通过计算裁切的每饼化成箔饼的比容，为所在区域的比容测试点11的最小比容值V实际min。1、本申请的化成箔利用率更高：该批次化成箔卷1计划裁切54mm*9饼，裁切有效宽度为54mm/饼*9饼=486mm，化成箔卷1的两侧边各有7mm共14mm作为边角料作废。采用原先计算方法时，裁切下来的9饼化成箔饼的比容均为①~⑩的最低点0.379uf/cm2，采用本申请的方法将化成箔卷1划分区域之后，9饼化成箔饼的比容分别为所在区域的比容测试点11的最小比容值V实际min。在生产某容量电容器时，目标电容容量为C目标=K*V*S=K*0.38uf/cm2*54mm*4200mm，则对于某饼比容为V实际min的化成箔饼，实际裁切宽度均为54mm，实际开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种化成箔的裁切方法，其特征在于：包括如下步骤：/nS1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点（11），卷首若干所述比容测试点（11）和卷尾若干所述比容测试点（11）的数量相对，且均沿化成箔卷（1）的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点（11）和卷尾所述比容测试点（11）沿化成箔卷（1）的长度方向相对设置，测得各个比容测试点（11）的比容值；/nS2：在化成箔卷（1）上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点（11）的最小比容值V

【技术特征摘要】
1.一种化成箔的裁切方法，其特征在于：包括如下步骤：
S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点（11），卷首若干所述比容测试点（11）和卷尾若干所述比容测试点（11）的数量相对，且均沿化成箔卷（1）的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点（11）和卷尾所述比容测试点（11）沿化成箔卷（1）的长度方向相对设置，测得各个比容测试点（11）的比容值；
S2：在化成箔卷（1）上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点（11）的最小比容值Vmin；
S3：由待生产的电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁磊，金俊，
申请(专利权)人：南通江海电容器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32