一种化成箔的裁切方法技术

本发明专利技术尤其涉及一种化成箔的裁切方法，包括如下步骤：S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点，卷首若干比容测试点和卷尾若干比容测试点的数量相对，且均沿化成箔卷的宽度方向依次分布，每组卷首比容测试点和卷尾比容测试点沿化成箔卷的长度方向相对设置，测得各个比容测试点的比容值；S2：在化成箔卷上裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点的最小比容值Vmin；S3：由电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼上比容测试点的最小比容值Vmin，以及系数K，得知待裁切化成箔的开片长度L=C/(K*Vmin*D)，并在化成箔饼上依次裁切出若干开片长度为L的化成箔。

【技术实现步骤摘要】
一种化成箔的裁切方法
本专利技术属于电解电容器制备
，尤其涉及一种化成箔的裁切方法。
技术介绍
在铝电解电容器的成本构成中，化成箔的材料成本占了50%甚至更多，因此提高化成箔的利用率具有较大的价值。对于铝电解电容器来说，C=K*V*S，其中，C为电容容量，K为系数，V为化成箔比容，S为化成箔面积。在电容器的生产制造过程中，每卷化成箔通常会测试固定的6个点或者10个点的比容，比容测试点分布在卷首和卷尾，且分别为3个点或者5个点。然后选取6个点或者10个点的最小值作为该卷化成箔的比容V，并且以此最小比容来计算一定容量的电容器所需要化成箔的面积，这样是为了避免电容器出现容量负差，但是对于比容大于最小比容的那部分化成箔来说，生产出来的电容器容量则会超过我们的要求，每卷化成箔做出的若干电容器的容量一致性不好，且化成箔的利用率较低，造成了一定程度上的“浪费”。
技术实现思路
为解决现有技术存在的化成箔利用率较低，以及各电容器间的容量一致性较差的问题，本专利技术提供一种化成箔的裁切方法。为解决上述技术问题，本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种化成箔的裁切方法，其特征在于：包括如下步骤：/nS1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点（11），卷首若干所述比容测试点（11）和卷尾若干所述比容测试点（11）的数量相对，且均沿化成箔卷（1）的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点（11）和卷尾所述比容测试点（11）沿化成箔卷（1）的长度方向相对设置，测得各个比容测试点（11）的比容值；/nS2：在化成箔卷（1）上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点（11）的最小比容值V

【技术特征摘要】
1.一种化成箔的裁切方法，其特征在于：包括如下步骤：
S1：在一卷化成箔的卷首位置和卷尾位置均标记有若干比容测试点（11），卷首若干所述比容测试点（11）和卷尾若干所述比容测试点（11）的数量相对，且均沿化成箔卷（1）的宽度方向依次分布，每组卷首所述比容测试点（11）和卷尾所述比容测试点（11）沿化成箔卷（1）的长度方向相对设置，测得各个比容测试点（11）的比容值；
S2：在化成箔卷（1）上根据待生产的电容器尺寸裁切若干一定宽度为D的化成箔饼，得出每饼化成箔上的比容测试点（11）的最小比容值Vmin；
S3：由待生产的电容器的电容容量C、化成箔饼的宽度D、化成箔饼...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁磊，金俊，
申请(专利权)人：南通江海电容器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32