一种通用开关测试板制造技术

本实用新型专利技术涉及测试板技术领域，特别涉及一种通用开关测试板。本实用新型专利技术提供的一种技术方案是：一种通用开关测试板，包括：PCB板、双密头、开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口、背板；待测的所述PCB板连接所述双密头，所述双密头通过所述开关电路模块连接所述寻址锁存器，所述寻址锁存器连接所述通道模拟多路选择器，所述通道模拟多路选择器与所述译码器连接，所述译码器与所述接口连接，所述接口与所述背板连接。与现有技术相比，本实用新型专利技术的一种通用开关测试板采用了定制的双密头，测试点多，同时配合开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口，使得整个电路模块通用性强、稳定性高。

【技术实现步骤摘要】
一种通用开关测试板
本技术涉及测试板
，特别涉及一种通用开关测试板。
技术介绍
在线路板行业中，测试板是一种非常重要的一种工具。目前的测试板浦片存在测试点少，通用性差，稳定性弱的问题。
技术实现思路
为了克服上述问题，本技术提出一种测试点多、通用性强的通用开关测试板。本技术解决上述技术问题提供的一种技术方案是：一种通用开关测试板，包括：PCB板、双密头、开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口、背板；待测的所述PCB板连接所述双密头，所述双密头通过所述开关电路模块连接所述寻址锁存器，所述寻址锁存器连接所述通道模拟多路选择器，所述通道模拟多路选择器与所述译码器连接，所述译码器与所述接口连接，所述接口与所述背板连接。优选地，所述双密头设有多个针床，所述针床之间并联连接，所述针床与待测的所述PCB板连接。优选地，所述开关电路上设有多个三极管，所述针床与所述三极管连接，所述三极管分别与所述寻址锁存器和所述通道模拟多路选择器连接。优选地，所述开关电路设有PNP三极管和NPN三极管，所述PNP三极管的集电极和所述NPN三极管的集电极与所述双密头的所述针床连接；所述PNP三极管的基电极通过电阻与所述通道模拟多路选择器连接，所述NPN三极管的基电极通过电阻与所述寻址锁存器连接。优选地，所述接口设有端口VIR，所述端口VIR与所述PNP三极管的发射极连接。优选地，所述寻址锁存器为74HCT259，还设有NA端口与所述接口连接。优选地，所述通道模拟多路选择器为74HCT4051，还设有FD端口、IV端口与所述接口连接。优选地，所述译码器为74HCT154PW，设有FD端口、NA端口与所述接口连接。优选地，所述接口为9001-35321C001A。与现有技术相比，本技术的一种通用开关测试板采用了定制的双密头，测试点多，同时配合开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口，使得整个电路模块通用性强、稳定性高。【附图说明】图1为本技术的一种通用开关测试板的模块框图；图2为本技术的一种通用开关测试板的双密头的电路原理图；图3为本技术的一种通用开关测试板的开关电路、寻址锁存器、通道模拟多路选择器的电路原理图；图4为本技术的一种通用开关测试板的译码器的电路原理图；图5为本技术的一种通用开关测试板的接口的电路原理图。【具体实施方式】为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施实例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本技术，并不用于限定本技术。需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅限于指定视图上的相对位置，而非绝对位置。另外，在本技术中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。请参阅图1，本技术的一种通用开关测试板，包括：PCB板、双密头、开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口、背板；待测的所述PCB板连接所述双密头，所述双密头通过所述开关电路模块连接所述寻址锁存器，所述寻址锁存器连接所述通道模拟多路选择器，所述通道模拟多路选择器与所述译码器连接，所述译码器与所述接口连接，所述接口与所述背板连接。请参阅图2，所述双密头设有多个针床，所述针床之间并联连接，所述针床与待测的所述PCB板连接。本实施例中，所述双密头是定制的，所有针床之间并联并且密封。一个接口设有64个PIN针。请参阅图3，所述开关电路上设有多个三极管，所述针床与所述三极管连接，所述三极管分别与所述寻址锁存器和所述通道模拟多路选择器连接。请参阅图3，所述开关电路设有PNP三极管和NPN三极管，所述PNP三极管的集电极和所述NPN三极管的集电极与所述双密头的所述针床连接；所述所述PNP三极管的基电极通过电阻与所述通道模拟多路选择器连接，所述所述NPN三极管的基电极通过电阻与所述寻址锁存器连接。本实施例中，所述开关电路是有PNP三极管和NPN三极管并联连接，多个开关电路之间并联连接。请参阅图3和图5，所述接口设有端口VIR，所述端口VIR与所述PNP三极管的发射极连接。请参阅图3和图5，所述寻址锁存器为74HCT259，还设有NA端口与所述接口连接。请参阅图3和图5，所述通道模拟多路选择器为74HCT4051，还设有FD端口、IV端口与所述接口连接。请参阅图4和图5，所述译码器为74HCT154PW，设有FD端口、NA端口与所述接口连接。所述译码器设有P端口，所述P端口或N端口与所述接口的所述通道模拟多路或所述寻址锁存器连接。所述译码器是4线-16线译码器，设有4个NA端口或4个FD端口，16个N端口或P端口。请参阅图5，所述接口为9001-35321C001A。与现有技术相比，本技术的一种通用开关测试板采用了定制的双密头，测试点多，同时配合开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口，使得整个电路模块通用性强、稳定性高。以上所述仅为本技术的较佳实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是在本技术的构思之内所作的任何修改，等同替换和改进等均应包含在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用开关测试板，其特征在于，包括：/nPCB板、双密头、开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口、背板；/n待测的所述PCB板连接所述双密头，所述双密头通过所述开关电路模块连接所述寻址锁存器，所述寻址锁存器连接所述通道模拟多路选择器，所述通道模拟多路选择器与所述译码器连接，所述译码器与所述接口连接，所述接口与所述背板连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种通用开关测试板，其特征在于，包括：
PCB板、双密头、开关电路模块、寻址锁存器、通道模拟多路选择器、译码器、接口、背板；
待测的所述PCB板连接所述双密头，所述双密头通过所述开关电路模块连接所述寻址锁存器，所述寻址锁存器连接所述通道模拟多路选择器，所述通道模拟多路选择器与所述译码器连接，所述译码器与所述接口连接，所述接口与所述背板连接。


2.如权利要求1所述的一种通用开关测试板，其特征在于，所述双密头设有多个针床，所述针床之间并联连接，所述针床与待测的所述PCB板连接。


3.如权利要求2所述的一种通用开关测试板，其特征在于，所述开关电路上设有多个三极管，所述针床与所述三极管连接，所述三极管分别与所述寻址锁存器和所述通道模拟多路选择器连接。


4.如权利要求3所述的一种通用开关测试板，其特征在于，所述开关电路设有PNP三极管和NPN三极管，所述PNP三极管的集电极和所述NPN三极管...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱勇涛，
申请(专利权)人：深圳加都佳电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44