一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术属于内存测试技术领域，公开了一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质，包括：在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。本发明专利技术能够将“有负载才失效"、"内存颗粒互相干扰"等由于多Rank颗粒组合形式引起的问题在产品SMT(Surface Mount i ng Techno l ogy，表面组装技术)前筛选出来，提高了内存颗粒电性能负载压力测试的能力，进而提高了内存颗粒测试的效能。

【技术实现步骤摘要】
一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质
本专利技术属于内存测试
，具体涉及一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质。
技术介绍
内存条是用于储存数据的一个重要计算机部件，由于计算机的广泛普及，内存条的使用也越来越多，在使用前都要对内存条进行性能测试。现有的内存颗粒的测试主要分为ATE(AutomatedTestingEquipment，自动化测试设备)测试以及SLT(SystemLevelTesting，系统级别测试)测试。其中，ATE测试是指通过给内存颗粒的输入管道施加所需的激励信号，同时监测内存颗粒的输出管脚，观察输出信号是否是预期的值；SLT测试是指在ATE之后，执行系统软件程序，测试内存颗粒各个模块的功能是否正常的测试。为了测试的准确性，通常会将待测内存条插入测试装置主板的内存条插槽中模拟内存条的使用情况来进行测试。然而，现有的测试装置不能多个产品同时插入到通用主板上面小间隙的排布的插槽内，现有的软件测试方法也无法模拟出内存颗粒真实应用场景下的Multi-Chip(多颗粒)、Multi-Rank(多Rank)状况，以至于有些在"重负载"下才失效的DRAM颗粒难以在芯片测试阶段被筛选出来，进而导入进入市场的内存颗粒的性能不够高。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种内存颗粒多维测试方法、装置、系统和可读存储介质，用以解决现有技术中在"重负载"下才失效的DRAM颗粒难以在内存颗粒测试阶段被筛选出来的技术问题。为了解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：本专利技术第一方面提供一种内存颗粒多维测试方法，所述方法应用于待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行的测试场景中，所述方法包括：在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。进一步的，所述将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境，具体包括：在BIOS的配置中设置地址映射模式为交错映射模式。进一步的，所述基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址，具体包括：根据所述多Rank颗粒的物理地址，对每一Rank颗粒同时进行访问；在每一所述Rank颗粒中分别执行不同的测试算法，对所述Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试；根据所述交错映射模式对每一内存颗粒单元进行精确定位，以获取错误内存颗粒单元的物理地址。进一步的，所述根据所述交错映射模式对每一内存颗粒单元进行精确定位，以获取错误内存颗粒单元的物理地址，具体包括：获取错误内存颗粒单元的线性地址；读取内存控制器的地址映射寄存器组；根据所述地址映射寄存器组的设置值，计算得出所述错误内存颗粒单元的Rank值，以得到所述错误内存颗粒单元的初步物理地址；根据所述初步物理地址中的Rank信息，得到所述错误内存颗粒单元的最终物理地址。本专利技术第二方面还提供一种内存颗粒多维测试装置，所述装置应用于待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行的测试场景中，所述装置包括：内存颗粒装载模块，用于在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；测试环境设置模块，用于将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；错误颗粒获取模块，用于基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。进一步的，所述测试环境设置模块，具体包括：地址映射模式设置单元，用于在BIOS的配置中设置地址映射模式为交错映射模式。进一步的，所述错误颗粒获取模块，具体包括：Rank同时访问单元，用于根据所述多Rank颗粒的物理地址，对每一Rank颗粒同时进行访问；Rank颗粒测试单元，用于在每一所述Rank颗粒中分别执行不同的测试算法，对所述Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试；错误颗粒获取单元，用于根据所述交错映射模式对每一内存颗粒单元进行精确定位，以获取错误内存颗粒单元的物理地址。进一步的，所述错误颗粒获取单元，具体包括：线性地址获取子单元，用于获取错误内存颗粒单元的线性地址；寄存器组的读取子单元，用于读取内存控制器的地址映射寄存器组；初步物理地址获取子单元，用于根据所述地址映射寄存器组的设置值，计算得出所述错误内存颗粒单元的Rank值，以得到所述错误内存颗粒单元的初步物理地址；最终物理地址获取子单元，用于根据所述初步物理地址中的Rank信息，得到所述错误内存颗粒单元的最终物理地址。本专利技术第三方面还提供一种内存颗粒多维测试系统，所述系统包括：测试控制模块以及如第一方面所述的内存颗粒多维测试装置，所述测试控制模块与所述内存颗粒多维测试装置通信连接；所述测试控制模块用于进行内存颗粒测试参数的配置、构建测试模型以及测试过程控制；所述内存颗粒多维测试装置用于对所述内存颗粒进行性能测试并获取错误内存颗粒单元的物理地址。本专利技术第四方面还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，执行如第一方面或第一方面中任意一种所述的内存颗粒多维测试方法。本专利技术第五方面还提供一种包含指令的计算机程序产品，当所述指令在计算机上运行时，使所述计算机执行如上第一方面或第一方面中任意一种所述的内存颗粒多维测试方法。本专利技术的有益效果为：通过在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；然后将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；最后基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。本专利技术能够将“有负载才失效"、"内存颗粒互相干扰"等由于多Rank颗粒组合形式引起的问题在产品SMT(SurfaceMountingTechnology，表面组装技术)前筛选出来，提高了内存颗粒电性能负载压力测试的能力，进而提高了内存颗粒测试的效能。附图说明图1是本专利技术实施例中应用的测试装置的结构示意图；图2是本专利技术实施例中一种内存颗粒多维测试方法的流程示意图；图3是本专利技术实施例中步骤S3的流程示意图；图4是本专利技术实施例中步骤S32一种实施方式的流程示意图；图5是本专利技术实施例中步骤S33的流程示意图；图6是本专利技术实施例中一种内存颗粒多维测试装置的结构示意图；图7是本专利技术实施例中一种内存颗粒多维测试系统的结构示意图。具体实施方式为使本说明书实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本说明书实施例中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内存颗粒多维测试方法，其特征在于，所述方法应用于待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行的测试场景中，所述方法包括：/n在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；/n将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；/n基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。/n

【技术特征摘要】
1.一种内存颗粒多维测试方法，其特征在于，所述方法应用于待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行的测试场景中，所述方法包括：
在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；
将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境；
基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址。


2.根据权利要求1所述的内存颗粒多维测试方法，其特征在于，所述将所述多Rank颗粒的测试环境设置为重负载模式下的测试环境，具体包括：
在BIOS的配置中设置地址映射模式为交错映射模式。


3.根据权利要求2所述的内存颗粒多维测试方法，其特征在于，所述基于算法对所述多Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试，并获取错误颗粒单元的物理地址，具体包括：
根据所述多Rank颗粒的物理地址，对每一Rank颗粒同时进行访问；
在每一所述Rank颗粒中分别执行不同的测试算法，对所述Rank颗粒进行ATE和/或SLT测试；
根据所述交错映射模式对每一内存颗粒单元进行精确定位，以获取错误内存颗粒单元的物理地址。


4.根据权利要求3所述的内存颗粒多维测试方法，其特征在于，所述根据所述交错映射模式对每一内存颗粒单元进行精确定位，以获取错误内存颗粒单元的物理地址，具体包括：
获取错误内存颗粒单元的线性地址；
读取内存控制器的地址映射寄存器组；
根据所述地址映射寄存器组的设置值，计算得出所述错误内存颗粒单元的Rank值，以得到所述错误内存颗粒单元的初步物理地址；
根据所述初步物理地址中的Rank信息，得到所述错误内存颗粒单元的最终物理地址。


5.一种内存颗粒多维测试装置，其特征在于，所述装置应用于待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行的测试场景中，所述装置包括：
内存颗粒装载模块，用于在测试板两面的内存颗粒插槽中同时装载多个待测试内存颗粒，以使所述多个待测试内存颗粒以多Rank颗粒组合形式运行；
测试环境设置模块，用于将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊生，王爱华，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44