内存全面测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种内存全面测试方法及装置，涉及内存测试技术领域。所述方法是通过对目标内存依次进行基础测试、体制指标测试以及可靠性测试，可以实现对目标内存进行全面无遗漏的测试目的，进而可保障测试结果的准确性，避免出现目标内存被误判为残次品的现象。此外，还可以对非残次品进行准确的质量等级划分，进一步保障测试结果的准确性，利于产品分级使用以及定价，便于实际应用和推广。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于内存测试，具体涉及一种内存全面测试方法及装置。

技术介绍

1、终端用户对电子产品的且诸如手机卡顿和电脑蓝屏等的质量问题已经习以为常，这已成为大众的“集体经历”。随着人工智能、网络金融、无人驾驶和医疗智能化等智算产业的兴起，“算力”是核心动力，而算力底层基础建设对“可靠性”有着极高的要求，所以内存的性能以及品质对计算机的影响至关重要。

2、虽然现有内存测试方案采用了分步测试手段来对内存质量进行测试，但是，其对于内存的测试并不全面，因此，急需一种对内存测试更加全面的技术方案。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种内存全面测试方法及装置，用以解决现有内存测试方案对于内存测试存在并不全面进而影响测试结果准确性的问题。

2、为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：

3、第一方面，提供了一种内存全面测试方法，包括：

4、利用预设的基础测试模板对目标内存进行基础测试，并根据得到的基础测试结果确定所述目标内存是否为非残次品；>

5、当根据所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种内存全面测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的内存全面测试方法，其特征在于，所述基础测试包括有外观检测、DC参数测试和/或AC参数测试，其中，所述DC参数测试包括有在某个直流电压范围下的开路测试、短路测试、电流功耗测试和/或电压参数测试，所述某个直流电压范围至少覆盖由JEDEC标准所定义的最大/最小电压值，所述AC参数测试包括有用于测量与时间相关的电性参数的测试，所述电性参数包含有频率、访问延迟时间、刷新时间和/或数据保持时间；

3.根据权利要求2所述的内存全面测试方法，其特征在于，当所述体制指标测试包括有信号完整性测试并且所述信号完整性测...

【技术特征摘要】

1.一种内存全面测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的内存全面测试方法，其特征在于，所述基础测试包括有外观检测、dc参数测试和/或ac参数测试，其中，所述dc参数测试包括有在某个直流电压范围下的开路测试、短路测试、电流功耗测试和/或电压参数测试，所述某个直流电压范围至少覆盖由jedec标准所定义的最大/最小电压值，所述ac参数测试包括有用于测量与时间相关的电性参数的测试，所述电性参数包含有频率、访问延迟时间、刷新时间和/或数据保持时间；

3.根据权利要求2所述的内存全面测试方法，其特征在于，当所述体制指标测试包括有信号完整性测试并且所述信号完整性测试包括有在施加环境波动因素条件下的第二rmt测试或在同时施加环境波动因素条件及自身波动因素条件下的第三rmt测试时，该测试包括：取随机地址和随机数据做数据与地址的输入输出i/o训练，并在每次获得一个数据线眼图后，将训练计时翻倍，然后再次做所述输入输出i/o训练，直到在连续两次训练所得的两个数据线眼图收敛到完全一致时为止。

4.根据权利要求1所述的内存全面测试方法，其特征在于，对所述运行参数进行数据分析，得到第一测试结果...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖俊生，张黎明，梁宵，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：