用于射频测试的夹持装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于射频测试的夹持装置，属于射频技术领域。本实用新型专利技术的用于射频测试的夹持装置包括第一转接板、第二转接板，两个射频座组、连接组件和探针，第二转接板上设有天线，两个射频座组包括第一射频座组和第二射频座组，第一射频座组安装在第一转接板上，第二射频座组安装在第二转接板上，连接组件的一端连接第一转接板，连接组件的另一端连接第二转接板，探针依次连接第一转接板、连接组件和第二转接板。这种用于射频测试的夹持装置可以直接获取到测试误差值，消除夹持装置在对待测件测试时造成的误差，提高了测试数据的准确性。

【技术实现步骤摘要】
用于射频测试的夹持装置
本技术涉及射频
，尤其涉及一种用于射频测试的夹持装置。
技术介绍
目前，在对微波器件或者天线进行射频测试时，常常会由于夹持装置带来的误差使得待测件的测试数据不准确，而夹持装置的误差无法测量，因此，如何提供一种能够测量测试误差值的夹持装置，以消除夹持装置造成的误差，提高测试数据的准确性，成为了亟待解决的问题。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种用于射频测试的夹持装置，能够方便地测量到测试误差值，消除夹持装置造成的误差，提高测试数据的准确性。根据本技术的第一方面实施例的用于射频测试的夹持装置，包括：第一转接板；第二转接板，所述第二转接板上设有天线；两个射频座组，包括第一射频座组和第二射频座组，所述第一射频座组安装在所述第一转接板上，所述第二射频座组安装在所述第二转接板上；连接组件，所述连接组件的一端连接所述第一转接板，所述连接组件的另一端连接所述第二转接板；探针，所述探针依次连接所述第一转接板、所述连接组件和所述第二转接板。根据本技术实施例的用于射频测试的夹持装置，至少具有如下有益效果：这种用于射频测试的夹持装置通过设置第一转接板、第二转接板，并且在两个转接板上分别设置第一射频座组和第二射频座组，第二转接板上设有天线，探针依次连接第一转接板、连接组件和第二转接板，通过夹持装置的探针和天线可以直接获取到测试误差值，消除夹持装置在对待测件测试时造成的误差，提高了测试数据的准确性。根据本技术的一些实施例，所述天线为V形。根据本技术的一些实施例，所述连接组件包括第一连接件，所述第一连接件上设有第一凹陷部，所述第一凹陷部用于容纳所述第二转接板。根据本技术的一些实施例，所述连接组件还包括第二连接件，所述第二连接件上设有第二凹陷部，所述第二凹陷部用于容纳所述第一转接板。根据本技术的一些实施例，所述连接组件还包括第三连接件，所述第三连接件分别连接所述第二连接件和所述第一转接板。根据本技术的一些实施例，所述第二连接件上还设有第三凹陷部，所述第三凹陷部用于容纳所述第三连接件。根据本技术的一些实施例，所述连接组件还包括第四连接件，所述第四连接件分别连接所述第一连接件和所述第二连接件。根据本技术的一些实施例，所述第三连接件上还设有凸起部。根据本技术的一些实施例，所述第一连接件、第三连接件和第四连接件上设有若干第一通孔，所述第二连接件上设有第二通孔，所述若干第一通孔和所述第二通孔用于所述探针依次连接所述第二转接板、所述第一连接件、所述第四连接件、所述第二连接件、所述第三连接件和所述第一转接板。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明，其中：图1为本技术实施例的用于射频测试的夹持装置的结构示意图；图2为图1中的用于射频测试的夹持装置的爆炸图；图3为图1中的第二转接板的结构示意图；图4为图1中的第一连接件的结构示意图；图5为图1中的第二连接件的结构示意图；图6为图1中的第三连接件的结构示意图；图7为图1中的第四连接件的结构示意图；图8为本技术实施例的测试方法流程图。附图标记：110、第一转接板；120、第二转接板；130、第一射频座组；140、第二射频座组；150、连接组件；160、探针；170、天线；210、第一连接件；220、第二连接件；230、第三连接件；240、第四连接件；410、第一通孔；420、第一凹陷部；430、第四凹陷部；510、第二凹陷部；520、第三凹陷部；530、第二通孔；610、凸起部。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，若干的含义是一个以上，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。本技术的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属
技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本技术中的具体含义。本技术的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。第一方面，参照图1，本技术实施例的用于射频测试的夹持装置包括第一转接板110、第二转接板120、两个射频座组、连接组件150和探针160，其中，第二转接板120上设有天线170，两个射频座组包括第一射频座组130和第二射频座组140，第一射频座组130安装在第一转接板110上，第二射频座组140安装在第二转接板120上，连接组件150的一端连接第一PCB板110，连接组件150的另一端连接第二转接板120，探针160依次连接第一转接板110、连接组件150和第二转接板120。夹持装置设置有第一转接板110、第二转接板120、连接组件150和探针160，第二转接板120的一侧面上设有天线170，第二转接板120的另一侧面上安装有第二射频座组140，第一转接板110的一侧面上安装有第一射频座组130，第一转接板110的另一侧面与连接组件150连接，探针160依次穿过第一转接板110、连接组件150和第二转接板120，需要说明的是，探针160和天线170的长度根据实际需求进行设定，例如，探针160和天线170的长度为现有的夹持装置的探针和天线长度的两倍。连接组件150为针模。第一射频座组130包括有两个射频座，两个射频座对称安装在第一转接板110上，第二射频座组140包括有两个射频座，两个射频座对称安装在第二转接板120上。由于目前对待测件进行射频测试时，现有的夹持装本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于射频测试的夹持装置，其特征在于，包括：/n第一转接板；/n第二转接板，所述第二转接板上设有天线；/n两个射频座组，包括第一射频座组和第二射频座组，所述第一射频座组安装在所述第一转接板上，所述第二射频座组安装在所述第二转接板上；/n连接组件，所述连接组件的一端连接所述第一转接板，所述连接组件的另一端连接所述第二转接板；/n探针，所述探针依次连接所述第一转接板、所述连接组件和所述第二转接板。/n

【技术特征摘要】
1.用于射频测试的夹持装置，其特征在于，包括：
第一转接板；
第二转接板，所述第二转接板上设有天线；
两个射频座组，包括第一射频座组和第二射频座组，所述第一射频座组安装在所述第一转接板上，所述第二射频座组安装在所述第二转接板上；
连接组件，所述连接组件的一端连接所述第一转接板，所述连接组件的另一端连接所述第二转接板；
探针，所述探针依次连接所述第一转接板、所述连接组件和所述第二转接板。


2.根据权利要求1所述的夹持装置，其特征在于，所述天线为V形。


3.根据权利要求1所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件包括第一连接件，所述第一连接件上设有第一凹陷部，所述第一凹陷部用于容纳所述第二转接板。


4.根据权利要求3所述的夹持装置，其特征在于，所述连接组件还包括第二连接件，所述第二连接件上设有第二凹陷部，所述第二凹陷部用于容纳所述第一转接板。

【专利技术属性】
技术研发人员：温子豪，陆小珊，
申请(专利权)人：深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44