测距方法、终端及存储介质技术

本申请实施例公开了一种测距方法、终端及存储介质，所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端，包括：在第一状态下通过TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据灰度图和/或第一相位数据判断是否存在干扰；其中，第一状态为关闭发射光源的状态；若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过TOF传感器基于抗干扰模式获取第一深度图；其中，抗干扰模式为第一状态和第二状态周期性切换的模式；第二状态为开启发射光源的状态；若第一深度图中存在异常像素点，则对异常像素点进行修复处理，获得第一深度图对应的修复后深度图；根据修复后深度图确定距离信息。

【技术实现步骤摘要】
测距方法、终端及存储介质
本专利技术涉及距离测量
，尤其涉及一种测距方法、终端及存储介质。
技术介绍
在飞行时间（TimeofFlight，TOF）相机的接收信号中，由于干扰的存在，会使TOF相机的距离测量精度受到影响。为了克服这一影响，目前使用差分输出像素结构的TOF传感器来进行环境光干扰的消除。然而，当干扰很强时，对测量精度的影响仍旧很明显，且由于其他设备发射的调制光信号的波长和调制周期相同或相近，因此并不能以消除这些周期性调制信号的干扰。可见，由于干扰信号的原因，目前的基于TOF技术的测距方案，存在准确性差、精度低的缺陷。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种测距方法、终端及存储介质，能够在最大程度上消除环境干扰对测距精度的影响，获得精度更高的深度图，进而可以提高测距处理的准确性和可靠性。本申请实施例的技术方案是这样实现的：第一方面，本申请实施例提供了一种测距方法，所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端，所述方法包括：在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰；其中，所述第一状态为关闭所述发射光源的状态；若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图；其中，所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式；所述第二状态为开启所述发射光源的状态；若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图；根据所述修复后深度图确定距离信息。第二方面，本申请实施例提供了一种终端，所述终端配置TOF传感器和发射光源，包括：采集单元，判断单元，开启单元，获取单元，修复单元，确定单元，所述采集单元，用于在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据；其中，所述第一状态为关闭所述发射光源的状态；所述判断单元，用于根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰；所述开启单元，用于若判定存在干扰，则开启抗干扰模式；其中，所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式；所述第二状态为开启所述发射光源的状态；所述获取单元，用于通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图；所述修复单元，用于若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图；所述确定单元，用于根据所述修复后深度图确定距离信息。第三方面，本申请实施例提供了一种终端，所述终端包括处理器、存储有所述处理器可执行指令的存储器、TOF传感器以及发射光源，当所述指令被所述处理器执行时，实现如第一方面所述的测距方法。第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，所述程序被处理器执行时，实现如第一方面所述的测距方法。本申请实施例提供了一种测距方法、终端及存储介质，在第一状态下通过TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据灰度图和/或第一相位数据判断是否存在干扰；其中，第一状态为关闭发射光源的状态；若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过TOF传感器基于抗干扰模式获取第一深度图；其中，抗干扰模式为第一状态和第二状态周期性切换的模式；第二状态为开启发射光源的状态；若第一深度图中存在异常像素点，则对异常像素点进行修复处理，获得第一深度图对应的修复后深度图；根据修复后深度图确定距离信息。由此可见，在本申请的实施例中，在开启抗干扰模式之后，终端可以对发射光源进行周期性开关控制，从而利用在发射光源工作时和关闭时所采集到的不同相位数据进行干扰消除处理，还可以进一步对消除干扰后的深度图进行异常像素点的修复处理，能够在最大程度上消除环境干扰对测距精度的影响，获得精度更高的深度图，进而可以提高测距处理的准确性和可靠性。附图说明图1为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图一；图2为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图二；图3为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图三；图4为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图四；图5为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图五；图6为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图六；图7为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图七；图8为本申请实施例提出的测距方法的实现流程示意图八；图9为本申请实施例提出的终端的组成结构示意图一；图10为本申请实施例提出的终端的组成结构示意图二。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释相关申请，而非对该申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与有关申请相关的部分。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，不是旨在限制本申请。在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。还需要指出，本申请实施例所涉及的术语“第一\第二\第三”仅是用于区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本申请实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。飞行时间（TimeofFlight，TOF）技术在广义上可理解为通过测量物体、粒子或波在固定介质中飞越一定距离所耗费时间（介质/距离/时间均为已知或可测量），从而进一步理解离子或媒介某些性质的技术。具体地，TOF技术主要利用TOF传感器发出经调制的近红外光，遇物体后反射，TOF传感器通过计算光线发射和反射时间差或相位差来换算被拍摄景物的距离，以产生深度信息，此外再结合传统的相机拍摄，就能将物体的三维轮廓以不同颜色代表不同距离的地形图方式呈现出来。在TOF相机的接收信号中，除了TOF相机自身发射光信号经过场景反射后的接收信号外，还包含一部分其他干扰信号，正是由于干扰的存在，会使TOF相机的距离测量精度受到影响。其中，这一部分其他干扰信号包括：环境干扰信号（例如太阳等自然环境光信号、其它设备的调制光信号等）、TOF相机发射信号在场景内多次反射的回波信号等。为了克服其他干扰信号对测距精度的影响，目前使用差分输出像素结构的TOF传感器来进行环境光干扰的消除。然而，一方面，对于使用差分输出像素结构的TOF传感器，由于难以控制信号的占空比在理想的50%，因此当环境光干扰很强时，对测量精度的影响仍旧很明显。另一方面，多个TOF相机同时使用，或环境中还有其他发射调制光的光电TOF传感器时，由于其他设备发射的调制光信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测距方法，其特征在于，所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端，所述方法包括：/n在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰；其中，所述第一状态为关闭所述发射光源的状态；/n若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图；其中，所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式；所述第二状态为开启所述发射光源的状态；/n若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图；/n根据所述修复后深度图确定距离信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种测距方法，其特征在于，所述方法应用于配置TOF传感器和发射光源的终端，所述方法包括：
在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，并根据所述灰度图和/或所述第一相位数据判断是否存在干扰；其中，所述第一状态为关闭所述发射光源的状态；
若判定存在干扰，则开启抗干扰模式，并通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图；其中，所述抗干扰模式为所述第一状态和第二状态周期性切换的模式；所述第二状态为开启所述发射光源的状态；
若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图；
根据所述修复后深度图确定距离信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在第一状态下通过所述TOF传感器采集灰度图和/或第一相位数据，包括：
在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照预设帧率采集所述灰度图；和/或；
在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照第一采集帧率采集所述第一相位数据。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度图判断是否存在干扰，包括：
计算所述灰度图对应的第一均值参数和第一波动参数；
根据所述第一均值参数和/或所述第一波动参数判断是否存在干扰。


4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一相位数据判断是否存在干扰，包括：
根据所述第一相位数据生成第一幅度图；
确定所述第一幅度图对应的第二均值参数和第二波动参数；
根据所述第二均值参数和/或所述第二波动参数判断是否存在干扰。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述TOF传感器基于所述抗干扰模式获取第一深度图，包括：
在所述第一状态下，控制所述TOF传感器按照第二采集帧率采集第二相位数据；
在所述第二状态下，控制所述TOF传感器按照所述第二采集帧率采集第三相位数据；
根据所述第二相位数据和所述第三相位数据生成所述第一深度图。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二相位数据和所述第三相位数据生成所述第一深度图，包括：
计算所述第三相位数据与所述第二相位数据之间的相位差值数据；
基于所述相位差值数据生成所述第一深度图像。


7.根据权利要求5或6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
基于所述抗干扰模式，通过所述TOF传感器采集至少两个调制频率对应的至少两个深度图；
对所述至少两个深度图进行融合处理，生成所述第一深度图。


8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的修复后深度图之前，所述方法还包括：
计算一帧第一深度图中的每一个像素点对应的深度值和强度参数；
根据所述每一个像素点对应的深度值和所述强度参数判断所述一帧第一深度图中是否存在所述异常像素点。


9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述第一深度图中存在异常像素点，则对所述异常像素点进行修复处理，获得所述第一深度图对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：莫苏苏，吴昊，刘德珩，王抒昂，
申请(专利权)人：武汉市聚芯微电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42