一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法制造方法及图纸

技术编号:29580751 阅读:41 留言:0更新日期:2021-08-06 19:37
本发明专利技术涉及待测试显示面板制造技术领域,具体涉及一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法,该探针滑块组件包括:支撑座;探针块,包括朝向待测试显示面板的引脚区的多个探针;连接架,一端与所述探针块相连接,另一端通过第一滑动组件与所述支撑座滑动连接,用于驱动所述探针块向多个所述探针与所述引脚区相对应的方向滑动。本申请将现有技术中的探针块设计为可滑动结构,若通过显微镜观察到当前探针块内多个探针未与引脚区相对应,此时,技术人员仅需驱动探针块向与引脚区相对应的方向滑动即可,直至探针块内多个探针与引脚区完全相对应,综上所述,采用本申请的设计可以有效缩短调整时长,提高调整精准度,提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法
本专利技术涉及待测试显示面板制造
,具体涉及一种探针滑块组件、探针单元、点灯装置以及控制方法。
技术介绍
显示面板测试(CellTest,简称CT)是在显示面板制造过程中,对已完成相互对盒的显示面板进行通电点亮,以对显示面板上存在的不良进行评判的测试过程。对显示面板进行测试的主要设备即是点灯装置。点灯装置通常包括外部信号发生器以及探针单元(ProbeUnit,简称PU),探针单元通常由多个探针块组成,其中,每一个探针块内包含多个探针,探针块在测试时需要与待测试显示面板上的引脚、或引脚图案的位置相对应,信号发生器发出的模拟真实的显示画面的信号通过探针输入待测试显示面板的对应的引脚区,以实现对面板的点灯测试。现有技术中,在使用点灯装置对待测试显示面板进行点灯测试前,为了保证每个探针块内多个探针能够与待测试面板之间精确对位,以使得每一个探针均与对应的引脚区相对位,就需要技术人员对其进行微调,此时,由于现有技术中探针单元中每个探针块均为固定连接,因此,无法对探针块内多个探针与引脚区的相对位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探针滑块组件,其特征在于,包括:/n支撑座;/n探针块,包括朝向待测试显示面板的引脚区的多个探针;/n以及连接架,一端与所述探针块相连接,另一端通过第一滑动组件与所述支撑座滑动连接,用于驱动所述探针块向多个所述探针与所述引脚区相对应的方向滑动。/n

【技术特征摘要】
1.一种探针滑块组件,其特征在于,包括:
支撑座;
探针块,包括朝向待测试显示面板的引脚区的多个探针;
以及连接架,一端与所述探针块相连接,另一端通过第一滑动组件与所述支撑座滑动连接,用于驱动所述探针块向多个所述探针与所述引脚区相对应的方向滑动。


2.根据权利要求1所述的探针滑块组件,其特征在于,所述第一滑动组件包括:相配合的第一连接件和第二连接件,所述第一连接件和第二连接件其中之一安装于所述连接架上,另一个安装于所述支撑座上。


3.根据权利要求2所述的探针滑块组件,其特征在于,所述第一连接件和第二连接件其中之一设置为与所述待测试显示面板相平行的滑轨,另一个设置为与所述滑轨配合的滑槽。


4.根据权利要求1所述的探针滑块组件,其特征在于,所述支撑座包括:垂直连接的支撑块和支撑板,所述支撑块远离所述支撑板的一端通过第一滑动组件与所述连接架滑动连接。


5.根据权利要求1所述的探针滑块组件,其特征在于,所述探针块与所述连接架之间通过升降机构进行连接,以使得所述探针块与所述引脚区相抵接或分离。


6.根据权利要求5所述的探针滑块组件,其特征在于,所述升降机构包括:相配合的拨动部和限位块,所述限位块一端与所述连接架相连接,另一端通过连接柱与所述探针块活动连接,所述连接柱远离所述探针块的一端穿过开设于所述限位块的通孔后,通过限位件与所述拨动部一端相卡接,以压动所述拨动部驱动所述探针块向与所述引脚区相抵接或分离的方向运动。


7.根据权利要求1所述的探针滑块组件,其特征在于,所述连接架上还安装有第二PCB板,所述第二PCB板的输出端与所述探针块通信连接。


8.一种探针单元,其特征在于,可拆卸安装于点灯装置的支撑框上,包括:
至少一个如权利要求1-7中任一项所述的探针滑块组件;
第一PCB板,用于与外部信号发生器通信连接,且其中一个输出端与至...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴怀亮陈曦于洋程文进付火应姚华忠谢宗添
申请(专利权)人:福州京东方光电科技有限公司京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:福建;35

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