【技术实现步骤摘要】
电感器结构及形成其的方法
本专利技术实施例涉及一种电感器结构及形成其的方法。
技术介绍
集成电路(integratedcircuit,IC)是位于半导体材料的片段上的电子组件的总成。集成电路中广泛使用的电子组件是电感器。电感器是无源元件,当电流流经电感器时,所述无源元件在磁场中存储电能。电感器是多功能装置,除此之外,所述电感器可用于电阻器-电感器(resistor-inductor,RL)滤波器、电感器-电容器(inductor-capacitor,LC)电路、电阻器-电感器-电容器(resistor-inductor-capacitor,RLC)电路、电源、变压器以及许多其他电路组件。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种电感器结构包括:刻蚀停止层,布置在内连结构之上,所述内连结构上覆在衬底上;磁性结构,包括布置在所述刻蚀停止层之上的多个堆叠层,所述磁性结构包括比最顶层宽的最底层;第一导电配线与第二导电配线,在所述磁性结构之上平行地延伸,其中所述磁性结构被配置成修改由所述第一导电配线及所述第二导电配线产生的磁场;以及图案增强层,布置在所述磁性结构的所述最底层与所述刻蚀停止层之间,其中所述图案增强层具有第一厚度,且其中所述磁性结构的所述最底层具有小于所述第一厚度的第二厚度。本专利技术实施例提供一种电感器结构包括:内连结构,设置在半导体衬底之上;第一刻蚀停止层,布置在所述内连结构之上;第一磁性结构,布置在所述第一刻蚀停止层之上,所述第一磁性结构包括位于最下钽层与最顶氧钴锌钽层之间的钴锌钽层 ...
【技术保护点】
1.一种电感器结构,包括:/n刻蚀停止层,布置在内连结构之上,所述内连结构上覆在衬底上;/n磁性结构,包括布置在所述刻蚀停止层之上的多个堆叠层,所述磁性结构包括比最顶层宽的最底层;/n第一导电配线与第二导电配线,在所述磁性结构之上平行地延伸,其中所述磁性结构被配置成修改由所述第一导电配线及所述第二导电配线产生的磁场;以及/n图案增强层,布置在所述磁性结构的所述最底层与所述刻蚀停止层之间,其中所述图案增强层具有第一厚度,且其中所述磁性结构的所述最底层具有小于所述第一厚度的第二厚度。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
20200527 US 16/884,3191.一种电感器结构,包括:
刻蚀停止层,布置在内连结构之上,所述内连结构上覆在衬底上;
磁性结构,包括布置在所述刻蚀停止层之上的多个堆叠层,所述磁性结构包括比最顶层宽的最底层;
第一导电配线与第二导电配线,在所述磁性结构之上平行地延伸,其中所述磁性结构被配置成修改由所述第一导电配线及所述第二导电配线产生的磁场;以及
图案增强层,布置在所述磁性结构的所述最底层与所述刻蚀停止层之间,其中所述图案增强层具有第一厚度,且其中所述磁性结构的所述最底层具有小于所述第一厚度的第二厚度。
2.根据权利要求1所述的电感器结构,其中所述图案增强层具有包含少于10%的氧的组成。
3.根据权利要求1所述的电感器结构,其中所述图案增强层包含以下中的一者或多者:钽、氮化硅、钛、钨、镍、锆、硅锗、锡、铌、钒或铟锑。
4.根据权利要求1所述的电感器结构,其中所述磁性结构的所述最顶层包含氧钴锌钽,且其中所述图案增强层的刻蚀速率快于所述磁性结构的所述最顶层。
5.一种电感器结构,包括:
内连结构,设置在半导体衬底之上;
第一刻蚀停止层,布置在所述内连结构之上;
第一磁性结构,布置在所述第一刻蚀停止层之上,所述第一磁性结构包括位于最下钽层与最顶氧钴锌钽层之间的钴锌钽层;
一条或多条导电配线,设置在所述第一磁性结构之上且界定电感器;以及
图案增强层,布置在所述最下钽层与所述第一刻蚀停止层之间。
6.根据权利要求5所述的电感器结构,其中所述图案增强层在暴露到湿刻蚀剂时具有第一刻蚀速率,其中所述最顶氧钴锌钽层在暴露到所述湿刻蚀剂时具有第二刻蚀速率,且其中所述第一刻蚀速率大于所述第二刻蚀速率。
技术研发人员:徐鸿文,黄柏翰,黄伟立,
申请(专利权)人:台湾积体电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:中国台湾;71
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